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近場(chǎng)是一個(gè)物理和化學(xué)條件急劇變化的復(fù)雜區(qū)域，在該區(qū)域內(nèi)，廢物體、包裝容器、回填材料和巖石都將隨時(shí)間的變化，在溫度和輻射場(chǎng)的影響下發(fā)生相互作用，并與地下水發(fā)生作用。近場(chǎng)的設(shè)計(jì)決定了放射性核素釋放的速率。在性能評(píng)價(jià)中，近場(chǎng)向遠(yuǎn)場(chǎng)的釋放量構(gòu)成了遠(yuǎn)場(chǎng)模式計(jì)算的源項(xiàng)。在...

電子產(chǎn)品要通過電源線傳導(dǎo)發(fā)射試驗(yàn)和電源線抗擾度試驗(yàn)，必須在電源線上使用干擾濾波器，靜電放電對(duì)設(shè)備電路的影響很大程度上是由于靜電放電電流周圍的高頻電磁場(chǎng)，這些電磁場(chǎng)由于頻率很高，因此很容易被導(dǎo)線所接收，對(duì)電路形成干擾凈，某設(shè)備在做靜電放電試驗(yàn)時(shí)，發(fā)現(xiàn)當(dāng)在活動(dòng)面板...

EMI分析整改中有效降低電路EMI的技巧：當(dāng)存在一個(gè)磁場(chǎng)時(shí)，一個(gè)由導(dǎo)電材料形成的環(huán)路充當(dāng)了天線，并且把磁場(chǎng)轉(zhuǎn)換為圍繞環(huán)路流動(dòng)的電流。電流的強(qiáng)度與閉合環(huán)路的面積成正比。較小面積環(huán)路中通過的磁通量也少，感應(yīng)出的電流也較小，因此環(huán)路面積必須小。保持訊號(hào)路徑和它的地返...

頻譜分析儀是EMII分析整改中用途較廣的一種工具。頻譜分析儀對(duì)于一個(gè)電磁兼容（EMC）工程師來說就像一位數(shù)字電路設(shè)計(jì)工程師手中的邏輯分析儀一樣重要。頻譜分析儀的寬頻率范圍、帶寬可選性和寬范圍掃描CRT顯示使得它在幾乎每一個(gè)EMC測(cè)試應(yīng)用中都可大顯身手。頻譜分析...

EMI整改：1、對(duì)于差模干擾超標(biāo)可調(diào)整X電容量,添加差模電感器，調(diào)差模電感量；2、對(duì)于共模干擾超標(biāo)可添加共模電感,選用合理的電感量來壓制；3、也可改變整流二極管特性來處理一對(duì)快速二極管如FR107一對(duì)普通整流二極管1N4007。5M以上，以共摸干擾為主，采用壓...

訊號(hào)線下方的地要完整，要有完整的參考面。訊號(hào)電流經(jīng)過一個(gè)低阻抗的路徑返還其驅(qū)動(dòng)源，能夠有效減小輻射，而且由于地層的遮罩作用，使得電路對(duì)外輻射的靈敏度也會(huì)降低。如果兩個(gè)電路的參考電平不一致，就會(huì)產(chǎn)生功能問題，如雜訊容限和邏輯開關(guān)門限電平紊亂，這個(gè)接地雜訊電壓就會(huì)...

EMI（ElectromagneticInterference）直譯是“電磁干擾”。EMI是指電子產(chǎn)品工作會(huì)對(duì)周邊的其他電子產(chǎn)品造成干擾，與此關(guān)聯(lián)的還有EMC規(guī)范。電磁發(fā)射（EMI）的檢驗(yàn)項(xiàng)目有：連續(xù)干擾電壓（150kHz～30MHz）;干擾功率（30MHz～...

通常公司為了避免這樣的情景出現(xiàn)，會(huì)在設(shè)計(jì)和原型建立階段做一些“預(yù)先的一致性”測(cè)量。更好的做法是在產(chǎn)品發(fā)出去做一致性測(cè)試之前就能夠確定和修復(fù)潛在的EMI問題。當(dāng)然，大多數(shù)公司的實(shí)驗(yàn)室并不具備做一定EMI測(cè)量所需的測(cè)試室條件。好消息是，無需復(fù)制測(cè)試室條件就確定和解...

當(dāng)一個(gè)產(chǎn)品無法通過EMI測(cè)試﹐首先就要有一個(gè)觀念﹐找出無法通過的問題點(diǎn)﹐此時(shí)千萬不能有主觀的念頭﹐要在那些地方下對(duì)策。常常有許多有經(jīng)驗(yàn)的EMI工程師﹐由于修改過許多相關(guān)產(chǎn)品﹐對(duì)于產(chǎn)品可能造成EMI問題的地方也非常了解﹐而習(xí)慣直接就好﹐當(dāng)然一般皆可能非常有效﹐但...

電磁干擾是指任何在傳導(dǎo)或電磁場(chǎng)伴隨著電壓、電流的作用而產(chǎn)生會(huì)降低某個(gè)裝置、設(shè)備或系統(tǒng)的性能，或可能對(duì)生物或物質(zhì)產(chǎn)生不良影響之電磁現(xiàn)象?；蛘f電子設(shè)備都會(huì)產(chǎn)生傳導(dǎo)性電磁雜訊干擾，就像傳染病般地透過電源線傳導(dǎo)電磁干擾也是變頻器驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)的一個(gè)主要問題。在許多國(guó)家，尤其...

EMI整改和調(diào)試是工程師在設(shè)計(jì)中不可回避的問題：一次性很難通過昂貴的EMI一致性測(cè)試；難以捕獲偶發(fā)的EMI突發(fā)信號(hào)；需要擁有較長(zhǎng)儀器采集時(shí)間的實(shí)時(shí)頻譜分析儀才可能捕獲EMI突發(fā)信號(hào)；大多數(shù)頻譜分析儀不是實(shí)時(shí)頻譜分析儀；EMI調(diào)試中很難找到噪聲來源；截短PCB線...

干擾正確的診斷：要解決產(chǎn)品上的EMI問題﹐若能在產(chǎn)品設(shè)計(jì)之初便加以考慮﹐則可以節(jié)省事后再投入許多時(shí)間。由于目前EMIDesign-in的觀念并不是十分普遍﹐而且由于事先的規(guī)劃并不能保證其成品可以完全符合電磁干擾的測(cè)試在﹐所以如何正確的診斷EMI問題﹐對(duì)于設(shè)計(jì)工...

近場(chǎng)掃描系統(tǒng)的制作方法：測(cè)量一件介質(zhì)對(duì)電磁波的響應(yīng)特征，需要檢測(cè)穿過該介質(zhì)后的電磁波其空間各個(gè)點(diǎn)的電磁特性，然后利用一定的處理設(shè)備將檢測(cè)到的空間各點(diǎn)的電磁特性值記錄下來并進(jìn)行分析，對(duì)比未穿過介質(zhì)以前的電磁波，可以計(jì)算出介質(zhì)對(duì)電磁波的響應(yīng)特性。以上過程需要通過三...

EMI診斷一般使用通用儀器設(shè)備加上一些專屬附件，根據(jù)測(cè)試需要自行組成測(cè)試系統(tǒng)，它簡(jiǎn)單、方便、經(jīng)濟(jì)、實(shí)惠，是對(duì)規(guī)范測(cè)量的一種補(bǔ)充。如果有條件和標(biāo)準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室測(cè)試系統(tǒng)進(jìn)行對(duì)比，則能夠得到定量測(cè)試結(jié)果。因此，EMI診斷成為產(chǎn)品設(shè)計(jì)師在整個(gè)研制過程中不可缺少的輔助手段，它...

有效降低電路EMI的技巧：出現(xiàn)在板級(jí)連接的場(chǎng)合。如智慧機(jī)上盒(STB)產(chǎn)品，在STB主機(jī)板和EOC主機(jī)板或者Wi-Fi模組連接時(shí)，會(huì)在GND鏈路形成一個(gè)板級(jí)環(huán)路，可以在GND中間串接一個(gè)電感或者鐵氧體磁珠進(jìn)行隔離。透過雙絞線電纜傳輸訊號(hào)時(shí)，每對(duì)差分發(fā)射/接收都...

噪聲是由機(jī)器內(nèi)部耦合到電纜線上﹐而使電纜成為輻射天線。這一點(diǎn)是許多測(cè)試工程師容易忽略的。此情形如（a）中所提到的﹐只要將一條電纜靠近﹐則可從頻譜上看到噪聲立刻升高﹐此表示噪聲已不單純是由線上所輻射出﹐而是機(jī)器本身的噪聲能量相當(dāng)大﹐一旦有天線靠近則立刻會(huì)耦合至天...

三維近場(chǎng)掃描系統(tǒng)，包括采集電磁波信號(hào)的采集單元、與所述采集單元連接并將所采集到的電磁波信號(hào)轉(zhuǎn)化為數(shù)字信號(hào)的分析單元、驅(qū)動(dòng)所述采集單元移動(dòng)以采集空間各點(diǎn)的電磁波信號(hào)的移動(dòng)單元、與所述分析單元連接并處理所述數(shù)字信號(hào)的處理單元以及控制所述移動(dòng)單元的控制單元，還包括檢...

高速線，一般是SDRAM、及數(shù)字視頻信號(hào)的VCLK了，好在其走線背面有地銅層，沒有條件的，至少要有一條較寬的地線“護(hù)送”，能包地就更理想了，有的時(shí)候需要在靠MCU一端串電阻，消除過沖（過沖對(duì)輻射影響很大），不要串得太大，以免引起延遲；還有就是背面不要有平行的線...

事實(shí)上﹐當(dāng)然平時(shí)的預(yù)防保養(yǎng)是很重要的﹐而一旦正確的診斷﹐才能得到快速的痊愈﹐沒有正確的診斷﹐找不到病癥的源頭﹐往往事倍功半而拖延費(fèi)時(shí)。故在EMI的問題上﹐常常看到一個(gè)EMI有問題的產(chǎn)品﹐由于未能找到造成EMI問題的關(guān)鍵﹐花了許多時(shí)間﹐下了許多對(duì)策﹐卻始終無法解...

遮罩是好的解決EMI問題的有效方法。輻射源遮罩能夠極大限度的解決EMI問題。在干擾源和干擾物件之間插入一金屬遮罩物，以阻擋干擾的傳播，可以做好預(yù)留設(shè)計(jì)。電源DC-DC晶片的VIN接腳，合理配置電容，減少輸入電源的EMI；在輸出端合理配置電感或鐵氧體磁珠，這樣電...

電路板上的組件成為輻射來源，由于所使用的IC或CPU本身在運(yùn)作時(shí)產(chǎn)生很大的輻射﹐使得EMI測(cè)試無法通過﹐卵石種情往往在經(jīng)過（1）﹑（2）﹑（3）的分析后噪聲依然存在﹐通常解決的方法不外換一個(gè)類似的組件﹐看EMI特性是否會(huì)好一些。另外就是電路板重新布線時(shí)﹐將其擺...

電源DC-DC晶片的VIN接腳，合理配置電容，減少輸入電源的EMI；在輸出端合理配置電感或鐵氧體磁珠，這樣電路動(dòng)態(tài)功率將從近端的電容獲取，而不是從遠(yuǎn)端的電源獲取，降低了雜訊干擾。另外，電源平面和地平面盡量完整。EMI又稱電磁干擾是指任何在傳導(dǎo)或電磁場(chǎng)伴隨著電壓...

雖然電磁場(chǎng)存在于天線周圍，但他們會(huì)向外擴(kuò)張，超出天線以外后，電磁場(chǎng)就會(huì)自動(dòng)脫離為能量包單獨(dú)傳播出去。實(shí)際上電場(chǎng)和磁場(chǎng)互相產(chǎn)生，這樣的“單獨(dú)”波就是無線電波。距離天線一定范圍內(nèi)，電場(chǎng)和磁場(chǎng)基本為平面并以直角相交。注意傳播方向和電磁場(chǎng)均成直角。在圖2(a)中，傳播...

EMI診斷可以做到及時(shí)發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品的EMI問題，分析EMI性質(zhì)及產(chǎn)生原因，給出被測(cè)設(shè)備電磁兼容特性的定性表述。要解決產(chǎn)品上的EMI問題﹐若能在產(chǎn)品設(shè)計(jì)之初便加以考慮﹐則可以節(jié)省事后再投入許多時(shí)間與金錢。由于目前EMIDesign-in的觀念并不是十分普遍﹐而且由于...

各種接頭如Keyboard及Powersupply常常由于接頭的插頭與機(jī)器上的插座間的密合度不好﹐影響了干擾噪聲的輻射。檢查的方式可將接頭拔掉看噪聲是否減小﹐減小表示兩種冊(cè)可﹐一為線上本身輻射干擾﹐另一為接頭間接觸不好﹐此時(shí)插上接頭﹐用手銷微將接頭端左右搖動(dòng)﹐...

您可能會(huì)問：那么我該如何使用EMI濾波器和準(zhǔn)峰值（QP）檢波器？這取決于您是否在進(jìn)行一致性測(cè)試、預(yù)一致性測(cè)試或者在做EMI故障排查。EMI類分辨率帶寬（RBW）濾波器是窄帶的，其滾降方式以6dB為標(biāo)準(zhǔn)，而非3dB。符合標(biāo)準(zhǔn)的準(zhǔn)峰值檢波器是根據(jù)信號(hào)峰值和重復(fù)頻率...

散射近場(chǎng)測(cè)量：當(dāng)輻射體變?yōu)樯⑸潴w時(shí)，輻射近場(chǎng)測(cè)量轉(zhuǎn)換為散射近場(chǎng)測(cè)量。由于散射體是無源的，因此需要一個(gè)照射源對(duì)其進(jìn)行照射，同輻射近場(chǎng)測(cè)量一樣，散射近場(chǎng)測(cè)量也有3種取樣方式，分別稱為平面散射近場(chǎng)測(cè)量和柱面散射近場(chǎng)測(cè)量以及球面散射近場(chǎng)測(cè)量。平面散射近場(chǎng)已取得了許多研...

有效降低電路EMI的技巧：因CMOS電路在時(shí)脈轉(zhuǎn)換期間吸收的電流要高出平均流耗10mA的標(biāo)準(zhǔn)，而在時(shí)脈轉(zhuǎn)換周期之間的流耗非常低甚至為零，所以輻射限制方法是電壓和電流的峰值，不是平均值。在時(shí)脈轉(zhuǎn)換過程中從電源至晶片電源接腳額電流浪涌是一個(gè)主要的輻射源，近端位置增...

我從事整改好幾年經(jīng)我手整改過的產(chǎn)品有電源，有陸軍標(biāo)的逆變電源，有工業(yè)電源，也有大功率的LED電源，還有音視頻產(chǎn)品，我對(duì)這些產(chǎn)品的工和原理只是知道個(gè)大概，無論如何也比不上各位工程師，但我一樣可以半這些產(chǎn)品整改符合EMC的要求同時(shí)也讓各業(yè)企懣意。說到EMC的整改問...

干擾正確的診斷：要解決產(chǎn)品上的EMI問題﹐若能在產(chǎn)品設(shè)計(jì)之初便加以考慮﹐則可以節(jié)省事后再投入許多時(shí)間。由于目前EMIDesign-in的觀念并不是十分普遍﹐而且由于事先的規(guī)劃并不能保證其成品可以完全符合電磁干擾的測(cè)試在﹐所以如何正確的診斷EMI問題﹐對(duì)于設(shè)計(jì)工...