VR測量儀是基于虛擬現(xiàn)實（VR）技術(shù)構(gòu)建的智能化測量系統(tǒng)，通過集成光學(xué)成像、深度感知、三維建模等技術(shù)，實現(xiàn)對物理對象的高精度數(shù)字化測量與虛擬重構(gòu)。其原理是利用雙目立體視覺模擬人類雙眼視差，結(jié)合結(jié)構(gòu)光投射、激光掃描或ToF（飛行時間）傳感器獲取物體表面的三維坐標(biāo)數(shù)據(jù)，再通過算法構(gòu)建1:1比例的虛擬模型，然后輸出幾何尺寸、空間位置、表面紋理等多維度測量結(jié)果。典型設(shè)備如基恩士VR-6000系列，可在0.1秒內(nèi)完成80萬點的三維點云數(shù)據(jù)采集，分辨率達(dá)0.1微米，支持對復(fù)雜曲面、深腔結(jié)構(gòu)、柔性物體的非接觸式測量。VR 測量借助先進(jìn)傳感器，精確捕捉空間數(shù)據(jù)，為虛擬場景構(gòu)建提供可靠尺寸依據(jù) 。上海AR測量儀修正

VR顯示模組的性能評估需兼顧靜態(tài)指標(biāo)與動態(tài)環(huán)境適應(yīng)性，這要求檢測設(shè)備具備多維度測量能力?；魇縑R-6000搭載的HDR掃描算法突破了傳統(tǒng)光學(xué)測量的限制，可同時處理高反光材質(zhì)的鏡面反射與弱反光黑色材質(zhì)的低對比度信號，動態(tài)范圍擴(kuò)大至1000倍。瑞淀光學(xué)2025年推出的XRE-23鏡頭則針對AR/VR場景優(yōu)化，不僅支持鏡片的模擬測量，還能通過151MP成像色度計實現(xiàn)亞像素級亮度與色彩捕捉，滿足頭顯對EYE-BOX均勻性的嚴(yán)苛要求。此外，虛像距測量儀VID-100通過自動對焦與距離校正技術(shù)，在米至無限遠(yuǎn)范圍內(nèi)實現(xiàn)±的測量精度，尤其適用于HUD抬頭顯示與AR眼鏡的虛像距離標(biāo)定。這些技術(shù)的融合使檢測設(shè)備能夠覆蓋從實驗室研發(fā)到量產(chǎn)線品控的全生命周期需求。上海VID測試儀售后HUD 抬頭顯示虛像測量設(shè)備不斷升級，測量精度與穩(wěn)定性明顯提升 。

在技術(shù)實現(xiàn)上，XR 光學(xué)測量融合了精密物理測量與仿真分析：一方面，借助激光干涉儀、共焦顯微鏡等設(shè)備對光學(xué)元件進(jìn)行納米級面形檢測，利用光譜儀驗證鍍膜材料的波長響應(yīng)特性；另一方面，通過 Zemax 等光學(xué)設(shè)計軟件模擬光路，預(yù)判像差與雜散光問題，并結(jié)合積分球、亮度計等實測設(shè)備，驗證光機(jī)模組在不同場景下的綜合性能（如 VR 的大視場角沉浸感、AR 的虛實融合清晰度）。此外，針對光學(xué)系統(tǒng)與攝像頭、傳感器的協(xié)同效率，還需通過眼動儀、環(huán)境光傳感器等進(jìn)行跨系統(tǒng)聯(lián)動測試，確保交互精度與使用穩(wěn)定性。

VR光學(xué)技術(shù)沿“傳統(tǒng)透鏡-菲涅爾透鏡-折疊光路”路徑升級，檢測重點隨技術(shù)迭代持續(xù)變化。傳統(tǒng)透鏡需關(guān)注曲面精度與色散控制，菲涅爾透鏡側(cè)重環(huán)帶結(jié)構(gòu)均勻性與注塑工藝良率，而折疊光路（Pancake）方案因引入偏振片、半透半反膜等多層結(jié)構(gòu)，檢測難點轉(zhuǎn)向光程誤差、偏振效率一致性及變焦機(jī)構(gòu)可靠性。新興技術(shù)如液晶偏振全息、異構(gòu)微透鏡陣列、多疊折返式自由曲面光學(xué)等，對檢測設(shè)備的納米級精度、復(fù)雜光路模擬能力提出更高要求。同時，VR顯示方案（Fast-LCD/MiniLED/硅基OLED/MicroLED）與光學(xué)系統(tǒng)的匹配性檢測亦至關(guān)重要，需通過光學(xué)仿真與實際佩戴測試平衡畫質(zhì)、功耗與體積，推動硬件輕薄化與成本下降。VR 近眼顯示測試關(guān)注設(shè)備兼容性，適配多種硬件與軟件 。

AR光學(xué)因需實現(xiàn)虛擬與現(xiàn)實融合，檢測邏輯與VR存在明顯的差異。其方案如光波導(dǎo)、自由曲面棱鏡等，需重點檢測透光率、眼動追蹤精度、環(huán)境光干擾抑制能力，以及雙目視差校準(zhǔn)的一致性。以HoloLens為例，光學(xué)成本占比達(dá)47%，檢測需覆蓋微米級波導(dǎo)紋路精度、衍射效率均勻性，以及攝像頭與光學(xué)系統(tǒng)的空間坐標(biāo)系校準(zhǔn)。此外，AR頭顯的輕量化設(shè)計（如單目/雙目配置、分體式結(jié)構(gòu)）對光學(xué)元件的小型化與集成度提出挑戰(zhàn)，檢測需兼顧微型化元件的表面缺陷（如亞微米級劃痕）與整體光路的像差控制，確保在工業(yè)巡檢、教育交互等場景中實現(xiàn)精確虛實疊加。新型虛像距測量系統(tǒng)結(jié)構(gòu)簡單，測量速度快，精度有保障 。VR光學(xué)測試儀代理

AR 測量的量角器功能，精確測量各種角度，滿足專業(yè)需求 。上海AR測量儀修正

虛像距測量主要依賴三大技術(shù)路徑：幾何光學(xué)法：通過輔助透鏡構(gòu)建等效光路，將虛像轉(zhuǎn)換為實像后測量。例如，測量凹透鏡的虛像距時，可在其后方放置凸透鏡，使發(fā)散光線匯聚成實像，再通過物距像距公式反推原虛像位置。物理光學(xué)法：利用干涉儀、全息術(shù)等手段，通過分析光的波動特性間接測量虛像距。如邁克爾遜干涉儀可通過干涉條紋的偏移量計算光路變化，進(jìn)而確定虛像的位置偏差?，F(xiàn)代光電法：借助CCD/CMOS傳感器與圖像處理算法，實時捕捉光線分布并擬合虛像位置。例如，在AR光學(xué)檢測中，通過高速相機(jī)拍攝人眼觀察虛擬圖像時的角膜反射光斑，結(jié)合雙目視覺算法計算虛像距，實現(xiàn)非接觸式高精度測量（精度可達(dá)±50μm）。上海AR測量儀修正