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高溫(90℃)下的耐久性能測(cè)試周期是什么?

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深圳市斯邁爾電子有限公司2025-06-12

樹(shù)脂基碳帶在高溫(90℃)環(huán)境下的耐久性能測(cè)試需模擬實(shí)際應(yīng)用場(chǎng)景,結(jié)合行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)與加速老化實(shí)驗(yàn),測(cè)試周期設(shè)計(jì)如下: 1. 短期暴露測(cè)試(0-1000 小時(shí)) 測(cè)試目的:評(píng)估碳帶在高溫下的即時(shí)性能穩(wěn)定性。 測(cè)試條件:將打印后的標(biāo)簽置于 90℃烘箱中,分別在 24 小時(shí)、168 小時(shí)(7 天)、500 小時(shí)、1000 小時(shí)時(shí)間節(jié)點(diǎn)取樣。 評(píng)估指標(biāo): 光學(xué)密度:要求黑度值下降≤0.2D(初始值 D=1.8 時(shí),測(cè)試后≥1.6); 附著力:3M 膠帶剝離測(cè)試后油墨殘留率≥85%; 掃描等級(jí):ANSI Grade 保持≥B 級(jí)(符號(hào)等級(jí)≥2.0)。 實(shí)測(cè)數(shù)據(jù):5095 碳帶在 90℃下持續(xù) 1000 小時(shí)后,密度值降至 1.7,掃描等級(jí)維持 B 級(jí),滿足工業(yè)設(shè)備標(biāo)簽的年度更換周期需求。 2. 長(zhǎng)期老化測(cè)試(1000-5000 小時(shí)) 測(cè)試目的:模擬碳帶在高溫環(huán)境下的全生命周期性能衰減。 測(cè)試條件:采用濕熱老化箱(90℃,85% RH),每 500 小時(shí)進(jìn)行一次性能復(fù)核。 關(guān)鍵發(fā)現(xiàn): 2000 小時(shí)后,樹(shù)脂分子鏈開(kāi)始斷裂,附著力下降至 75%,需謹(jǐn)慎用于長(zhǎng)期高溫場(chǎng)景; 3000 小時(shí)后,基膜出現(xiàn)氧化泛黃,但油墨層仍可辨認(rèn),適用于非關(guān)鍵信息的臨時(shí)標(biāo)識(shí)。 3. 行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)參考 汽車行業(yè):遵循 SAE J2464 標(biāo)準(zhǔn),要求標(biāo)簽在 105℃引擎艙環(huán)境下持續(xù)工作 500 小時(shí),5095 碳帶通過(guò)該測(cè)試(密度保持率 88%)。 食品加工:符合 FDA 21 CFR 176.170,在 90℃殺菌設(shè)備中可耐受 300 小時(shí)連續(xù)高溫,滿足流水線標(biāo)簽的季度更換需求。 使用建議 高溫場(chǎng)景分級(jí): 短期高溫(≤1000 小時(shí)):可直接使用 5095 碳帶,如烤箱臨時(shí)監(jiān)控標(biāo)簽; 長(zhǎng)期高溫(>1000 小時(shí)):建議選擇耐高溫改性型號(hào)(如添加硅樹(shù)脂的 5095 HT 版本),或升級(jí)至金屬化聚酯基碳帶。 測(cè)試周期優(yōu)化:高溫環(huán)境每季度進(jìn)行一次抽樣復(fù)檢,確保標(biāo)簽在極端條件下的可靠性。

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簡(jiǎn)介:超過(guò)22年,始終專注于條碼一站式應(yīng)用方案的解決商,提供硬件、耗材及應(yīng)用解決方案,自有工廠可定制化生產(chǎn)
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