熒光壽命是熒光分子在激發(fā)態(tài)停留的時間，這個時間可以反映熒光分子的內(nèi)在屬性和所處的微環(huán)境，是一個很有用的工具。以往，熒光壽命的測量和計算是件非常復(fù)雜和耗時的工作，只有少數(shù)專業(yè)的科學(xué)家關(guān)注和使用該工具。傳統(tǒng)的多色成像實驗根據(jù)光譜差異來設(shè)計，會有串色等限制，而且需要多次采集圖像，會造成樣品的光損傷。通過熒光壽命來進行成像，只需要拍攝一次就完成圖像采集，不但減少了成像時間，而且降低了激光對樣品的損傷。熒光壽命成像使用簡單，方便快捷，不需要進行參數(shù)調(diào)節(jié)。熒光壽命成像主要通過TCSPC技術(shù)實現(xiàn)。廣州顯微熒光壽命成像價格

熒光壽命成像FLIM在生物學(xué)上的應(yīng)用根據(jù)熒光分子種類可以分為三種：分別為自發(fā)熒光FLIM、外源分子探針FLIM和FRET-FLIM。自發(fā)熒光FLIM被普遍應(yīng)用于非標(biāo)記生物成像領(lǐng)域。所謂自發(fā)熒光，即生物細胞本身便包含熒光分子，稱為內(nèi)源性熒光分子團。FLIM通過對自發(fā)熒光分子團（如NAD(P)H和FAD）熒光壽命的考察，可以實現(xiàn)細胞代謝的監(jiān)測。這種方案無需人為對樣品加入熒光試劑便可以發(fā)射熒光，有效減少了熒光染料對樣品的毒性、熒光分子與樣品的非特異性結(jié)合及染料對生理性能的干擾影響。珠海三維熒光壽命成像操作步驟熒光壽命成像不需要考慮跳色的影響，從而免去了計算和去除跳色雜質(zhì)信號的麻煩；

熒光壽命成像裝置通常由激發(fā)光源、光電探測器、延遲儀器及圖像處理設(shè)備組成。門控儀器的光源通常為短脈沖的超快激光器，常見的成像設(shè)備是CCD，延遲儀器提供FLIM的控制信號。由于光電探測器和CCD等器件輸出的是光強度信息，熒光壽命圖像可以通過Rapid Lifetime Determination （RLD）和Weighted Nonlinear Least Square （WNLLS）兩種處理方法利用熒光強度圖像通過反演得出。熒光壽命成像（FLIM）有時域和頻域測量法，時域測量中主要有TCSPC技術(shù)、門控探測技術(shù)、條紋相機探測技術(shù)和頻閃技術(shù)；頻域測量法中主要是調(diào)制技術(shù)。每一種測量技術(shù)在測量樣品成像的過程中都有優(yōu)勢和劣勢，在實際測量樣品的熒光壽命時，需要根據(jù)實際的樣品裝填而綜合考慮選擇合適的熒光壽命測量技術(shù)。

作為熒光成像中除光譜和強度之外的新維度，當(dāng)前，熒光壽命成像主要應(yīng)用領(lǐng)域包括：用于樣品分離，如利用不同染料熒光壽命的差異將不同組織、正常與病變細胞等有效分離。熒光壽命成像可以提供熒光強度（光子數(shù)）和光子壽命的空間分布，具有200 nm的空間分辨率和皮秒量級的時間分辨率。通過雙光子激發(fā)可以直接檢測熒光和時間分辨的熒光壽命。這種無損檢測技術(shù)，無需解剖或?qū)ｉT制造分層樣品，不但可在樣品表面，還可在樣品表面以下實現(xiàn)深度解析測量。特別適用于新材料、光子學(xué)、光伏、光催化、生物材料、納米材料和納米復(fù)合材料以及其相關(guān)的原理探究和設(shè)計優(yōu)化。熒光壽命是微環(huán)境的相對參數(shù)，不受環(huán)境吸收、樣本濃度等因素影響。

在使用TCSPC測量熒光壽命的過程中，需要調(diào)節(jié)樣品的熒光強度，確保每次激發(fā)后較多只有一個熒光光子到達終止光電倍增管。TCSPC方法的突出優(yōu)點是靈敏度高、測量結(jié)果準(zhǔn)確、系統(tǒng)誤差小。采用該技術(shù)對樣品進行熒光壽命成像時，必須逐點測量樣品的熒光壽命，而每一點的測量時間又比較長，因此，通常認(rèn)為該技術(shù)不太適合熒光壽命測量。不過，近年來，隨著TCSPC技術(shù)和固體超快激光技術(shù)的發(fā)展，TCSPC技術(shù)已具備快速測量熒光壽命的條件。通過與激光共聚焦顯微鏡的結(jié)合，可以對樣品進行熒光壽命成像的測量。熒光壽命成像提供了壽命分布的二維圖形視圖。深圳單分子熒光壽命成像哪里有

熒光壽命取決于熒光分子所處的微環(huán)境，通過對樣品熒光壽命的測量和成像可以定量獲取樣品的功能信息。廣州顯微熒光壽命成像價格

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