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  • 氮化鎵輪廓儀有哪些應(yīng)用
    氮化鎵輪廓儀有哪些應(yīng)用

    輪廓儀對所測樣品的尺寸有何要求? 答:輪廓儀對載物臺(tái)xy行程為140*110mm(可擴(kuò)展),Z向測量范圍比較大可達(dá)10mm,但由于白光干涉儀單次測量區(qū)域比較?。ㄒ?0X鏡頭為例,在1mm左右),因而在測量大尺寸的樣品時(shí),全檢的方式需要進(jìn)行拼接測量,檢測效率會(huì)比較低,建議尋找樣品表 面的特征位置或抽取若干區(qū)域進(jìn)行抽點(diǎn)檢測,以單點(diǎn)或多點(diǎn)反映整個(gè)面的粗糙度參數(shù); 4.測量的**小尺寸是否可以達(dá)到12mm,或者能夠測到更小的尺寸? 如果需要了解更多,請?jiān)L問官網(wǎng)。 自動(dòng)聚焦范圍 : ± 0.3mm。氮化鎵輪廓儀有哪些應(yīng)用 滿足您需求的輪廓儀 使用范圍廣: 兼容多種...

  • 聯(lián)電輪廓儀美元報(bào)價(jià)
    聯(lián)電輪廓儀美元報(bào)價(jià)

    NanoX-系列產(chǎn)品PCB測量應(yīng)用測試案例 測量種類 ? 基板A Sold Mask 3D形貌、尺寸 ? 基板A Sold Mask粗糙度 ? 基板A 綠油區(qū)域3D 形貌 ? 基板A 綠油區(qū)域 Pad 粗糙度 ? 基板A 綠油區(qū)域粗糙度 ? 基板A 綠油區(qū)域 pad寬度 ? 基板A Trace 3D形貌和尺寸 ? 基板B 背面 Pad NanoX-8000 系統(tǒng)主要性能 ? 菜單式系統(tǒng)設(shè)置,一鍵式操作,自動(dòng)數(shù)據(jù)存儲(chǔ) ? 一鍵式系統(tǒng)校準(zhǔn) ...

  • 材料表面輪廓儀自動(dòng)化測量
    材料表面輪廓儀自動(dòng)化測量

    輪廓儀的技術(shù)原理 被測表面(光)與參考面(光)之間的光程差(高度差)形成干涉 移相法(PSI) 高度和干涉相位 f = (2p/l ) 2 h 形貌高度: < 120nm 精度: < 1nm RMS重復(fù)性: 0.01nm 垂直掃描法 (VSI+CSI) 精度: ?/1000 干涉信號~光程差位置 形貌高度: nm-mm, 精度: >2nm 干涉測量技術(shù):快速靈活、超納米精度、測量精度不受物鏡倍率影響 以下來自網(wǎng)絡(luò): 輪廓儀,能描繪工件表面波度與粗糙度,并給出其數(shù)值的儀器,采用精密氣浮導(dǎo)軌為...

  • 晶片輪廓儀
    晶片輪廓儀

    NanoX-8000 系統(tǒng)主要性能 ? 菜單式系統(tǒng)設(shè)置,一鍵式操作,自動(dòng)數(shù)據(jù)存儲(chǔ) ? 一鍵式系統(tǒng)校準(zhǔn) ? 支持連接MES系統(tǒng),數(shù)據(jù)可導(dǎo)入SPC ? 具備異常報(bào)警,急停等功能,報(bào)警信息可儲(chǔ)存 ? MTBF ≥ 1500 hrs ? 產(chǎn)能 : 45s/點(diǎn) (移動(dòng) + 聚焦 + 測量)(掃描范圍 50um) ? 具備 Global alignment & Unit alignment ? 自動(dòng)聚焦范圍 : ± 0.3mm ? XY運(yùn)動(dòng)速度 **快 如果需要了解更多詳細(xì)參數(shù),請聯(lián)系我們岱美儀器技術(shù)服務(wù)有限公司。 我們主要...

  • 高校輪廓儀原理
    高校輪廓儀原理

    隨著時(shí)代的發(fā)展,輪廓儀也越來重要了,不少的產(chǎn)品檢測都需要通過輪廓儀進(jìn)行檢測,***就讓我們來了解一下輪廓儀的工作原理與應(yīng)用吧。輪廓儀工作原理輪廓儀是一種雙坐標(biāo)測量儀器。儀器傳感器相對于測量的工件臺(tái)以恒定速度滑動(dòng)。傳感器的觸針檢測測量儀表的幾何變化,并分別在X和Z方向上對其進(jìn)行采樣,并將其轉(zhuǎn)換為電信號。電信號被放大和處理,然后轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號并存儲(chǔ)在計(jì)算機(jī)系統(tǒng)的存儲(chǔ)器中。計(jì)算機(jī)以數(shù)字方式過濾原始表格的輪廓,分離表面并計(jì)算粗糙度分量,測量結(jié)果為計(jì)算符號。某個(gè)曲線的實(shí)際值及其與參考點(diǎn)的坐標(biāo),或放大的實(shí)際輪廓曲線。測量結(jié)果通過顯示器輸出,也可以由打印機(jī)輸出。輪廓儀應(yīng)用輪廓儀***用于機(jī)械加工、汽...

  • 粗糙度儀輪廓儀其他高精密儀器
    粗糙度儀輪廓儀其他高精密儀器

    輪廓儀的培訓(xùn) 一、 培訓(xùn)承諾 系統(tǒng)建成后,我公司將為業(yè)主提供為期1天的**培訓(xùn)和技術(shù)資詢;培訓(xùn)地點(diǎn)可以在我公司,亦或在工程現(xiàn)場; 系統(tǒng)操作及管理人員的培訓(xùn)人數(shù)為10人,由業(yè)主指定,我公司將確保相關(guān)人員正確使用該系統(tǒng); 1.1. 培訓(xùn)對象 系統(tǒng)操作及管理人員(培訓(xùn)對象須具有專業(yè)技術(shù)的技術(shù)人員或?qū)嶋H值班操作人員); 其他業(yè)主指定的相關(guān)人員。 1.2. 培訓(xùn)內(nèi)容 系統(tǒng)操作使用說明書。 培訓(xùn)課程的主要內(nèi)容是系統(tǒng)的操作、系統(tǒng)的相關(guān)參數(shù)設(shè)定和修改和系統(tǒng)的維修與保養(yǎng)與簡單升級等,具體內(nèi)容...

  • 中科院輪廓儀美元報(bào)價(jià)
    中科院輪廓儀美元報(bào)價(jià)

    一、從根源保障物件成品的準(zhǔn)確性: 通過光學(xué)表面三維輪廓儀的掃描檢測,得出物件的誤差和超差參數(shù),**提高物件在生產(chǎn)加工時(shí)的精確度。杜絕因上游的微小誤差形成“蝴蝶效應(yīng)”,造成下游生產(chǎn)加工的更大偏離,**終導(dǎo)致整個(gè)生產(chǎn)鏈更大的損失。 二、提高效率: 智能化檢測,全自動(dòng)測量,檢測時(shí)只需將物件放置在載物臺(tái),然后在檢定軟件上選擇相關(guān)參數(shù),即可一鍵分析批量測量。擯棄傳統(tǒng)檢測方法耗時(shí)耗力,精確度低的缺點(diǎn),**提高加工效率。 光學(xué)系統(tǒng):同軸照明無限遠(yuǎn)干涉成像系統(tǒng)。中科院輪廓儀美元報(bào)價(jià) 輪廓儀是用容易理解的機(jī)械技術(shù)測量薄膜厚度。它的工作原理是測量測量劃過薄膜的檢測筆的高度(見右圖)。...

  • CSI輪廓儀推薦型號
    CSI輪廓儀推薦型號

    一、從根源保障物件成品的準(zhǔn)確性: 通過光學(xué)表面三維輪廓儀的掃描檢測,得出物件的誤差和超差參數(shù),**提高物件在生產(chǎn)加工時(shí)的精確度。杜絕因上游的微小誤差形成“蝴蝶效應(yīng)”,造成下游生產(chǎn)加工的更大偏離,**終導(dǎo)致整個(gè)生產(chǎn)鏈更大的損失。 二、提高效率: 智能化檢測,全自動(dòng)測量,檢測時(shí)只需將物件放置在載物臺(tái),然后在檢定軟件上選擇相關(guān)參數(shù),即可一鍵分析批量測量。擯棄傳統(tǒng)檢測方法耗時(shí)耗力,精確度低的缺點(diǎn),**提高加工效率。 NanoX-8000 Z 軸聚焦:100mm行程自動(dòng)聚焦,0.1um移動(dòng)步進(jìn)。CSI輪廓儀推薦型號 輪廓儀的功能: 廓測量儀能夠?qū)Ω鞣N工件輪廓進(jìn)行長度、高度...

  • 晶片輪廓儀參數(shù)
    晶片輪廓儀參數(shù)

    NanoX-8000 系統(tǒng)主要性能 ? 菜單式系統(tǒng)設(shè)置,一鍵式操作,自動(dòng)數(shù)據(jù)存儲(chǔ) ? 一鍵式系統(tǒng)校準(zhǔn) ? 支持連接MES系統(tǒng),數(shù)據(jù)可導(dǎo)入SPC ? 具備異常報(bào)警,急停等功能,報(bào)警信息可儲(chǔ)存 ? MTBF ≥ 1500 hrs ? 產(chǎn)能 : 45s/點(diǎn) (移動(dòng) + 聚焦 + 測量)(掃描范圍 50um) ? 具備 Global alignment & Unit alignment ? 自動(dòng)聚焦范圍 : ± 0.3mm ? XY運(yùn)動(dòng)速度 **快 表面三維微觀形貌測量的意義 在生產(chǎn)中,表面三維微觀形貌對工程零件的許多...

  • 粗糙度輪廓儀技術(shù)服務(wù)
    粗糙度輪廓儀技術(shù)服務(wù)

    1)白光輪廓儀的典型應(yīng)用: 對各種產(chǎn)品,不見和材料表面的平面度,粗糙度,波溫度,面型輪廓,表面缺 陷,磨損情況,腐蝕情況,孔隙間隙,臺(tái)階高度,完全變形情況,加工情況等表面形貌特征進(jìn)行測量和分析。 2)共聚焦顯微鏡方法 共聚焦顯微鏡包括LED光源、旋轉(zhuǎn)多***盤、帶有壓電驅(qū)動(dòng)器的物鏡和CCD相機(jī)。LED光源通過多***盤(MPD)和物鏡聚焦到樣品表面上,從而反射光。反射光通過MPD的***減小到聚焦的部分落在CCD相機(jī)上。傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡的圖像包含清晰和模糊的細(xì)節(jié),但是在共焦圖像中,通過多***盤的操作濾除模糊細(xì)節(jié)(未聚焦),只有來自聚焦平面的光到達(dá)CCD相機(jī)。因此,共...

  • 福建輪廓儀一級代理
    福建輪廓儀一級代理

    比較橢圓偏振儀和光譜反射儀光譜橢圓偏振儀(SE)和光譜反射儀(SR)都是利用分析反射光確定電介質(zhì),半導(dǎo)體,和金屬薄膜的厚度和折射率。兩者的主要區(qū)別在于橢偏儀測量小角度從薄膜反射的光,而光譜反射儀測量從薄膜垂直反射的光。獲取反射光譜指南入射光角度的不同造成兩種技術(shù)在成本,復(fù)雜度,和測量能力上的不同。由于橢偏儀的光從一個(gè)角度入射,所以一定要分析反射光的偏振和強(qiáng)度,使得橢偏儀對超薄和復(fù)雜的薄膜堆有較強(qiáng)的測量能力。然而,偏振分析意味著需要昂貴的精密移動(dòng)光學(xué)儀器。光譜反射儀測量的是垂直光,它忽略偏振效應(yīng)(絕大多數(shù)薄膜都是旋轉(zhuǎn)對稱)。因?yàn)椴簧婕叭魏我苿?dòng)設(shè)備,光譜反射儀成為簡單低成本的儀器。光譜反射...

  • 表面輪廓儀技術(shù)原理
    表面輪廓儀技術(shù)原理

    比較橢圓偏振儀和光譜反射儀光譜橢圓偏振儀(SE)和光譜反射儀(SR)都是利用分析反射光確定電介質(zhì),半導(dǎo)體,和金屬薄膜的厚度和折射率。兩者的主要區(qū)別在于橢偏儀測量小角度從薄膜反射的光,而光譜反射儀測量從薄膜垂直反射的光。獲取反射光譜指南入射光角度的不同造成兩種技術(shù)在成本,復(fù)雜度,和測量能力上的不同。由于橢偏儀的光從一個(gè)角度入射,所以一定要分析反射光的偏振和強(qiáng)度,使得橢偏儀對超薄和復(fù)雜的薄膜堆有較強(qiáng)的測量能力。然而,偏振分析意味著需要昂貴的精密移動(dòng)光學(xué)儀器。光譜反射儀測量的是垂直光,它忽略偏振效應(yīng)(絕大多數(shù)薄膜都是旋轉(zhuǎn)對稱)。因?yàn)椴簧婕叭魏我苿?dòng)設(shè)備,光譜反射儀成為簡單低成本的儀器。光譜反射...

  • 芯片輪廓儀輪廓測量應(yīng)用
    芯片輪廓儀輪廓測量應(yīng)用

    NanoX-系列產(chǎn)品PCB測量應(yīng)用測試案例 測量種類 ? 基板A Sold Mask 3D形貌、尺寸 ? 基板A Sold Mask粗糙度 ? 基板A 綠油區(qū)域3D 形貌 ? 基板A 綠油區(qū)域 Pad 粗糙度 ? 基板A 綠油區(qū)域粗糙度 ? 基板A 綠油區(qū)域 pad寬度 ? 基板A Trace 3D形貌和尺寸 ? 基板B 背面 Pad NanoX-8000 系統(tǒng)主要性能 ? 菜單式系統(tǒng)設(shè)置,一鍵式操作,自動(dòng)數(shù)據(jù)存儲(chǔ) ? 一鍵式系統(tǒng)校準(zhǔn) ...

  • 材料表面輪廓儀技術(shù)原理
    材料表面輪廓儀技術(shù)原理

    輪廓儀的物鏡知多少? 白光干涉輪廓儀是基于白光干涉原理,以三維非接觸時(shí)方法測量分析樣片表面形貌的關(guān)鍵參數(shù)和尺寸,典型結(jié)果包括: 表面形貌(粗糙度,平面度,平行度,臺(tái)階高度,錐角等) 幾何特征(關(guān)鍵孔徑尺寸,曲率半徑,特征區(qū)域的面積和集體,特征圖形的位置和數(shù)量等) 白光干涉系統(tǒng)基于無限遠(yuǎn)顯微鏡系統(tǒng),通過干涉物鏡產(chǎn)生干涉條紋,使基本的光學(xué)顯微鏡系統(tǒng)變?yōu)榘坠飧缮鎯x。 因此物鏡是輪廓儀****的部件, 物鏡的選擇根據(jù)功能和檢測的精度提出需求,為了滿足各種精度的需求,需要提供各種物鏡,例如標(biāo)配的10×, 還有2.5×,5×,20×,50×,...

  • PSI輪廓儀國內(nèi)用戶
    PSI輪廓儀國內(nèi)用戶

    NanoX-2000/3000 系列 3D 光學(xué)干涉輪廓儀建立在移相干涉測量(PSI)、白光垂直掃描干涉測量(VSI)和單色光 垂直掃描干涉測量(CSI)等技術(shù)的基礎(chǔ)上,以其納米級測量準(zhǔn)確度和重復(fù)性(穩(wěn)定性)定量地反映出被測件的表面粗 糙度、表面輪廓、臺(tái)階高度、關(guān)鍵部位的尺寸及其形貌特征等。廣泛應(yīng)用于集成電路制造、MEMS、航空航天、精密加 工、表面工程技術(shù)、材料、太陽能電池技術(shù)等領(lǐng)域。 使用范圍廣: 兼容多種測量和觀察需求 保護(hù)性: 非接觸式光學(xué)輪廓儀 耐用性更強(qiáng), 使用無損 可操作性:一鍵式操作,操作...

  • 四川輪廓儀研發(fā)可以用嗎
    四川輪廓儀研發(fā)可以用嗎

    輪廓儀在晶圓的IC封裝中的應(yīng)用: 晶圓的IC制造過程可簡單看作是將光罩上的電路圖通過UV刻蝕到鍍膜和感光層后的硅晶圓上這一過程,其中由于光罩中電路結(jié)構(gòu)尺寸極小,任何微小的黏附異物和下次均會(huì)導(dǎo)致制造的晶圓IC表面存在缺 陷,因此必須對光罩和晶圓的表面輪廓進(jìn)行檢測,檢測相應(yīng)的輪廓尺寸。 白光輪廓儀的典型應(yīng)用: 對各種產(chǎn)品,不見和材料表面的平面度,粗糙度,波溫度,面型輪廓,表面缺 陷,磨損情況,腐蝕情況,孔隙間隙,臺(tái)階高度,完全變形情況,加工情況等表面形貌特征進(jìn)行測量和分析。 自動(dòng)聚焦范圍 : ± 0.3mm。四川輪廓儀研發(fā)可以用嗎 白光干涉輪廓儀對比...

  • 超納輪廓儀當(dāng)?shù)貎r(jià)格
    超納輪廓儀當(dāng)?shù)貎r(jià)格

    滿足您需求的輪廓儀 使用范圍廣: 兼容多種測量和觀察需求 保護(hù)性: 非接觸式光學(xué)輪廓儀 耐用性更強(qiáng), 使用無損 可操作性:一鍵式操作,操作更簡單,更方便 智能性:特殊形狀能夠只能計(jì)算特征參數(shù) 個(gè)性化: 定制化客戶報(bào)告模式 更好用戶體驗(yàn): 迅捷的售后服務(wù),個(gè)性化應(yīng)用軟件支持 1.精度高,壽命長---采用超高精度氣浮導(dǎo)軌作為直線測量基準(zhǔn),具有穩(wěn)定性好、承載大、**磨損等優(yōu)點(diǎn),達(dá)到國內(nèi)同類產(chǎn)品較高精度。 2.高精度光柵尺及進(jìn)口采集卡---保證數(shù)據(jù)采樣分辨率,準(zhǔn)確度高,穩(wěn)定性好。(網(wǎng)絡(luò)) 在結(jié)構(gòu)上,輪廓儀基本上都是臺(tái)式的...

  • 實(shí)驗(yàn)室輪廓儀出廠價(jià)
    實(shí)驗(yàn)室輪廓儀出廠價(jià)

    輪廓儀對精密加工的意義 現(xiàn)代化高新技術(shù)的飛速發(fā)展離不開硬件設(shè)施和軟件系統(tǒng)的配套支持,在精密加工領(lǐng)域同樣如此,雖然我們在生活中不曾注意到超精密加工產(chǎn)品的“身影”,但是它卻與我們的生活息息相關(guān)。例如在光學(xué)玻璃、集成電路、汽車零部件、機(jī)器人**器件、航空航天材料、****設(shè)備等領(lǐng)域,都需要對加工的成品進(jìn)行檢測,從物體表面光滑到粗糙的參數(shù),其中包含了從納米到微米級別的輪廓、線粗糙度、面粗糙度等二維、三維參數(shù),作為評定該物件是否合格的標(biāo)準(zhǔn)。因此光學(xué)輪廓儀應(yīng)運(yùn)而生,以下是表面三維輪廓儀對精密加工的作用: 包含了從納米到微米級別的輪廓、線粗糙度、面粗糙度等二維、三維參數(shù),作為評定該物件是否合格的標(biāo)...

  • PSI輪廓儀
    PSI輪廓儀

    NanoX-2000/3000 系列 3D 光學(xué)干涉輪廓儀建立在移相干涉測量(PSI)、白光垂直掃描干涉測量(VSI)和單色光 垂直掃描干涉測量(CSI)等技術(shù)的基礎(chǔ)上,以其納米級測量準(zhǔn)確度和重復(fù)性(穩(wěn)定性)定量地反映出被測件的表面粗 糙度、表面輪廓、臺(tái)階高度、關(guān)鍵部位的尺寸及其形貌特征等。廣泛應(yīng)用于集成電路制造、MEMS、航空航天、精密加 工、表面工程技術(shù)、材料、太陽能電池技術(shù)等領(lǐng)域。 使用范圍廣: 兼容多種測量和觀察需求 保護(hù)性: 非接觸式光學(xué)輪廓儀 耐用性更強(qiáng), 使用無損 可操作性:一鍵式操作,操作...

  • 福建輪廓儀出廠價(jià)
    福建輪廓儀出廠價(jià)

    表面三維微觀形貌測量的意義 在生產(chǎn)中,表面三維微觀形貌對工程零件的許多技術(shù)性能的評家具有**直接的影響,而且表面三維評定參數(shù)由于能更***,更真實(shí)的反應(yīng)零件表面的特征及衡量表面的質(zhì)量而越來越受到重視,因此表面三維微觀形貌的測量就越顯重要。通過兌三維形貌的測量可以比較***的評定表面質(zhì)量的優(yōu)劣,進(jìn)而確認(rèn)加工方法的好壞以及設(shè)計(jì)要求的合理性,這樣就可以反過來通過知道加工,優(yōu)化加工工藝以及加工出高質(zhì)量的表面,確保零件使用功能的實(shí)現(xiàn)。 表面三位微觀形貌的此類昂方法非常豐富,通??煞譃榻佑|時(shí)和非接觸時(shí)兩種,其中以非接觸式測量方法為主。 200到400個(gè)共焦圖像通常在幾秒內(nèi)被捕獲,...

  • 光電輪廓儀競爭力怎么樣
    光電輪廓儀競爭力怎么樣

    NanoX-系列輪廓儀**性客戶 ? 集成電路相關(guān)產(chǎn)業(yè) – 集成電路先進(jìn)封裝和材料:華天科技,通富微電子,江蘇納佩斯 半導(dǎo)體,華潤安盛等 ? MEMS相關(guān)產(chǎn)業(yè) – 中科院蘇州納米所,中科電子46所,華東光電集成器件等 ? 高 效太陽能電池相關(guān)產(chǎn)業(yè) – 常州億晶光電,中國臺(tái)灣速位科技、山東衡力新能源等 ? 微電子、FPD、PCB等產(chǎn)業(yè) – 三星電機(jī)、京東方、深圳夏瑞科技等 具備 Global alignment & Unit alignment 自動(dòng)聚焦范圍 : ± 0.3mm XY運(yùn)動(dòng)速度 **快 ...

  • 臺(tái)式輪廓儀試用
    臺(tái)式輪廓儀試用

    比較橢圓偏振儀和光譜反射儀光譜橢圓偏振儀(SE)和光譜反射儀(SR)都是利用分析反射光確定電介質(zhì),半導(dǎo)體,和金屬薄膜的厚度和折射率。兩者的主要區(qū)別在于橢偏儀測量小角度從薄膜反射的光,而光譜反射儀測量從薄膜垂直反射的光。獲取反射光譜指南入射光角度的不同造成兩種技術(shù)在成本,復(fù)雜度,和測量能力上的不同。由于橢偏儀的光從一個(gè)角度入射,所以一定要分析反射光的偏振和強(qiáng)度,使得橢偏儀對超薄和復(fù)雜的薄膜堆有較強(qiáng)的測量能力。然而,偏振分析意味著需要昂貴的精密移動(dòng)光學(xué)儀器。光譜反射儀測量的是垂直光,它忽略偏振效應(yīng)(絕大多數(shù)薄膜都是旋轉(zhuǎn)對稱)。因?yàn)椴簧婕叭魏我苿?dòng)設(shè)備,光譜反射儀成為簡單低成本的儀器。光譜反射...

  • 中科院輪廓儀摩擦學(xué)應(yīng)用
    中科院輪廓儀摩擦學(xué)應(yīng)用

    輪廓儀是用容易理解的機(jī)械技術(shù)測量薄膜厚度。它的工作原理是測量測量劃過薄膜的檢測筆的高度(見右圖)。輪廓儀的主要優(yōu)點(diǎn)是可以測量所有固體膜,包括不透明的厚金屬膜。更昂貴的系統(tǒng)能測繪整個(gè)表面輪廓。(有關(guān)我們的低成本光學(xué)輪廓儀的資訊,請點(diǎn)擊這里).獲取反射光譜指南然而輪廓儀也有不足之處。首先,樣本上必須有個(gè)小坎才能測量薄膜厚度,而小坎通常無法很標(biāo)準(zhǔn)(見圖)。這樣,標(biāo)定誤差加上機(jī)械漂移造成5%-10%的測量誤差。與此相比,光譜反射儀使用非接觸技術(shù),不需要任何樣本準(zhǔn)備就可以測量厚度。只需一秒鐘分析從薄膜反射的光就可確定薄膜厚度和折射率。光譜反射儀還可以測量多層薄膜。輪廓儀和光譜反射儀的主要優(yōu)點(diǎn)列表...

  • 日本輪廓儀有哪些應(yīng)用
    日本輪廓儀有哪些應(yīng)用

    filmOnline查film3D圖像並與其互動(dòng).請參考我們新型光學(xué)輪廓儀!film3D使得光學(xué)輪廓測量更易負(fù)擔(dān)***,表面粗糙度和表面形貌測量可以用比探針式輪廓儀成本更低的儀器來進(jìn)行。film3D具有3倍於于其成本儀器的次納米級垂直分辨率,film3D同樣使用了現(xiàn)今比較高 分辨率之光學(xué)輪廓儀的測量技術(shù)包含白光干涉(WSI)及相移干涉(PSI)。索取技術(shù)資料索取報(bào)價(jià)這就是您需要的解析力Thefilm3D的直觀軟件包括表面粗糙度,形狀和臺(tái)階高度的測量。在數(shù)秒內(nèi),您可以獲得平面和曲面表面上測量所有常見的粗糙度參數(shù)。也可以選擇拼接功能軟件升級來組合多個(gè)影像以提供大面積測量。***!**的網(wǎng)路...

  • 晶圓片輪廓儀聯(lián)系電話
    晶圓片輪廓儀聯(lián)系電話

    輪廓儀的物鏡知多少? 白光干涉輪廓儀是基于白光干涉原理,以三維非接觸時(shí)方法測量分析樣片表面形貌的關(guān)鍵參數(shù)和尺寸,典型結(jié)果包括: 表面形貌(粗糙度,平面度,平行度,臺(tái)階高度,錐角等) 幾何特征(關(guān)鍵孔徑尺寸,曲率半徑,特征區(qū)域的面積和集體,特征圖形的位置和數(shù)量等) 白光干涉系統(tǒng)基于無限遠(yuǎn)顯微鏡系統(tǒng),通過干涉物鏡產(chǎn)生干涉條紋,使基本的光學(xué)顯微鏡系統(tǒng)變?yōu)榘坠飧缮鎯x。 因此物鏡是輪廓儀****的部件, 物鏡的選擇根據(jù)功能和檢測的精度提出需求,為了滿足各種精度的需求,需要提供各種物鏡,例如標(biāo)配的10×, 還有2.5×,5×,20×,50×,100×,可選。 ...

  • 日本輪廓儀推薦廠家
    日本輪廓儀推薦廠家

    白光干涉輪廓儀對比激光共聚焦輪廓儀 白光干涉3D顯微鏡: 干涉面成像, 多層垂直掃描 比較好高度測量精度:< 1nm 高度精度不受物鏡影響 性價(jià)比好 激光共聚焦3D顯微鏡: 點(diǎn)掃描合成面成像, 多層垂直掃描 Keyence(日本) 比較好高度測量精度:~10nm 高度精度由物鏡決定,1um精度@10倍 90萬-130萬 三維光學(xué)輪廓儀采用白光軸向色差原理(性能優(yōu)于白光干涉輪廓儀與激光干涉輪廓儀)對樣品表面進(jìn)行快速、重復(fù)性高、高 分辨率的三維測量,測量范圍可從納米級粗糙度到毫米級的表面形貌,臺(tái)...

  • 材料表面輪廓儀優(yōu)惠價(jià)格
    材料表面輪廓儀優(yōu)惠價(jià)格

    輪廓儀產(chǎn)品概述: NanoX-2000/3000 系列 3D 光學(xué)干涉輪廓儀建立在移相干涉測量(PSI)、白光垂直掃描干涉測量(VSI)和單色光 垂直掃描干涉測量(CSI)等技術(shù)的基礎(chǔ)上,以其納米級測量準(zhǔn)確度和重復(fù)性(穩(wěn)定性)定量地反映出被測件的表面粗 糙度、表面輪廓、臺(tái)階高度、關(guān)鍵部位的尺寸及其形貌特征等。廣泛應(yīng)用于集成電路制造、MEMS、航空航天、精密加 工、表面工程技術(shù)、材料、太陽能電池技術(shù)等領(lǐng)域。 想要了解更多的信息,請聯(lián)系我們岱美儀器。 每個(gè)共焦圖像是通過樣品的形貌的水平切片,在不同的焦點(diǎn)高度捕獲圖像產(chǎn)生這樣的圖像的堆疊。材料表面輪...

  • 三維輪廓儀應(yīng)用
    三維輪廓儀應(yīng)用

    輪廓儀對所測樣品的尺寸有何要求? 答:輪廓儀對載物臺(tái)xy行程為140*110mm(可擴(kuò)展),Z向測量范圍比較大可達(dá)10mm,但由于白光干涉儀單次測量區(qū)域比較?。ㄒ?0X鏡頭為例,在1mm左右),因而在測量大尺寸的樣品時(shí),全檢的方式需要進(jìn)行拼接測量,檢測效率會(huì)比較低,建議尋找樣品表 面的特征位置或抽取若干區(qū)域進(jìn)行抽點(diǎn)檢測,以單點(diǎn)或多點(diǎn)反映整個(gè)面的粗糙度參數(shù); 4.測量的**小尺寸是否可以達(dá)到12mm,或者能夠測到更小的尺寸? 如果需要了解更多,請?jiān)L問官網(wǎng)。 共聚焦顯微鏡能夠在納米范圍內(nèi)獲得高 分辨率。三維輪廓儀應(yīng)用 filmOnline查film3D圖像並與其互...

  • 安徽輪廓儀技術(shù)原理
    安徽輪廓儀技術(shù)原理

    輪廓儀產(chǎn)品概述: NanoX-2000/3000 系列 3D 光學(xué)干涉輪廓儀建立在移相干涉測量(PSI)、白光垂直掃描干涉測量(VSI)和單色光 垂直掃描干涉測量(CSI)等技術(shù)的基礎(chǔ)上,以其納米級測量準(zhǔn)確度和重復(fù)性(穩(wěn)定性)定量地反映出被測件的表面粗 糙度、表面輪廓、臺(tái)階高度、關(guān)鍵部位的尺寸及其形貌特征等。廣泛應(yīng)用于集成電路制造、MEMS、航空航天、精密加 工、表面工程技術(shù)、材料、太陽能電池技術(shù)等領(lǐng)域。 想要了解更多的信息,請聯(lián)系我們岱美儀器。 粗糙度儀的功能是測量零件表面的磨加工/精車加工工序的表面加工質(zhì)量。安徽輪廓儀技術(shù)原理 輪廓儀的...

  • 掩模對準(zhǔn)輪廓儀用途是什么
    掩模對準(zhǔn)輪廓儀用途是什么

    輪廓儀、粗糙度儀、三坐標(biāo)的區(qū)別 關(guān)于輪廓儀和粗糙度儀 輪廓儀與粗糙度儀不是同一種產(chǎn)品,輪廓儀主要功能是測量零件表面的輪廓形狀,比如:汽車零件中的溝槽的槽深、槽寬、倒角(包括倒角位置、倒角尺寸、角度等),圓柱表面素線的直線度等參數(shù)??傊?,輪廓儀反映的是零件的宏觀輪廓。粗糙度儀的功能是測量零件表面的磨加工/精車加工工序的表面加工質(zhì)量,通俗地講,就是零件表面加工得光不光(粗糙度老國標(biāo)叫光潔度),即粗糙度反映的是零件加工表面的微觀情況。 關(guān)于三坐標(biāo)測量輪廓度及粗糙度 三坐標(biāo)測量機(jī)是不能測量粗糙度的,至于測量零件的表面輪廓 ,要視三坐標(biāo)的測量精度及零件表面輪廓...

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