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寶山區(qū)質(zhì)量電子元器件怎么樣

來(lái)源: 發(fā)布時(shí)間:2025-06-12

在點(diǎn)接觸型晶體管開發(fā)成功的同時(shí),結(jié)型晶體管論就已經(jīng)提出,但是直至人們能夠制備超高純度的單晶以及能夠任意控制晶體的導(dǎo)電類型以后,結(jié)型晶體管材真正得以出現(xiàn)。1950年,具有使用價(jià)值的**早的鍺合金型晶體管誕生。1954年,結(jié)型硅晶體管誕生。此后,人們提出了場(chǎng)效應(yīng)晶體管的構(gòu)想。隨著無(wú)缺陷結(jié)晶和缺陷控制等材料技術(shù)、晶體外誕生長(zhǎng)技術(shù)和擴(kuò)散摻雜技術(shù)、耐壓氧化膜的制備技術(shù)、腐蝕和光刻技術(shù)的出現(xiàn)和發(fā)展,各種性能優(yōu)良的電子器件相繼出現(xiàn),電子元器件逐步從真空管時(shí)代進(jìn)入晶體管時(shí)代和大規(guī)模、超大規(guī)模集成電路時(shí)代。逐步形成作為高技術(shù)產(chǎn)業(yè)**的半導(dǎo)體工業(yè)。電路類元件:二極管,電阻器等。寶山區(qū)質(zhì)量電子元器件怎么樣

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B 檢測(cè)絕緣性能 將萬(wàn)用表置于R×10k擋,做如下幾種狀態(tài)測(cè)試:(1)初級(jí)繞組與次級(jí)繞組之間的電阻值;(2)初級(jí)繞組與外殼之間的電阻值;(3)次級(jí)繞組與外殼之間的電阻值。上述測(cè)試結(jié)果分出現(xiàn)三種情況:(1)阻值為無(wú)窮大:正常;(2)阻值為零:有短路性故障;(3)阻值小于無(wú)窮大,但大于零:有漏電性故障。3 電源變壓器的檢測(cè)A 通過(guò)觀察變壓器的外貌來(lái)檢查其是否有明顯異?,F(xiàn)象。如線圈引線是否斷裂,脫焊,絕緣材料是否有燒焦痕跡,鐵心緊固螺桿是否有松動(dòng),硅鋼片有無(wú)銹蝕,繞組線圈是否有外露等。寶山區(qū)質(zhì)量電子元器件怎么樣電子元器件的發(fā)展史其實(shí)就是一部濃縮的電子發(fā)展史。

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(2)、估測(cè)溫度系數(shù)αt 先在室溫t1下測(cè)得電阻值Rt1,再用電烙鐵作熱源,靠近熱敏電阻Rt,測(cè)出電阻值RT2,同時(shí)用溫度計(jì)測(cè)出此時(shí)熱敏電阻RT表面的平均溫度t2再進(jìn)行計(jì)算。7 壓敏電阻的檢測(cè)。用萬(wàn)用表的R×1k擋測(cè)量壓敏電阻兩引腳之間的正、反向絕緣電阻,均為無(wú)窮大,否則,說(shuō)明漏電流大。若所測(cè)電阻很小,說(shuō)明壓敏電阻已損壞,不能使用。8 光敏電阻的檢測(cè)。A 用一黑紙片將光敏電阻的透光窗口遮住,此時(shí)萬(wàn)用表的指針基本保持不動(dòng),阻值接近無(wú)窮大。此值越大說(shuō)明光敏電阻性能越好。若此值很小或接近為零,說(shuō)明光敏電阻已燒穿損壞,不能再繼續(xù)使用。

對(duì)于表面無(wú)任何痕跡的熔斷電阻器好壞的判斷,可借助萬(wàn)用表R×1擋來(lái)測(cè)量,為保證測(cè)量準(zhǔn)確,應(yīng)將熔斷電阻器一端從電路上焊下。若測(cè)得的阻值為無(wú)窮大,則說(shuō)明此熔斷電阻器已失效開路,若測(cè)得的阻值與標(biāo)稱值相差甚遠(yuǎn),表明電阻變值,也不宜再使用。在維修實(shí)踐中發(fā)現(xiàn),也有少數(shù)熔斷電阻器在電路中被擊穿短路的現(xiàn)象,檢測(cè)時(shí)也應(yīng)予以注意。4 電位器的檢測(cè)。檢查電位器時(shí),首先要轉(zhuǎn)動(dòng)旋柄,看看旋柄轉(zhuǎn)動(dòng)是否平滑,開關(guān)是否靈活,開關(guān)通、斷時(shí)“喀噠”聲是否清脆,并聽一聽電位器內(nèi)部接觸點(diǎn)和電阻體摩擦的聲音,如有“沙沙”聲,說(shuō)明質(zhì)量不好。用萬(wàn)用表測(cè)試時(shí),先根據(jù)被測(cè)電位器阻值的大小,選擇好萬(wàn)用表的合適電阻擋位,然后可按下述方法進(jìn)行檢測(cè)。電感器用符號(hào)L表示,它的基本單位是亨利(H),常用毫亨(mH)為單位。

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由于社會(huì)發(fā)展的需要,電子裝置變的越來(lái)越復(fù)雜,這就要求了電子裝置必須具有可靠性、速度快、消耗功率小以及質(zhì)量輕、小型化、成本低等特點(diǎn)。自20世紀(jì)50年代提出集成電路的設(shè)想后,由于材料技術(shù)、器件技術(shù)和電路設(shè)計(jì)等綜合技術(shù)的進(jìn)步,在20世紀(jì)60年代研制成功了***代集成電路。在半導(dǎo)體發(fā)展史上。集成電路的出現(xiàn)具有劃時(shí)代的意義:它的誕生和發(fā)展推動(dòng)了銅芯技術(shù)和計(jì)算機(jī)的進(jìn)步,使科學(xué)研究的各個(gè)領(lǐng)域以及工業(yè)社會(huì)的結(jié)構(gòu)發(fā)生了歷史性變革。定義1:電容器,顧名思義,是“裝電的容器”,是一種容納電荷的器件。寶山區(qū)質(zhì)量電子元器件怎么樣

故在電路中起著自動(dòng)調(diào)節(jié)、安全保護(hù)、轉(zhuǎn)換電路等作用。寶山區(qū)質(zhì)量電子元器件怎么樣

5 正溫度系數(shù)熱敏電阻(PTC)的檢測(cè)。檢測(cè)時(shí),用萬(wàn)用表R×1擋,具體可分兩步操作:A 常溫檢測(cè)(室內(nèi)溫度接近25℃);將兩表筆接觸PTC熱敏電阻的兩引腳測(cè)出其實(shí)際阻值,并與標(biāo)稱阻值相對(duì)比,二者相差在±2Ω內(nèi)即為正常。實(shí)際阻值若與標(biāo)稱阻值相差過(guò)大,則說(shuō)明其性能不良或已損壞。B 加溫檢測(cè);在常溫測(cè)試正常的基礎(chǔ)上,即可進(jìn)行第二步測(cè)試—加溫檢測(cè),將一熱源(例如電烙鐵)靠近PTC熱敏電阻對(duì)其加熱,同時(shí)用萬(wàn)用表監(jiān)測(cè)其電阻值是否隨溫度的升高而增大,如是,說(shuō)明熱敏電阻正常,若阻值無(wú)變化,說(shuō)明其性能變劣,不能繼續(xù)使用。注意不要使熱源與PTC熱敏電阻靠得過(guò)近或直接接觸熱敏電阻,以防止將其燙壞。寶山區(qū)質(zhì)量電子元器件怎么樣

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