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輻射近場(chǎng)測(cè)量的研究：為了反映脈沖工作狀態(tài)和消除環(huán)境及其他因素對(duì)測(cè)量數(shù)據(jù)的影響，時(shí)域測(cè)量是一個(gè)良好的解決此類問題的途徑，但目前處于研究階段。輻射近場(chǎng)掃頻測(cè)量的研究：就一般情況而言，天線都在一個(gè)頻帶內(nèi)工作，因此，各項(xiàng)電指標(biāo)都是頻率的函數(shù)，為了快速獲得各個(gè)頻率點(diǎn)的電...

OTA快速測(cè)量系統(tǒng)——測(cè)試系統(tǒng)采用OTA技術(shù)及算法，結(jié)合信令和非信令模式以極快的時(shí)間完成關(guān)鍵指標(biāo)性能測(cè)試：1.樣品多模一站式測(cè)量2.支持多個(gè)樣品并行測(cè)量3.支持WLAN、2/3/4/5G產(chǎn)品4.準(zhǔn)確性和穩(wěn)定性高5.維護(hù)簡單、轉(zhuǎn)產(chǎn)方便；射頻（RF）指標(biāo)快速測(cè)量系...

近場(chǎng)存在于距電磁輻射源（例如發(fā)射天線）一個(gè)波長范圍內(nèi)的電磁場(chǎng)，一個(gè)聲源（如揚(yáng)聲器）附近的聲輻射場(chǎng)。在衍射光學(xué)中，近場(chǎng)定義如下：當(dāng)入射光波是平面波，經(jīng)過透鏡會(huì)聚后。以焦斑為中心，落在其前后半個(gè)瑞利長度范圍外的光場(chǎng)為近場(chǎng)，否則稱為遠(yuǎn)場(chǎng)。一般來說我們把菲涅耳衍射稱為...

可視化EFT抗擾度診斷分析系統(tǒng)—ES26-EFT整體介紹：電子產(chǎn)品在做脈沖群抗擾度測(cè)試時(shí)，通過電源端口、I/O端口直接注入或者耦合注入的EMS干擾，會(huì)引起產(chǎn)品的死機(jī)、重啟、性能功能 下降等異常，甚至?xí)?dǎo)致直接硬件損壞。在解決此類問題時(shí)，比較大的困難在于注入到產(chǎn)...

輻射/傳導(dǎo)快速測(cè)量系統(tǒng)——與傳統(tǒng)測(cè)試系統(tǒng)不同，該快速測(cè)量系統(tǒng)采用多天線法，具有如下優(yōu)勢(shì)：1.根據(jù)產(chǎn)品要求選擇不同的替代方案；2.設(shè)置預(yù)警限值，提前篩選風(fēng)險(xiǎn)產(chǎn)品；3.測(cè)試精度與標(biāo)準(zhǔn)環(huán)境相近；4.自動(dòng)化測(cè)量，測(cè)試周期短；無線產(chǎn)品功耗測(cè)量系統(tǒng)——無線功耗自動(dòng)化測(cè)試系...

輻射雜散快速測(cè)試系統(tǒng)— TS13整體介紹：輻射雜散性能是帶有無線射頻功能的電子產(chǎn)品的關(guān)鍵性能指標(biāo)，并且，影響輻射雜散性能的因素特別復(fù)雜，在產(chǎn)品設(shè)計(jì)和生產(chǎn)階段都需要保證輻射雜散方案性能的可靠性和一致性。標(biāo)準(zhǔn)全電波暗室測(cè)試方案成本高，測(cè)試時(shí)間長，不能滿足研發(fā)階段的...

近場(chǎng)探頭在受測(cè)設(shè)備上方的光學(xué)定位可以在數(shù)字顯微鏡的協(xié)助下完成，掃描支持防撞功能，在探頭沿垂直方向運(yùn)動(dòng)觸碰到受試設(shè)備時(shí)停止運(yùn)動(dòng)，在電腦上通過ChipScan-Scanner軟件可以控制FLS106PCB型掃描儀。這款軟件同時(shí)可以從頻譜分析儀中讀取測(cè)量數(shù)據(jù)（2D或...

EMI分析整改方案：從傳導(dǎo)的曲線上1MHz前超標(biāo)的情況可以看出差模電容X太小了，所以修改了X電容變成0。22uF。而1-5MHz之間也超標(biāo)，所以增加共模電感到50mH，這項(xiàng)頻率超標(biāo)一般主要是有變壓器的漏感造成的。在變壓器的外面增加了一個(gè)屏蔽銅箔，并接入熱地。（...

EMI認(rèn)證機(jī)構(gòu)通常按照EMI標(biāo)準(zhǔn)的準(zhǔn)峰值檢波進(jìn)行測(cè)試，而EMI診斷中往往用峰值檢波，兩者不匹配，EMI診斷是否還有意義？由于EMI診斷的目的是為了找出EMI的根源，并不需要一定精確的測(cè)試，而是需要相對(duì)的重復(fù)性好的測(cè)試。準(zhǔn)峰值檢波用來檢測(cè)信號(hào)包絡(luò)加權(quán)后的峰值(準(zhǔn)...

近場(chǎng)掃描儀的特點(diǎn)：1.不需要消聲室：可以使用場(chǎng)分離技術(shù)將輻射聲從房間反射聲中分離出來。2.比消聲室測(cè)量精度更高100Hz以下，不需要房間校正曲線。3.快速測(cè)量：標(biāo)準(zhǔn)3D聲學(xué)測(cè)量，可在不到20分鐘內(nèi)完成典型兩分頻系統(tǒng)的聲功率測(cè)量。4.高信噪比：近場(chǎng)中聲壓級(jí)高，對(duì)...

空口性能（OTA）自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)— TS6產(chǎn)品特點(diǎn)：■OTA測(cè)試軟件參考CITA及ETSITS137544等相關(guān)測(cè)量要求；■測(cè)試軟件同樣適用于基于傳統(tǒng)全電波暗室的OTA測(cè)量需求；■自定義功能定制擴(kuò)展靈活；■自動(dòng)化測(cè)試，自動(dòng)生成數(shù)據(jù)報(bào)表和方向圖曲線及3D圖。關(guān)鍵...

EMC包括兩個(gè)方面的要求：一方面是指設(shè)備在正常運(yùn)行過程中對(duì)所在環(huán)境產(chǎn)生的電磁干擾不能超過一定的限值，即電磁干擾(ElectromagneticInterference簡稱EMI)；另一方面是指器件對(duì)所在環(huán)境中存在的電磁干擾具有一定程度的抗擾度，即電磁敏感性（E...

近場(chǎng)探頭在受測(cè)設(shè)備上方的光學(xué)定位可以在數(shù)字顯微鏡的協(xié)助下完成，掃描支持防撞功能，在探頭沿垂直方向運(yùn)動(dòng)觸碰到受試設(shè)備時(shí)停止運(yùn)動(dòng)，在電腦上通過ChipScan-Scanner軟件可以控制FLS106PCB型掃描儀。這款軟件同時(shí)可以從頻譜分析儀中讀取測(cè)量數(shù)據(jù)（2D或...

近場(chǎng)存在于距電磁輻射源（例如發(fā)射天線）一個(gè)波長范圍內(nèi)的電磁場(chǎng)，一個(gè)聲源（如揚(yáng)聲器）附近的聲輻射場(chǎng)。在衍射光學(xué)中，近場(chǎng)定義如下：當(dāng)入射光波是平面波，經(jīng)過透鏡會(huì)聚后。以焦斑為中心，落在其前后半個(gè)瑞利長度范圍外的光場(chǎng)為近場(chǎng)，否則稱為遠(yuǎn)場(chǎng)。一般來說我們把菲涅耳衍射稱為...

EMC包括兩個(gè)方面的要求：一方面是指設(shè)備在正常運(yùn)行過程中對(duì)所在環(huán)境產(chǎn)生的電磁干擾不能超過一定的限值，即電磁干擾(ElectromagneticInterference簡稱EMI)；另一方面是指器件對(duì)所在環(huán)境中存在的電磁干擾具有一定程度的抗擾度，即電磁敏感性（E...

從90年代末至今，近場(chǎng)微波成像已經(jīng)引起了學(xué)者們的濃厚興趣，但由于常規(guī)目標(biāo)散射近場(chǎng)的復(fù)雜性，致使近場(chǎng)微波成像遠(yuǎn)遠(yuǎn)滯后于遠(yuǎn)場(chǎng)成像。近場(chǎng)微波成像中，著眼于潛在的應(yīng)用，目標(biāo)函數(shù)既可以是理想導(dǎo)體目標(biāo)的輪廓函數(shù)，也可以是目標(biāo)介電常數(shù)的分布函數(shù)。從照射天線與成像目標(biāo)的相對(duì)運(yùn)...

EMI分析整改方案：從傳導(dǎo)的曲線上1MHz前超標(biāo)的情況可以看出差模電容X太小了，所以修改了X電容變成0。22uF。而1-5MHz之間也超標(biāo)，所以增加共模電感到50mH，這項(xiàng)頻率超標(biāo)一般主要是有變壓器的漏感造成的。在變壓器的外面增加了一個(gè)屏蔽銅箔，并接入熱地。（...

集成電路電磁兼容測(cè)試解決方案：小型化無線終端產(chǎn)品（如手機(jī)、平板智能穿戴產(chǎn)品）的 快速發(fā)展，集成電路(IC)體積逐漸向更小更密集的規(guī)格演進(jìn)， 且加上IC運(yùn)行速率的提升和成本的下降，使得IC EMC問題日 益受到重視，其中包含IC電磁輻射、輻射抗擾、脈沖抗擾以 及...

傳導(dǎo)抗擾度（CS）近場(chǎng)電磁掃描診斷分析：可視化EMC(電磁兼容)近場(chǎng)掃描診斷分析系統(tǒng)使用電磁場(chǎng)近場(chǎng)耦合探頭套裝，支持0.01mm分辨率步進(jìn)電磁掃描，采用近場(chǎng)電磁耦合的方式，將150kHz-1000MHz的傳導(dǎo)抗擾度(CS)電壓耦合到電路中，從而找到敏感源頭位置...

EMI設(shè)計(jì)要點(diǎn)很多初學(xué)者對(duì)于EMI設(shè)計(jì)都摸不著頭腦，其實(shí)我當(dāng)初也是一樣，但是在做了幾次設(shè)計(jì)以后，也逐漸有了一些體會(huì)。首先，對(duì)于大腦里面一定要清楚一個(gè)概念－－在高頻里面，自由空間的阻抗是377歐姆，對(duì)于一般的EMI中的空間輻射來說，是由于信號(hào)的回路到了可以和空間...

近場(chǎng)存在于距電磁輻射源（例如發(fā)射天線）一個(gè)波長范圍內(nèi)的電磁場(chǎng)，一個(gè)聲源（如揚(yáng)聲器）附近的聲輻射場(chǎng)。在衍射光學(xué)中，近場(chǎng)定義如下：當(dāng)入射光波是平面波，經(jīng)過透鏡會(huì)聚后。以焦斑為中心，落在其前后半個(gè)瑞利長度范圍外的光場(chǎng)為近場(chǎng)，否則稱為遠(yuǎn)場(chǎng)。一般來說我們把菲涅耳衍射稱為...

群脈沖（EFT）近場(chǎng)電磁掃描診斷分析：可視化EMC(電磁兼容)近場(chǎng)掃描診斷分析系統(tǒng)使用電磁場(chǎng)近場(chǎng)耦合探頭套裝，支持0.01mm分辨率步進(jìn)電磁掃描，采用近場(chǎng)電磁耦合的方式將100V-4kV的群脈沖(EFT)電壓耦合到電路中，從而找到敏感源頭位置，解決群脈沖抗擾度...

EMI整改：1、對(duì)于差模干擾超標(biāo)可調(diào)整X電容量,添加差模電感器，調(diào)差模電感量；2、對(duì)于共模干擾超標(biāo)可添加共模電感,選用合理的電感量來壓制；3、也可改變整流二極管特性來處理一對(duì)快速二極管如FR107一對(duì)普通整流二極管1N4007。5M以上，以共摸干擾為主，采用壓...

輻射雜散快速測(cè)試系統(tǒng)— TS13整體介紹：輻射雜散性能是帶有無線射頻功能的電子產(chǎn)品的關(guān)鍵性能指標(biāo)，并且，影響輻射雜散性能的因素特別復(fù)雜，在產(chǎn)品設(shè)計(jì)和生產(chǎn)階段都需要保證輻射雜散方案性能的可靠性和一致性。標(biāo)準(zhǔn)全電波暗室測(cè)試方案成本高，測(cè)試時(shí)間長，不能滿足研發(fā)階段的...

車載導(dǎo)航產(chǎn)品的輻射干擾包含寬帶干擾和窄帶干擾。車載導(dǎo)航儀內(nèi)的DC/DC變換器工作在脈沖狀態(tài)下，本身就會(huì)產(chǎn)生很強(qiáng)的寬帶干擾。而車載電子產(chǎn)品的主控芯片的速度在不斷提高，時(shí)鐘上升沿的振鈴就會(huì)產(chǎn)生豐富的諧波窄帶干擾。對(duì)這些車載導(dǎo)航儀的輻射干擾的整改，需要對(duì)其電磁輻射干...

EMI整改：1、對(duì)于差模干擾超標(biāo)可調(diào)整X電容量,添加差模電感器，調(diào)差模電感量；2、對(duì)于共模干擾超標(biāo)可添加共模電感,選用合理的電感量來壓制；3、也可改變整流二極管特性來處理一對(duì)快速二極管如FR107一對(duì)普通整流二極管1N4007。5M以上，以共摸干擾為主，采用壓...

近場(chǎng)掃描測(cè)試能計(jì)入環(huán)境影響嗎?近場(chǎng)測(cè)試是測(cè)的近場(chǎng)的表面電流,或者說很近的電磁場(chǎng),然后再計(jì)算成遠(yuǎn)場(chǎng)的方向圖,這顯然是無法考慮附近金屬體的影響的,其實(shí)近場(chǎng)測(cè)試只是對(duì)方向性高的陣列天線比較適用,到了邊上的話計(jì)算出的場(chǎng)也是不準(zhǔn)的,需要校準(zhǔn).我覺得如果你把金屬考慮進(jìn)去,...

輻射雜散快速測(cè)試系統(tǒng)— TS13系統(tǒng)優(yōu)勢(shì)：■自帶無線多制式測(cè)量濾波器開關(guān)陣列單元，自動(dòng)控制，頻率覆蓋600MHz-13GHz;■覆蓋無線產(chǎn)品研發(fā)、生產(chǎn)階段RSE快速預(yù)驗(yàn)證測(cè)試需求；■多測(cè)量天線布局設(shè)計(jì)，一次性高效方方面面的比較大RSE干擾掃描，3分鐘即可完成一...

輻射/傳導(dǎo)快速測(cè)量系統(tǒng)——與傳統(tǒng)測(cè)試系統(tǒng)不同，該快速測(cè)量系統(tǒng)采用多天線法，具有如下優(yōu)勢(shì)：1.根據(jù)產(chǎn)品要求選擇不同的替代方案；2.設(shè)置預(yù)警限值，提前篩選風(fēng)險(xiǎn)產(chǎn)品；3.測(cè)試精度與標(biāo)準(zhǔn)環(huán)境相近；4.自動(dòng)化測(cè)量，測(cè)試周期短；無線產(chǎn)品功耗測(cè)量系統(tǒng)——無線功耗自動(dòng)化測(cè)試系...

多功能吞吐量性能自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)— TS6產(chǎn)品特點(diǎn)：■吞吐量性能測(cè)試系統(tǒng)性價(jià)比高，還原問題現(xiàn)象能力強(qiáng)，功能擴(kuò)展能力強(qiáng)；■基于iPerf測(cè)試工具，豐富擴(kuò)展集成相關(guān)便捷自動(dòng)測(cè)試功能項(xiàng)；■支持多類型芯片品牌命令靈活集成，讓測(cè)試更便捷；■支持天線發(fā)射功率衰減量靈活可調(diào)，...