XRD設(shè)備簡(jiǎn)介如下：儀器通過對(duì)樣品進(jìn)行X射線衍射，分析其衍射圖譜，獲得材料的成分、材料內(nèi)部原子或分子的結(jié)構(gòu)或形態(tài)等信息（材料主要成分、次要成份或微量成份的全晶相ID信息），具有制樣簡(jiǎn)單、無污染、快捷、測(cè)量精度高、能得到有關(guān)晶體完整性的大量信息等優(yōu)點(diǎn)，是研究物質(zhì)的物相和晶體結(jié)構(gòu)的主要方法。XRD設(shè)備的送樣要求：1）粉末樣品：顆粒度在10微米以下；塊體、薄膜樣品：表面打磨平滑，厚度不超過5毫米；尺寸不超過2厘米（平臺(tái)不提供制樣）。2）信息要求：若需樣品成分分析，需提供體系可能含有的全部元素。XRD設(shè)備適合任何用戶（包括新手或**）使用。廣州布魯克XRD

XRD設(shè)備的原理是啥樣的？XRD衍射儀X射線產(chǎn)生原理：X射線是由高速運(yùn)動(dòng)的電子流或其他高能輻射流（γ射線、中子流等）流與其他物質(zhì)發(fā)生碰撞時(shí)驟然減速，且與該物質(zhì)中的內(nèi)層原子相互作用而產(chǎn)生的。不同的靶材，因?yàn)槠湓有驍?shù)不同，外層的電子排布也不一樣，所以產(chǎn)生的特征X射線波長(zhǎng)不同。使用波長(zhǎng)較長(zhǎng)的靶材的XRD所得的衍射圖峰位沿2θ軸有規(guī)律拉伸；使用短波長(zhǎng)靶材的XRD譜沿2θ軸有規(guī)律地被壓縮。但需要注意的是，不管使用何種靶材的X射線管，從所得到的衍射譜中獲得樣品面間距d值是一致的，與靶材無關(guān)。便攜式XRD供應(yīng)商XRD設(shè)備適合小分子晶體學(xué)和蛋白質(zhì)晶體學(xué)的研究需要。

為什么XRD數(shù)據(jù)的峰強(qiáng)度較低，甚至沒有明顯的衍射峰呢？這主要是因?yàn)闃悠返难苌浞鍙?qiáng)度主要跟樣品本身的結(jié)晶度有關(guān)，其次跟樣品量以及儀器的功率都有關(guān)系。X射線衍射（XRD）是所有物質(zhì)，包括從流體、粉末到完整晶體，重要的無損分析工具。對(duì)材料學(xué)、物理學(xué)、化學(xué)、地質(zhì)、環(huán)境、納米材料、生物等領(lǐng)域來說，X射線衍射儀都是物質(zhì)結(jié)構(gòu)表征，以性能為導(dǎo)向研制與開發(fā)新材料，宏觀表象轉(zhuǎn)移至微觀認(rèn)識(shí)，建立新理論和質(zhì)量控制不可缺少的方法。XRD設(shè)備-X射線衍射儀的英文名稱是X-rayPowderdiffractometer簡(jiǎn)寫為XPD或XRD。有時(shí)會(huì)把它叫做X射線多晶體衍射儀，英文名稱為X-raypolycrystallinediffractometer簡(jiǎn)寫仍為XPD或XRD。

XRD，X射線衍射儀：X射線衍射儀的英文名稱是X-rayPowderdiffractometer簡(jiǎn)寫為XPD或是XRD。有時(shí)會(huì)把它叫做X射線多晶體衍射儀，英文名稱是X-raypolycrystallinediffractometer簡(jiǎn)寫仍為XPD或XRD。X射線衍射儀的形式多種多樣，用途各異，但其基本構(gòu)成很相似，主要部件包括4部分。（1）高穩(wěn)定度X射線源，提供測(cè)量所需的X射線，改變X射線管陽極靶材質(zhì)可改變X射線的波長(zhǎng)，調(diào)節(jié)陽極電壓可控制X射線源的強(qiáng)度。（2）樣品及樣品位置取向的調(diào)整機(jī)構(gòu)系統(tǒng)，樣品須是單晶、粉末、多晶或微晶的固體塊。（3）射線檢測(cè)器，檢測(cè)衍射強(qiáng)度或同時(shí)檢測(cè)衍射方向，通過儀器測(cè)量記錄系統(tǒng)或計(jì)算機(jī)處理系統(tǒng)可以得到多晶衍射圖譜數(shù)據(jù)。（4）衍射圖的處理分析系統(tǒng)，現(xiàn)代X射線衍射儀都附帶安裝有專門使用衍射圖處理分析軟件的計(jì)算機(jī)系統(tǒng)，它們的特點(diǎn)是自動(dòng)化和智能化。XRD設(shè)備具有光學(xué)元件可實(shí)現(xiàn)快速測(cè)量。

XRD設(shè)備的使用能為客戶解決的問題如下：（1）當(dāng)材料由多種結(jié)晶成分組成，需區(qū)分各成分所占比例，可使用XRD物相鑒定功能，分析各結(jié)晶相的比例。（2）很多材料的性能由結(jié)晶程度決定，可使用XRD結(jié)晶度分析，確定材料的結(jié)晶程度。（3）新材料開發(fā)需要充分了解材料的晶格參數(shù)，使用XRD可快捷測(cè)試出點(diǎn)陣參數(shù)，為新材料開發(fā)應(yīng)用提供性能驗(yàn)證指標(biāo)。（4）產(chǎn)品在使用過程中出現(xiàn)斷裂、變形等失效現(xiàn)象，可能涉及微觀應(yīng)力方面影響，使用XRD可以快捷測(cè)定微觀應(yīng)力。（5）納米材料由于顆粒細(xì)小，極易形成團(tuán)粒，采用通常的粒度分析儀往往會(huì)給出錯(cuò)誤的數(shù)據(jù)。采用X射線衍射線線寬法（謝樂法）可以測(cè)定納米粒子的平均粒徑。XRD設(shè)備可以應(yīng)用于多個(gè)行業(yè)。廣東進(jìn)口德國XRD儀器原理

XRD設(shè)備是目前應(yīng)用較為普遍的研究晶體結(jié)構(gòu)的裝置。廣州布魯克XRD

XRD設(shè)備原理如下：X射線是原子內(nèi)層電子在高速運(yùn)動(dòng)電子的轟擊下躍遷而產(chǎn)生的光輻射，主要有連續(xù)X射線和特征X射線兩種。晶體可被用作X光的光柵，這些很大數(shù)目的原子或離子/分子所產(chǎn)生的相干散射將會(huì)發(fā)生光的干涉作用，從而影響散射的X射線的強(qiáng)度增強(qiáng)或減弱。由于大量原子散射波的疊加，互相干涉而產(chǎn)生至大強(qiáng)度的光束稱為X射線的衍射線。滿足衍射條件，可應(yīng)用布拉格公式：2dsinθ=λ。應(yīng)用已知波長(zhǎng)的X射線來測(cè)量θ角，從而計(jì)算出晶面間距d，這是用于X射線結(jié)構(gòu)分析；另一個(gè)是應(yīng)用已知d的晶體來測(cè)量θ角，從而計(jì)算出特征X射線的波長(zhǎng)，進(jìn)而可在已有資料查出試樣中所含的元素。廣州布魯克XRD

廣州高測(cè)儀器有限公司致力于儀器儀表，是一家貿(mào)易型公司。公司業(yè)務(wù)涵蓋X射線衍射儀（XRD），XRF，熱重分析儀，激光粒度儀等，價(jià)格合理，品質(zhì)有保證。公司從事儀器儀表多年，有著創(chuàng)新的設(shè)計(jì)、強(qiáng)大的技術(shù)，還有一批專業(yè)化的隊(duì)伍，確保為客戶提供良好的產(chǎn)品及服務(wù)。廣州高測(cè)儀器憑借創(chuàng)新的產(chǎn)品、專業(yè)的服務(wù)、眾多的成功案例積累起來的聲譽(yù)和口碑，讓企業(yè)發(fā)展再上新高。