在實(shí)際使用中，感興趣的是輻射遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū)。通常的應(yīng)用中，我們應(yīng)該避免收、發(fā)天線(xiàn)處在近場(chǎng)區(qū)范圍，因?yàn)榇藭r(shí)不但天線(xiàn)的方向圖沒(méi)有形成，而且在近場(chǎng)范圍內(nèi)的任何導(dǎo)電體甚至介質(zhì)物體都被看成是天線(xiàn)電磁邊界條件的一部分，它影響了原來(lái)的天線(xiàn)，和原來(lái)的天線(xiàn)一起共同修正和改變了遠(yuǎn)場(chǎng)的方向圖輻射特性，從而影響了實(shí)際使用效果。某些特殊應(yīng)用場(chǎng)合，天線(xiàn)和其它物體靠得很近，從而使天線(xiàn)的輻射特性變得極其復(fù)雜，比如手機(jī)天線(xiàn)置于人體附近的情況，這需要專(zhuān)門(mén)予以討論。電場(chǎng)與磁場(chǎng)的運(yùn)行方向互相垂直，并都垂直于電磁波的傳播方向。安徽儀器儀表近場(chǎng)輻射抑制方式

近場(chǎng)探頭是用于配合頻譜分析儀查找干擾源的設(shè)備。在認(rèn)證機(jī)構(gòu)中，使用經(jīng)過(guò)各類(lèi)校準(zhǔn)的天線(xiàn)進(jìn)行輻射泄露測(cè)試，都是進(jìn)行的遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)量。標(biāo)準(zhǔn)的遠(yuǎn)場(chǎng)輻射泄漏測(cè)試，可以準(zhǔn)確定量的告訴我們被測(cè)件是否符合相應(yīng)的EMI標(biāo)準(zhǔn)。但是遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)試無(wú)法告訴工程師，嚴(yán)重的輻射問(wèn)題到底是來(lái)自于殼體的縫隙，還是來(lái)自連接的電纜，或USB，LAN之類(lèi)的通信接口。在這種情況下，我們可以通過(guò)近場(chǎng)測(cè)試的方法來(lái)定位輻射的真正來(lái)源。電磁場(chǎng)是由電場(chǎng)和磁場(chǎng)構(gòu)成。在近場(chǎng)，電場(chǎng)和磁場(chǎng)共同存在，其強(qiáng)度不構(gòu)成固定關(guān)系。以電場(chǎng)為主還是磁場(chǎng)為主，主要是由發(fā)射源的類(lèi)型決定的。簡(jiǎn)而言之，在高電壓，低電流的區(qū)域，電場(chǎng)大于磁場(chǎng)。高電流，低電壓的區(qū)域，磁場(chǎng)大于電場(chǎng)。同時(shí)在主要的EMI測(cè)試頻段，磁場(chǎng)隨著距離的變化要快于電場(chǎng)。浙江手機(jī)近場(chǎng)輻射分析儀價(jià)格超出天線(xiàn)以外后，電磁場(chǎng)就會(huì)自動(dòng)脫離為能量包單獨(dú)傳播出去。

輻射近場(chǎng)測(cè)量的研究與誤差分析的探討是同時(shí)進(jìn)行的，研究結(jié)果表明：輻射近場(chǎng)測(cè)量的主要誤差源為18項(xiàng)，大致分為4個(gè)方面，即探頭誤差、機(jī)械掃描定位誤差、測(cè)量系統(tǒng)誤差以及測(cè)量環(huán)境誤差。對(duì)于平面輻射近場(chǎng)測(cè)量的誤差分析已經(jīng)完成，計(jì)算機(jī)模擬及各項(xiàng)誤差的上界也已給出；柱面、球面輻射近場(chǎng)測(cè)量的誤差分析尚未完成。對(duì)于平面輻射近場(chǎng)測(cè)量而言，由基本理論可知，在θ=-90°或90°（θ為場(chǎng)點(diǎn)偏離天線(xiàn)口面法線(xiàn)方向的方向角）時(shí)，這種方法的精度明顯變差，因此平面輻射近場(chǎng)測(cè)量適用于天線(xiàn)方向圖為單向筆形波束天線(xiàn)的測(cè)量，可信域（-θ，θ）中的θ值與近場(chǎng)掃描面和取樣間距有如下關(guān)系（一維情況）：θ=arctg［（L-X）/2d］，式中L為掃描面的尺寸；X為天線(xiàn)口徑面的尺寸；d為掃描面到天線(xiàn)口徑面的距離。

平面散射近場(chǎng)測(cè)量的基本理論已由文獻(xiàn)［12～15］給出。其基本原理是綜合平面波法，綜合平面波的基本思想為：如果對(duì)一個(gè)由N個(gè)輻射單元組成的線(xiàn)陣同時(shí)進(jìn)行激勵(lì)，每個(gè)輻射單元產(chǎn)生一個(gè)準(zhǔn)球面波e（θ，φ），選擇一個(gè)與方向角（θ，φ）有關(guān)的權(quán)函數(shù)W（θ，φ）對(duì)每個(gè)e（θ，φ）進(jìn)行加權(quán)并求和（線(xiàn)性系統(tǒng)），則所得的加權(quán)求和函數(shù)近似為均勻平面波，對(duì)不同方向的（θ，φ）選擇不同W（θ，φ）就可以獲得不同方向上的平面波對(duì)被測(cè)目標(biāo)的照射。這一過(guò)程實(shí)現(xiàn)了對(duì)平面波的綜合（這與綜合口徑雷達(dá)SAR的概念極為相似），并很容易在計(jì)算機(jī)上完成。天線(xiàn)元件的電流產(chǎn)生磁場(chǎng)，方向每半個(gè)周期變換一次。

輻射近場(chǎng)測(cè)量是用一個(gè)已知探頭天線(xiàn)（口徑幾何尺寸遠(yuǎn)小于1λ）在離開(kāi)輻射體（通常是天線(xiàn)）3λ～5λ的距離上掃描測(cè)量（按照取樣定理進(jìn)行抽樣）一個(gè)平面或曲面上電磁場(chǎng)的幅度和相位數(shù)據(jù)，再經(jīng)過(guò)嚴(yán)格的數(shù)學(xué)變換計(jì)算出天線(xiàn)遠(yuǎn)區(qū)場(chǎng)的電特性。當(dāng)取樣掃描面為平面時(shí)，則稱(chēng)為平面近場(chǎng)測(cè)量；若取樣掃描面為柱面，則稱(chēng)為柱面近場(chǎng)測(cè)量；如果取樣掃描面為球面，則稱(chēng)為球面近場(chǎng)測(cè)量。其主要研究方法為模式展開(kāi)法，該方法的基本思想為：空間任意一個(gè)時(shí)諧電磁波可以分解為沿各個(gè)方向傳播的平面波或柱面波或球面波之和。遠(yuǎn)場(chǎng)分量的強(qiáng)度距離衰減二次組件。安徽儀器儀表近場(chǎng)輻射抑制方式

反應(yīng)區(qū)里，電場(chǎng)和磁場(chǎng)是很強(qiáng)的，并且可以單獨(dú)測(cè)量。安徽儀器儀表近場(chǎng)輻射抑制方式

輻射近場(chǎng)測(cè)量的研究：為了反映脈沖工作狀態(tài)和消除環(huán)境及其他因素對(duì)測(cè)量數(shù)據(jù)的影響，時(shí)域測(cè)量是一個(gè)良好的解決此類(lèi)問(wèn)題的途徑，但目前處于研究階段。輻射近場(chǎng)掃頻測(cè)量的研究：就一般情況而言，天線(xiàn)都在一個(gè)頻帶內(nèi)工作，因此，各項(xiàng)電指標(biāo)都是頻率的函數(shù)，為了快速獲得各個(gè)頻率點(diǎn)的電指標(biāo)，就需要進(jìn)行掃頻測(cè)量。掃頻測(cè)量的理論與點(diǎn)頻的理論完全一樣，只是在探頭掃描時(shí)，收發(fā)測(cè)量系統(tǒng)作掃頻測(cè)量。近場(chǎng)測(cè)量對(duì)天線(xiàn)口徑場(chǎng)診斷的精度和速度：近場(chǎng)測(cè)量對(duì)常規(guī)陣列天線(xiàn)口徑場(chǎng)的診斷有較好的診斷精度，但對(duì)于很低副瓣天線(xiàn)陣列而言，診斷精度和速度還需要進(jìn)一步研究。安徽儀器儀表近場(chǎng)輻射抑制方式