許多頻譜分析儀重量輕，可以方便地移入測(cè)試室內(nèi)進(jìn)行EMI診斷的連續(xù)觀(guān)察。測(cè)試人員可以用電場(chǎng)或磁場(chǎng)探頭探測(cè)被測(cè)設(shè)備泄漏區(qū)域。通常這些區(qū)域包括像箱體接縫、顯示屏前面板、接口線(xiàn)纜、鍵盤(pán)線(xiàn)纜、鍵盤(pán)、電源線(xiàn)和箱體開(kāi)口部位等，探頭也可深入被測(cè)設(shè)備的箱體內(nèi)進(jìn)行探測(cè)。為了確切指出很大輻射區(qū)域，要求探頭靈敏度不要太高，通常，一段小線(xiàn)頭與一同軸線(xiàn)纜一起放入BNC連接器內(nèi)就可以了。此外，應(yīng)注意近場(chǎng)探頭探測(cè)過(guò)程中頻譜分析儀上所顯示的近場(chǎng)測(cè)試值可能會(huì)較大，但這不一定就是遠(yuǎn)場(chǎng)輻射的主要原因。EMI診斷中的改變帶寬法，通過(guò)改變頻譜分析儀分辨帶寬，信號(hào)的幅值可能也可能不發(fā)生變化。廣東可視化EMI診斷器件選型
EMI電磁干擾場(chǎng)地勘測(cè)：便攜式的頻譜分析儀與寬帶天線(xiàn)的組合在探測(cè)電磁干擾過(guò)程中特別有用。在1KHz～1GHz之間的輻射電磁干擾探測(cè)只用一臺(tái)頻譜分析儀和一根天線(xiàn)就可完成。不同地理位置環(huán)境干擾的勘測(cè)有助于確定好的的EMI開(kāi)闊測(cè)試場(chǎng)地?？睖y(cè)的信息也可用于確定安置EMI敏感校驗(yàn)或設(shè)計(jì)組的好的位置。大多數(shù)情況下，來(lái)自建筑物外小的環(huán)境電磁干擾區(qū)域趨于建筑物的中間。對(duì)于多層建筑物，地下室或較低樓層通常具有小的環(huán)境電磁干擾。頻譜分析儀在電磁敏感度測(cè)試過(guò)程中用于監(jiān)視被測(cè)設(shè)備上的傳導(dǎo)或輻射電平。廣東可視化EMI診斷器件選型在審查設(shè)計(jì)并試圖判斷問(wèn)題源時(shí)，理解測(cè)試室如何生成這種報(bào)告是很有幫助的。
隨著汽車(chē)電動(dòng)化、智能化以及網(wǎng)絡(luò)化，各種傳感器和電子設(shè)備陸續(xù)的在汽車(chē)之中使用，汽車(chē)出現(xiàn)EMC問(wèn)題的幾率也就越來(lái)越大了。同時(shí)，隨著國(guó)內(nèi)外的EMC標(biāo)準(zhǔn)、法規(guī)的不斷制定和修訂，技術(shù)的難度也越來(lái)越高了。整車(chē)企業(yè)對(duì)產(chǎn)品EMC性能的要求也將越來(lái)越嚴(yán)格，零部件的企業(yè)面臨的技術(shù)、成本壓力也就會(huì)越來(lái)越大。EMI診斷系統(tǒng)，具有低成本，使用簡(jiǎn)單等優(yōu)勢(shì)，EMI診斷系統(tǒng)可以實(shí)時(shí)的記錄干擾的等級(jí)，也可以幫助汽車(chē)電子研發(fā)工程師準(zhǔn)確的定位電磁干擾的問(wèn)題。
理解EMI報(bào)告在討論排查技術(shù)之前，介紹一下EMI測(cè)試報(bào)告是很有必要的。乍一看，EMI報(bào)告似乎直接提供了有關(guān)特定頻率點(diǎn)故障的信息，因此事情看起來(lái)很簡(jiǎn)單，就是使用報(bào)告中的數(shù)據(jù)確定設(shè)計(jì)中的哪個(gè)元件包含問(wèn)題源頻率，并特別加以注意，以便通過(guò)下一輪測(cè)試。然而，雖然許多測(cè)試條件在報(bào)告中是明確表示的，但一些需要考慮的重要事情可能并不那么明顯。在審查設(shè)計(jì)并試圖判斷問(wèn)題源時(shí)，理解測(cè)試室如何生成這種報(bào)告是很有幫助的。需要記住的一個(gè)好規(guī)則是，準(zhǔn)峰值檢測(cè)值總是小于或等于峰值檢測(cè)值，永遠(yuǎn)不會(huì)大于峰值檢測(cè)值。因此你可以使用峰值檢測(cè)來(lái)開(kāi)展你的EMI排查和診斷。你不需要達(dá)到與EMI部門(mén)或?qū)嶒?yàn)室掃描同等程度的精度，因?yàn)闇y(cè)量都是相對(duì)值。如果你的實(shí)驗(yàn)室報(bào)告中的準(zhǔn)峰值檢測(cè)值表明，設(shè)計(jì)超過(guò)了3dB，峰值檢測(cè)值超過(guò)了6dB，那么你就知道你需要的修復(fù)工作是將信號(hào)減小3dB或更多。EMI是指電磁波與電子元件作用后而產(chǎn)生的干擾現(xiàn)象。
EMC測(cè)試伴隨著產(chǎn)品研制的全過(guò)程，眾所周知，一個(gè)產(chǎn)品的電磁兼容性能是否達(dá)標(biāo)靠什么證明呢？無(wú)疑是試驗(yàn)，試驗(yàn)是檢驗(yàn)產(chǎn)品性能好壞的單獨(dú)手段。然而，EMC試驗(yàn)不單單承擔(dān)對(duì)產(chǎn)品性能終檢驗(yàn)的任務(wù)，在產(chǎn)品設(shè)計(jì)階段也需要有輔助試驗(yàn)手段檢驗(yàn)每一個(gè)設(shè)計(jì)思想及每一項(xiàng)設(shè)計(jì)措施是否正確。特別是復(fù)雜的電子系統(tǒng)，在方案論證階段需要制定EMC試驗(yàn)規(guī)范，在單機(jī)設(shè)備初樣、正樣研制階段需要對(duì)每項(xiàng)EMC指標(biāo)進(jìn)行測(cè)量，組成系統(tǒng)之后需要進(jìn)行系統(tǒng)級(jí)的EMC測(cè)試。系統(tǒng)級(jí)EMC測(cè)試的目的一方面檢驗(yàn)系統(tǒng)自身兼容性，另一方面檢驗(yàn)該電子系統(tǒng)與特定的工作環(huán)境是否兼容。一般來(lái)說(shuō)，近場(chǎng)探針沒(méi)有校準(zhǔn)數(shù)據(jù)，因此它們適合用于相對(duì)測(cè)量。成都可視化EMI診斷測(cè)試儀
問(wèn)題信號(hào)發(fā)生的越頻繁，問(wèn)題信號(hào)的一定幅度就越可能被準(zhǔn)峰值測(cè)量所屏蔽。廣東可視化EMI診斷器件選型
射頻泄漏區(qū)的信息有利于設(shè)備設(shè)計(jì)的改善。結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)可以通過(guò)襯墊密封、附加屏蔽或一個(gè)全新的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)來(lái)改善。對(duì)于勉強(qiáng)可接受的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)來(lái)說(shuō)，應(yīng)特別注意箱體內(nèi)的電分布情況。例如：數(shù)字電路板不應(yīng)放在靠近易產(chǎn)生射頻泄漏的區(qū)域。應(yīng)注意屏蔽效能值不只從發(fā)射角度而且從敏感性角度來(lái)考慮都是有用的。如果EMI能從箱體出來(lái)，同樣它也能進(jìn)入箱體。因此，電路遠(yuǎn)離射頻窗口有助于防止因外界EMI源引起的電路敏感性問(wèn)題。在大屏蔽間或大屏蔽箱體的屏蔽效能測(cè)試中，頻譜分析儀是一種重要的測(cè)試和診斷工具。廣東可視化EMI診斷器件選型
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