用相控陣探頭對(duì)焊縫進(jìn)行檢測(cè)時(shí),無(wú)需像普通單探頭那樣在焊縫兩側(cè)頻繁地來(lái)回前后左右移動(dòng),而相控陣探頭沿著焊縫長(zhǎng)度方向平行于焊縫進(jìn)行直線掃查,對(duì)焊接接頭進(jìn)行全體積檢測(cè)。該掃查方式可借助于裝有陣列探頭的機(jī)械掃查器沿著精確定位的軌道滑動(dòng)完成,也采用手動(dòng)方式完成,可實(shí)現(xiàn)快速檢測(cè),檢測(cè)效率非常高。超聲相控陣技術(shù)的基本思想來(lái)自于雷達(dá)電磁波相控陣技術(shù)。相控陣?yán)走_(dá)是由許多輻射單元排成陣列組成,通過控制陣列天線中各單元的幅度和相位,調(diào)整電磁波的輻射方向,在一定空間范圍內(nèi)合成靈活快速的聚焦掃描的雷達(dá)波束。超聲相控陣換能器由多個(gè)單獨(dú)的壓電晶片組成陣列,按一定的規(guī)則和時(shí)序用電子系統(tǒng)控制激發(fā)各個(gè)晶片單元,來(lái)調(diào)節(jié)控制焦點(diǎn)的位置和聚焦的方向。根據(jù)相控陣探頭的功能可將探頭劃分為接觸式、延遲線式、角度聲束、或水浸式等類型。池州雙線陣相控陣探頭價(jià)錢
相控陣探頭的比較分類:相控陣扇形掃查、線性掃查分別與A型掃描超聲檢測(cè)斜探頭、直探頭校準(zhǔn)的方法相似。扇形掃查的聲束入射到兩個(gè)半徑為50mm與100m同心圓,線性掃查聲束入射兩個(gè)不同厚度的試塊,系統(tǒng)通過入射到兩個(gè)反射體的發(fā)射與接收時(shí)間關(guān)系計(jì)算出聲速。校準(zhǔn)聲速的目的是讓儀器計(jì)算的聲速與被檢工件聲速相近,減少測(cè)量誤差。相控陣探頭扇形掃查:調(diào)節(jié)角度指針至設(shè)置的扇形掃查范圍中心角度,例如:扇形掃查范圍為30°-70°,調(diào)節(jié)角度指針至50°。將探頭至于CSK-IA試塊,前后移動(dòng)探頭找到兩個(gè)同心半圓的較大反射回波,固定探頭,分別移動(dòng)閘門套住回波依次“得到位”,較后確定完成聲速校準(zhǔn)。相控陣探頭線性掃查:移動(dòng)探頭找到探頭較大回波,閘門依次套住回波“得到位”,較后確定完成聲速校準(zhǔn)。四川汽車檢測(cè)相控陣探頭現(xiàn)貨隨著晶片寬度的減小,相控陣探頭的聲束電子偏轉(zhuǎn)的性能會(huì)增強(qiáng)。
相控陣探頭的應(yīng)用技術(shù):波前形成:如果把單晶探頭看做一個(gè)向被測(cè)介質(zhì)推動(dòng)的活塞聲源、單片磁盤、或平板,則其產(chǎn)生的聲波從數(shù)學(xué)角度上看可以被定型為從大量點(diǎn)源發(fā)出的聲波的總和。聲束擴(kuò)散:原則上講,由探頭產(chǎn)生的聲波會(huì)沿直線傳播,直到遇到材料介質(zhì)的邊緣。但是如果聲波的聲程長(zhǎng)度比其近場(chǎng)距離長(zhǎng),則聲束的直徑還會(huì)增加,會(huì)像聚光燈的光束一樣發(fā)生擴(kuò)散。衰減:隨著聲波在介質(zhì)中的傳播,由于聲能在通過材料的微結(jié)構(gòu)時(shí)不能得到完全傳播,由超聲探頭生成的有組織的波前便會(huì)衰弱下來(lái)。有組織的機(jī)械振動(dòng)(聲能)會(huì)轉(zhuǎn)化為無(wú)序的機(jī)械振動(dòng)(熱能),直到不能再探測(cè)到波前為止。這個(gè)過程被稱為聲衰減。
相控陣探頭的波形持續(xù):波形持續(xù)是指每次探頭被脈沖觸發(fā)后生成的波動(dòng)周期的數(shù)量。窄帶寬探頭要比寬帶寬探頭生成的波動(dòng)周期數(shù)量多。晶片直徑、基底材料、電子調(diào)諧、探頭激勵(lì)的方式都會(huì)影響波形持續(xù)。帶寬:帶寬是指處于特定波幅范圍內(nèi)的頻率響應(yīng)的部分。在這種情況下,應(yīng)該注意的是典型的NDT探頭不會(huì)生成獨(dú)特頻率的聲波,而只能在以額定的頻率值為中心的頻率范圍內(nèi)生成聲波。工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)將這個(gè)帶寬確定在–6dB(或半波幅)的位置處。靈敏度:靈敏度是指激勵(lì)脈沖波幅與從指定目標(biāo)反射的回波波幅之間的關(guān)系。相控陣探頭的頻率越高,那么分辨率和聚焦力度就越高。
什么是相控陣探頭?陣列是大量的同類物體排列組合的方式。NDT超聲陣列的較簡(jiǎn)單的形式應(yīng)該是以增加檢測(cè)的覆蓋范圍和/或提高檢測(cè)速度為目的,將一系列單晶探頭排列在一起的形式。以下為應(yīng)用這種陣列探頭的示例:管件檢測(cè):在探測(cè)管件的裂縫與分層缺陷,以及測(cè)量管件的總體厚度時(shí)經(jīng)常會(huì)使用多個(gè)探頭。鍛件金屬工件的檢測(cè):在這種檢測(cè)中,通常需要使用多個(gè)探頭在不同深度聚焦以探測(cè)出以帶狀形式排列的細(xì)小缺陷。復(fù)合材料及金屬檢測(cè):在材料的表面上線性排列多個(gè)探頭可以提高對(duì)復(fù)合材料中的分層缺陷或金屬中的腐蝕的檢測(cè)能力。進(jìn)行這些檢測(cè),不只需要高速、多通道超聲設(shè)備帶有適當(dāng)?shù)拿}沖發(fā)生器、接收器,以及可對(duì)每個(gè)通道進(jìn)行處理的邏輯門,還需要將每個(gè)探頭仔細(xì)固定好,以正確設(shè)置檢測(cè)區(qū)域。用戶對(duì)相控陣探頭的類型選擇需要考慮到被測(cè)材料的檢測(cè)速度。天津水楔塊相控陣探頭直銷
相控陣探頭的分辨率會(huì)隨著頻率的升高而增強(qiáng)。池州雙線陣相控陣探頭價(jià)錢
相控陣探頭根據(jù)以下基本參數(shù)從功能上被分成不同的類別:晶片數(shù)量:較常用的相控陣探頭一般有16到128個(gè)晶片,有些探頭的晶片多達(dá)256個(gè)。隨著晶片數(shù)量的增多,聲波聚焦與電子偏轉(zhuǎn)的能力會(huì)增強(qiáng),同時(shí)檢測(cè)所覆蓋的區(qū)域也會(huì)擴(kuò)大,然而探頭和儀器的成本費(fèi)用也會(huì)增加。每個(gè)晶片被單獨(dú)脈沖激勵(lì),以創(chuàng)建希望得到的波前。因此這些晶片排列方向的維度通常被稱為主動(dòng)方向或偏轉(zhuǎn)方向。頻率:超聲缺陷探測(cè)一般使用2MHz到10MHz之間的頻率,因此大多數(shù)相控陣探頭都屬于這個(gè)頻率范圍。此外,還有頻率更低或更高的探頭。使用常規(guī)探頭,穿透性能會(huì)隨著頻率的降低而增加,而分辨率及聚焦銳利度會(huì)隨著頻率的升高而增強(qiáng)。池州雙線陣相控陣探頭價(jià)錢
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