環(huán)境試驗設(shè)備校準前準備

1. 標準器及配套設(shè)備

1.主標準器：選用一等標準鉑電阻溫度計及標準濕度傳感器，其不確定度需優(yōu)于被校設(shè)備性能指標的1/3。

2.多點測量系統(tǒng)：配置多通道高精度數(shù)據(jù)采集儀及至少15支均勻分布的溫濕度探頭，用于檢測試驗箱內(nèi)溫濕度均勻性、波動度（按JJF 1101布點要求）。

3.輔助設(shè)備：風(fēng)速儀、輻射屏蔽罩、絕緣支架。

2. 環(huán)境條件

1.實驗室環(huán)境溫濕度穩(wěn)定在（23±3）℃、（50±10）%RH，遠離振動源、熱源及強電磁干擾。

2.設(shè)備放置于水平地面，四周預(yù)留≥1m散熱空間，電源單獨接地（接地電阻≤4Ω），電壓波動≤±5%。

3.校準前試驗設(shè)備需空載運行，預(yù)熱至常用溫濕度點并穩(wěn)定2小時以上。

3. 被校儀器檢查

1.外觀與結(jié)構(gòu)：箱體密封條無老化破損，傳感器安裝位置符合說明書要求，加濕水箱無結(jié)垢，冷凝排水管路暢通。

2.性能預(yù)檢：測試高溫段（85℃）波動度≤±0.5℃/30min，低溫段（-40℃）均勻性≤±2.0℃，濕度偏差≤±3.0%RH（參考出廠指標）。

3.安全功能：驗證超溫/超濕報警、過流保護、應(yīng)急排氣閥動作正常，門鎖聯(lián)鎖功能可靠。

4.軟件設(shè)置：禁用自適應(yīng)控制算法，鎖定程序運行參數(shù)，清理歷史數(shù)據(jù)確保校準過程無干擾。 實驗室到現(xiàn)場，服務(wù)無縫對接！宿遷溫濕度記錄儀熱工計量校準價格

數(shù)字溫度計校準前準備

1. 標準器及配套設(shè)備

1.標準溫度源：選用恒溫槽或干井爐，溫度波動度≤±0.1℃，均勻性≤±0.2℃，確保溫場穩(wěn)定。

2.主標準器：配備二等標準鉑電阻溫度計或高精度數(shù)字溫度計（最大允許誤差≤±0.05℃），用于溯源及實時監(jiān)測標準溫度源實際值。

3.數(shù)據(jù)采集設(shè)備：使用多通道高精度測溫儀（分辨率0.01℃，誤差≤±0.1℃）同步記錄被校數(shù)字溫度計與標準器數(shù)據(jù)，校準軟件需支持自動生成誤差曲線。

4.輔助工具：絕緣耐高溫探頭夾具、恒溫槽專業(yè)支架、防靜電鑷子。

2. 環(huán)境條件

1.實驗室溫度穩(wěn)定在（23±3）℃，相對濕度≤65%，避免陽光直射或空調(diào)氣流干擾溫場均勻性。

2.校準區(qū)域需遠離強電磁干擾源，工作臺接地良好，確保信號穩(wěn)定。

3.恒溫槽提前1小時預(yù)熱至校準點附近，減少溫度梯度對探頭的影響。

3. 被校儀器檢查

1.外觀與硬件檢查：外殼無破損，探頭無彎曲或絕緣層老化，顯示屏無斷碼，按鍵功能正常。

2.傳感器狀態(tài)：開機后自檢無報錯，探頭響應(yīng)時間≤5秒（參考規(guī)格書），低溫段無凝露。

3.功能驗證：在室溫及恒溫槽中測試自動關(guān)機、高低限報警、數(shù)據(jù)存儲/導(dǎo)出功能是否正常。

4.校準模式設(shè)置：禁用自動量程切換，鎖定采樣速率，恢復(fù)出廠設(shè)置以排除用戶參數(shù)干擾。 長寧區(qū)數(shù)字溫濕度計熱工計量檢測英菲熱工，享譽全球！

熱敏電阻測溫儀校準步驟

1. 連接與預(yù)熱
   • 將二等標準鉑電阻溫度計和被校準的熱敏電阻測溫儀的探頭同時放入恒溫槽中，確保兩者與恒溫槽內(nèi)的介質(zhì)充分接觸，且位置相對靠近，以保證測量的是相同溫度環(huán)境。
2. 零點校準
   • 將恒溫槽溫度設(shè)置為 0℃（或熱敏電阻測溫儀測量范圍的下限值），待溫度穩(wěn)定后，觀察熱敏電阻測溫儀的顯示值是否為 0℃（或下限值）。
3. 多點校準
   • 在熱敏電阻測溫儀的測量范圍內(nèi)，均勻選取至少 5 個校準點
   • 依次將恒溫槽溫度設(shè)置為各校準點溫度值，待溫度穩(wěn)定后，記錄標準鉑電阻溫度計測量的標準溫度值和熱敏電阻測溫儀的顯示值。
4. 示值誤差計算
   • 根據(jù)記錄的數(shù)據(jù)，計算熱敏電阻測溫儀在各校準點的示值誤差，示值誤差 = 熱敏電阻測溫儀顯示值 - 標準鉑電阻溫度計測量值。
   • 將示值誤差與熱敏電阻測溫儀的允許誤差進行比較，判斷是否符合精度要求。一般工業(yè)用熱敏電阻測溫儀的允許誤差為 ±0.5℃ - ±2℃，具體根據(jù)產(chǎn)品規(guī)格確定。
5. 重復(fù)性測試
   • 在同一校準點下，多次（一般不少于 3 次）測量熱敏電阻測溫儀的顯示值，計算其重復(fù)性誤差。重復(fù)性誤差 = （比較大顯示值 - **小顯示值）/ 測量次數(shù)的平均值。
   • 重復(fù)性誤差應(yīng)不大于允許誤差的 1/3，以確保測溫儀的測量重復(fù)性良好。

溫度數(shù)據(jù)采集儀基本結(jié)構(gòu)與**組件

溫度數(shù)據(jù)采集儀通常由以下模塊構(gòu)成： 英菲技術(shù)精，產(chǎn)業(yè)升級快！

• 溫度傳感器：熱電偶（K/J/T型）、熱電阻（PT100、PT1000）、熱敏電阻（NTC/PTC）、紅外傳感器等。
• 信號調(diào)理電路：包括放大、濾波、冷端補償（針對熱電偶）、線性化處理等。
• 模數(shù)轉(zhuǎn)換器（ADC）：將模擬電信號轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號，決定分辨率和采樣率。
• 微處理器（MCU）：控制采集時序、數(shù)據(jù)處理、存儲及通訊。
• 存儲模塊：內(nèi)置存儲器（SD卡、Flash）或外接存儲設(shè)備。
• 通訊接口：USB、RS-485、Wi-Fi、藍牙、4G等（用于數(shù)據(jù)傳輸）。
• 電源管理：電池或外部供電，支持低功耗模式。

工作用輻射溫度計校準步驟

1.連接與預(yù)熱

1.將標準輻射溫度計與待校溫度計對準黑體輻射源中心，保持相同測量距離，確保測量視場完全覆蓋黑體腔開口。

2.開啟黑體輻射源及溫度計電源，預(yù)熱至少30分鐘（具體時間參照設(shè)備說明書）。

2.下限校準

1.設(shè)置黑體源溫度為量程下限，待溫度穩(wěn)定后（波動≤±1℃），記錄標準溫度計示值T1和待校溫度計示值T2。

2.調(diào)整待校溫度計零點/偏移參數(shù)，使T2=T1±允許誤差。

3.量程校準

1.將黑體源升溫至量程上限，穩(wěn)定后記錄標準值與待校值。

2.通過增益調(diào)整功能修正量程偏差，確保上限點誤差在允許范圍內(nèi)。

4.多點校準

1.在量程范圍內(nèi)均勻選取5個校準點。

2.每個溫度點穩(wěn)定后同步記錄標準值和被校值，計算示值誤差Δ=被校值-標。準值

3.繪制溫度-誤差曲線，驗證線性度（典型要求≤±1%FS）。

5.回程誤差測試

1.從下限至上限按50℃間隔逐步升溫測試，記錄各點輸出值。

2.從上限以相同間隔逐步降溫測試，計算同一溫度點升/降過程的較大差值。

3.回程誤差應(yīng)≤基本誤差限的1/2。

6.穩(wěn)定性驗證

1.在中間量程點持續(xù)工作2小時，每15分鐘記錄1次測量值。

2.計算比較大漂移量，應(yīng)滿足年穩(wěn)定性指標。

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校準前準備

1. 設(shè)備準備：標準器采用鉑電阻溫度計或輻射溫度計，準備滿足校準規(guī)范的輻射源，如高精度的黑體輻射源。
2. 環(huán)境條件：校準時的溫度應(yīng)為 23℃±5℃，相對濕度應(yīng)不大于 85%（無結(jié)露），外界無較大干擾源。
3. 人員要求：校準人員應(yīng)熟悉校準規(guī)程和待測設(shè)備的性能參數(shù)，會規(guī)范使用設(shè)備，比較好是通過培訓(xùn)或有同種校準經(jīng)驗的人員。

校準流程

1. 外觀檢查：檢查待校準熱像儀外觀是否潔凈，有無形變、破損，數(shù)字顯示是否清晰，各部件是否齊全、連接是否緊固，設(shè)備的名稱、型號、性能參數(shù)、使用說明等資料是否齊全。
2. 基本功能檢測：確認待校準設(shè)備部件齊全，按鍵、電源等正常，正常工作。
3. 性能檢測
   • 準備校準實驗室：在校準實驗室中，使用高精度的熱像儀參考源，將參考源均勻排列，以便熱像儀進行測量。
   • 執(zhí)行校準：熱像儀依次指向每個參考源，并記錄每個溫度下的信號值。校準軟件捕獲這些信號值和參考源的溫度值，并用于繪制曲線。
   • 數(shù)據(jù)分析：校準完成后，將熱像儀的數(shù)據(jù)載入校準軟件中進行分析，確定熱像儀的準確性和精度。

校準結(jié)果處理

1. 判定：根據(jù)校準數(shù)據(jù)判定被測儀器，如所有校準項目均合格則出具檢測證書，如有不合格項目，要做好標注，出具檢測結(jié)果通知。