熒光壽命(FLT)是熒光團在發(fā)射光子并返回基態(tài)之前花費在激發(fā)態(tài)的時間。根據(jù)熒光基團的不同，F(xiàn)LT可以從皮秒到數(shù)百納秒不等。熒光團群的壽命是指經(jīng)熒光或非輻射過程的能量損失后，激發(fā)態(tài)分子數(shù)量以指數(shù)方式衰減到原始數(shù)量的N / e（36.8％）的時間。熒光壽命是熒光團的固有屬性。FLT不依賴于熒光團濃度、樣品吸收、樣品厚度、測量方法、熒光強度、光漂白和/或激發(fā)強度。它受外部因素影響，如溫度、極性和熒光淬滅劑的存在。熒光壽命對依賴于熒光團結(jié)構(gòu)的內(nèi)部因素敏感。市場上熒光壽命的測量方式可分為時域法和頻域法。深圳紅外熒光壽命成像哪家實惠

時域法熒光壽命的測量和熒光壽命成像主要有時間相關(guān)單光子計數(shù)法（time correlated single photon counting, TCSPC）、門控探測法（time-gated detection）、條紋相機測量法（streak-FLIM）、頻閃技術(shù)等四種常見的方法。TCSPC是目前測量熒光壽命的主要技術(shù)，同軸脈沖光源發(fā)出的脈沖光引起起始光電倍增管產(chǎn)生電信號，該信號通過恒分信號甄別器1啟動時幅轉(zhuǎn)換器（time-amplitude converter，TAC），時幅轉(zhuǎn)換器產(chǎn)生一個隨時間線性增長的電壓信號。此外，同軸脈沖光源發(fā)出的脈沖光通過激發(fā)單色器后到達樣品池，樣品產(chǎn)生的熒光信號再經(jīng)過發(fā)射單色器到達終止光電倍增管，由此產(chǎn)生的電信號經(jīng)由恒分信號甄別器2到達時幅轉(zhuǎn)換器并使其停止工作。此時，時幅轉(zhuǎn)換器根據(jù)累積電壓輸出一個數(shù)字信號并在多通道分析儀（multi-channel analyzer）的相應(yīng)時間通道計入一個信號，表明檢測到壽命為該時間的一個光子。經(jīng)過幾十萬次的重復(fù)后，不同的時間通道累積下來的光子數(shù)目不相同。上海熒光壽命成像在種類繁多的顯微技術(shù)中，熒光壽命顯微成像技術(shù)被普遍地應(yīng)用于生物學(xué)研究及臨床診斷等領(lǐng)域。

在使用TCSPC測量熒光壽命的過程中，需要調(diào)節(jié)樣品的熒光強度，確保每次激發(fā)后較多只有一個熒光光子到達終止光電倍增管。TCSPC方法的突出優(yōu)點是靈敏度高、測量結(jié)果準確、系統(tǒng)誤差小。采用該技術(shù)對樣品進行熒光壽命成像時，必須逐點測量樣品的熒光壽命，而每一點的測量時間又比較長，因此，通常認為該技術(shù)不太適合熒光壽命測量。不過，近年來，隨著TCSPC技術(shù)和固體超快激光技術(shù)的發(fā)展，TCSPC技術(shù)已具備快速測量熒光壽命的條件。通過與激光共聚焦顯微鏡的結(jié)合，可以對樣品進行熒光壽命成像的測量。

典型的熒光壽命成像包括從感興趣區(qū)域（ROI）的共焦圖像中提取1-，2-或3-衰減時間。限制熒光團的衰減速率可能是任意的，而且很復(fù)雜，因為在細胞環(huán)境中存在幾種衰減速率。對于相量圖，關(guān)于選擇哪種衰減模型以及評估擬合優(yōu)度的挑戰(zhàn)性決定已成為過去。在相量圖中，所有原始FLIM數(shù)據(jù)在向量空間中均表示為相位和幅度。圖像中的每個像素都轉(zhuǎn)換為相量圖中的一個點。單獨于其在圖像中的位置，具有相似衰減特征的像素在相量圖中形成群集。可以在此陣列中選擇不同的相量簇，并在標注中反向注釋對應(yīng)的像素。熒光壽命是熒光基團在通過發(fā)射熒光光子返回基態(tài)之前在其激發(fā)態(tài)下保持平均多長時間的量度。

熒光壽命成像 (FLIM)通過建立檢測到的熒光事件的直方圖來確定壽命?？娠@示單指數(shù)或多指數(shù)熒光衰減。數(shù)值曲線擬合表示熒光壽命和振幅（即檢測到的光子數(shù)）。由于FRET減少了供體壽命，因此如果無FRET的供體壽命已知，就可以量化FRET發(fā)生的程度。該供體壽命τ作為分析FRET樣品的一定參考。因此，F(xiàn)LIM-FRET為內(nèi)部參照—這一特點減少了基于強度測量FRET時的很多缺點。由于其熒光壽命是染料的固有特性，因此對其他不利影響（如光漂白、圖像明暗處理、不同濃度或表達水平）具有普遍的不變性。使用基于強度的FRET測量的主要限制是所有可觀察的供體分子都經(jīng)歷FRET的基本假設(shè)。通常情況并非如此。供體分子這種變化的“非結(jié)合”組分給測量的FRET效率帶來了相當大的不確定性，使得無法在實驗之間進行比較。熒光壽命成像克服了這一缺點。熒光壽命(FLT)是熒光團在發(fā)射光子并返回基態(tài)之前花費在激發(fā)態(tài)的時間。深圳紅外熒光壽命成像哪家實惠

影響熒光壽命成像測量的因素有哪些？深圳紅外熒光壽命成像哪家實惠

熒光分子受激發(fā)后發(fā)光，熒光壽命量化了發(fā)光的衰減率。該特征時間不但取決于特定的熒光團，還取決于其環(huán)境，分子相互作用影響弛豫過程并改變熒光團的壽命。熒光壽命是微環(huán)境的相對參數(shù)，不受環(huán)境吸收、樣本濃度等因素影響，因此能夠?qū)ι锝M織環(huán)境中的 p H 值水平、離子濃度、氧分子濃度等微環(huán)境狀態(tài)進行高精度檢測。熒光壽命顯微成像（FLIM），可以定位不同的分子及濃度分布，在生物，材料，半導(dǎo)體領(lǐng)域具有重要的應(yīng)用價值。熒光壽命成像原理及應(yīng)用說明：熒光壽命是指分子受到光脈沖激發(fā)后返回基態(tài)之前在激發(fā)平均停留的時間，處于激發(fā)態(tài)的熒光分子在從激發(fā)到基態(tài)的過程中發(fā)射熒光釋放能量。熒光壽命取決于熒光分子所處的微環(huán)境，通過對樣品熒光壽命的測量和成像可以定量獲取樣品的功能信息。深圳紅外熒光壽命成像哪家實惠

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