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將純半導(dǎo)體單晶熔化成半導(dǎo)體，并緩慢擠壓生長成棒狀?；貧w型它是從含有少量施主雜質(zhì)和受主雜質(zhì)的溶液中擠出來的，如果擠出速度快，則生長出P型半導(dǎo)體，如果慢則生長出N型半導(dǎo)體。因?yàn)榛鶚O區(qū)較厚，高頻特性較差。戈隆擴(kuò)散當(dāng)在擠壓過程中添加到溶解半導(dǎo)體中的雜質(zhì)發(fā)生變化時(shí)，...

電子測量儀器的分類電子測量儀器分類較多，應(yīng)用領(lǐng)域也不同，一般可將其分為**儀器和通用儀器兩大類：**儀器以某一個(gè)或幾個(gè)**功能為目的，設(shè)計(jì)制造難度極高，是為某一個(gè)或幾個(gè)專門目的而設(shè)計(jì)，如電視彩色信號發(fā)生器、電磁兼容EMC測試設(shè)備等。 ...

**早的集成電路使用陶瓷扁平封裝，這種封裝很多年來因?yàn)榭煽啃院托〕叽缋^續(xù)被軍方使用。商用電路封裝很快轉(zhuǎn)變到雙列直插封裝，開始是陶瓷，之后是塑料。20世紀(jì)80年代，VLSI電路的針腳超過了DIP封裝的應(yīng)用限制，***導(dǎo)致插針網(wǎng)格數(shù)組和芯片載體的出現(xiàn)。表面貼著封裝...

具有一個(gè)基座測量面,以電容擺的平衡原理測量被側(cè)面相對水平面微小傾角的測量器具。其中,以指針式指示裝置指示測量值的儀器稱為指針式電子水平儀,以數(shù)顯式指示裝置指示測量值的儀器稱為數(shù)顯式電子水平儀。擴(kuò)展量程裝置儀器若已處于測量的極限位置,重新調(diào)整到零位,從而在該...

變?nèi)荻O管發(fā)生故障，主要表現(xiàn)為漏電或性能變差：(1)發(fā)生漏電現(xiàn)象時(shí)，高頻調(diào)制電路將不工作或調(diào)制性能變差。(2)變?nèi)菪阅茏儾顣r(shí)，高頻調(diào)制電路的工作不穩(wěn)定，使調(diào)制后的高頻信號發(fā)送到對方被對方接收后產(chǎn)生失真。出現(xiàn)上述情況之一時(shí)，就應(yīng)該更換同型號的變?nèi)荻O管。晶體三極...

帶有“視距絲”的光學(xué)速測儀，由于其快速、簡易，而在短距離（100米以內(nèi)）、低精度 （1/200(1/500）的測量中，如碎部點(diǎn)測定中，有其優(yōu)勢，得到了廣泛的應(yīng)用。隨著電子測距技術(shù)的出現(xiàn)，**地推動(dòng)了速測儀的發(fā)展。用電磁波測距儀代替光學(xué)視距經(jīng)緯儀，使得測程更...

半導(dǎo)體器件（英文：semiconductordevice）是指電子工程中主要用于電子電路或利用半導(dǎo)體導(dǎo)電性的類似器件的元件。半導(dǎo)體器件在工程上非常重要，因?yàn)樗厝磺度氲绞謾C(jī)、電腦、電視等現(xiàn)代電子產(chǎn)品中，此外，2006年全球半導(dǎo)體器件市場規(guī)模超過25萬億韓元...

電路制造在半導(dǎo)體芯片表面上的集成電路又稱薄膜，集成電路。另有一種厚膜集成電路，是由**半導(dǎo)體設(shè)備和被動(dòng)組件，集成到襯底或線路板所構(gòu)成的小型化電路。從1949年到1957年，維爾納·雅各比（WernerJacobi）、杰弗里·杜默（JeffreyDummer）、...

新型半導(dǎo)體材料在工業(yè)方面的應(yīng)用越來越多。新型半導(dǎo)體材料表現(xiàn)為其結(jié)構(gòu)穩(wěn)定，擁有***的電學(xué)特性，而且成本低廉，可被用于制造現(xiàn)代電子設(shè)備中***使用，我國與其他國家相比在這方面還有著很大一部分的差距，通常會(huì)表現(xiàn)在對一些基本儀器的制作和加工上，近幾年來，國家...

半導(dǎo)體器件（英文：semiconductordevice）是指電子工程中主要用于電子電路或利用半導(dǎo)體導(dǎo)電性的類似器件的元件。半導(dǎo)體器件在工程上非常重要，因?yàn)樗厝磺度氲绞謾C(jī)、電腦、電視等現(xiàn)代電子產(chǎn)品中，此外，2006年全球半導(dǎo)體器件市場規(guī)模超過25萬億韓元...

分類： 基礎(chǔ)儀器和通用儀器：數(shù)字多用表、電源、函數(shù)發(fā)生器、計(jì)數(shù)器...射頻和微波儀器及系統(tǒng)：頻譜分析儀、網(wǎng)絡(luò)分析儀、信號發(fā)生器、功率計(jì)、噪聲系數(shù)分析儀示波器、邏輯分析儀和數(shù)字測試：示波器、邏輯分析儀、仿真跡線端口分析儀、BERT…EDA 軟件：電子設(shè)...

半導(dǎo)體五大特性∶電阻率特性，導(dǎo)電特性，光電特性，負(fù)的電阻率溫度特性，整流特性。在形成晶體結(jié)構(gòu)的半導(dǎo)體中，人為地?fù)饺胩囟ǖ碾s質(zhì)元素，導(dǎo)電性能具有可控性。在光照和熱輻射條件下，其導(dǎo)電性有明顯的變化。晶格：晶體中的原子在空間形成排列整齊的點(diǎn)陣，稱為晶格。共價(jià)...

本征半導(dǎo)體的電流：電子電流+空穴電流。自由電子和空穴所帶電荷極性不同，它們運(yùn)動(dòng)方向相反。載流子：運(yùn)載電荷的粒子稱為載流子。導(dǎo)體電的特點(diǎn)：導(dǎo)體導(dǎo)電只有一種載流子，即自由電子導(dǎo)電。本征半導(dǎo)體電的特點(diǎn)：本征半導(dǎo)體有兩種載流子，即自由電子和空穴均參與導(dǎo)電。本征激發(fā)：半...

空載電流的檢測。(a) 直接測量法。將次級所有繞組全部開路，把萬用表置于交流電流擋500mA，串入初級繞組。當(dāng)初級繞組的插頭插入220V交流市電時(shí)，萬用表所指示的便是空載電流值。此值不應(yīng)大于變壓器滿載電流的10%～20%。一般常見電子設(shè)備電源變壓器的正?？蛰d電...

檢測電位器的活動(dòng)臂與電阻片的接觸是否良好。用萬用表的歐姆檔測“1”、“2”(或“2”、“3”)兩端，將電位器的轉(zhuǎn)軸按逆時(shí)針方向旋至接近“關(guān)”的位置，這時(shí)電阻值越小越好。再順時(shí)針慢慢旋轉(zhuǎn)軸柄，電阻值應(yīng)逐漸增大，表頭中的指針應(yīng)平穩(wěn)移動(dòng)。當(dāng)軸柄旋至極端位置“3”時(shí)，...

公司規(guī)模雖不大，但擁有專業(yè)的團(tuán)隊(duì)和先進(jìn)的技術(shù)，能夠?yàn)榭蛻籼峁└哔|(zhì)量的產(chǎn)品和服務(wù)。無錫微原電子科技有限公司在行業(yè)內(nèi)具有一定的**度和影響力。隨著科技的飛速發(fā)展，無錫微原電子科技有限公司將繼續(xù)加大在技術(shù)研發(fā)方面的投入，致力于開發(fā)具有自主知識產(chǎn)權(quán)的**技術(shù)和產(chǎn)品，特...

發(fā)展趨勢： 測試儀器和系統(tǒng)處于多總線和多接口并存的混亂時(shí)期:GPIB、VXI、MMS、PXI、PCI、CPCI、1394、ISA、USBSPI、SMB、I2C等多總線并存,自動(dòng)測試體系出現(xiàn)分布式結(jié)構(gòu)和多總線結(jié)構(gòu)。儀器吞并了計(jì)算機(jī)，同時(shí)又使自己成為龐大...

通用電子測量儀器是現(xiàn)代工業(yè)的基礎(chǔ)，使用場景***，高低端跨度大，是電子工業(yè)發(fā)展和國家戰(zhàn)略性、基礎(chǔ)性重要產(chǎn)業(yè)之一，常見類型包括示波器、射頻類儀器、波形發(fā)生器、電源與電子負(fù)載。**儀器以某一個(gè)或幾個(gè)**功能為目的，設(shè)計(jì)制造難度極高，應(yīng)用領(lǐng)域較小，如光纖測試儀器、電...

將純半導(dǎo)體單晶熔化成半導(dǎo)體，并緩慢擠壓生長成棒狀?；貧w型它是從含有少量施主雜質(zhì)和受主雜質(zhì)的溶液中擠出來的，如果擠出速度快，則生長出P型半導(dǎo)體，如果慢則生長出N型半導(dǎo)體。因?yàn)榛鶚O區(qū)較厚，高頻特性較差。戈隆擴(kuò)散當(dāng)在擠壓過程中添加到溶解半導(dǎo)體中的雜質(zhì)發(fā)生變化時(shí)，...

1954年，結(jié)型硅晶體管誕生。此后，人們提出了場效應(yīng)晶體管的構(gòu)想。隨著無缺陷結(jié)晶和缺陷控制等材料技術(shù)、晶體外誕生長技術(shù)和擴(kuò)散摻雜技術(shù)、耐壓氧化膜的制備技術(shù)、腐蝕和光刻技術(shù)的出現(xiàn)和發(fā)展，各種性能優(yōu)良的電子器件相繼出現(xiàn)，電子元器件逐步從真空管時(shí)代進(jìn)入晶體管時(shí)代和大...

***個(gè)集成電路雛形是由杰克·基爾比于1958年完成的，其中包括一個(gè)雙極性晶體管，三個(gè)電阻和一個(gè)電容器。根據(jù)一個(gè)芯片上集成的微電子器件的數(shù)量，集成電路可以分為以下幾類：小型集成電路（SSI英文全名為Small Scale Integration）邏輯門10個(gè)以...

在使用自動(dòng)測試設(shè)備（ATE）包裝前，每個(gè)設(shè)備都要進(jìn)行測試。測試過程稱為晶圓測試或晶圓探通。晶圓被切割成矩形塊，每個(gè)被稱為晶片（“die”）。每個(gè)好的die被焊在“pads”上的鋁線或金線，連接到封裝內(nèi)，pads通常在die的邊上。封裝之后，設(shè)備在晶圓探通中使用...

集成電路芯片行業(yè)作為現(xiàn)代科技的**領(lǐng)域，其未來發(fā)展情況呈現(xiàn)出以下趨勢：市場規(guī)模持續(xù)增長全球市場方面：根據(jù)世界半導(dǎo)體貿(mào)易統(tǒng)計(jì)組織（WSTS）的數(shù)據(jù)，2024年全球半導(dǎo)體市場規(guī)模已達(dá)到6430億美元，同比增長7.3%。預(yù)計(jì)2025年，全球半導(dǎo)體市場規(guī)模將進(jìn)一步增長...

照準(zhǔn)部水準(zhǔn)軸應(yīng)垂直于豎軸的檢驗(yàn)和校正檢驗(yàn)時(shí)先將儀器大致整平,轉(zhuǎn)動(dòng)照準(zhǔn)部使其水準(zhǔn)管與任意兩個(gè)腳螺旋的連線平行,調(diào)整腳螺旋使氣泡居中,然后將照準(zhǔn)部旋轉(zhuǎn)180度,若氣泡仍然居中則說明條件滿足,否則應(yīng)進(jìn)行校正。校正的目的是使水準(zhǔn)管軸垂直于豎軸．即用校正針撥動(dòng)水準(zhǔn)管一端...

設(shè)備按照終端數(shù)量可以分為二端設(shè)備、三端設(shè)備和多端設(shè)備。目前***使用的固態(tài)器件包括晶體管、場效應(yīng)晶體管(FET)、晶閘管(SCR)、二極管（整流器）和發(fā)光二極管(LED)。半導(dǎo)體器件可以用作單獨(dú)的組件，也可以用作集成多個(gè)器件的集成電路，這些器件可以在單個(gè)基...

電子元器件的檢測是家電維修的一項(xiàng)基本功，安防行業(yè)很多工程維護(hù)維修技術(shù)也實(shí)際是來自于家電的維護(hù)維修技術(shù)，或是借鑒或同質(zhì)。如何準(zhǔn)確有效地檢測元器件的相關(guān)參數(shù)，判斷元器件的是否正常，不是一件千篇一律的事，必須根據(jù)不同的元器件采用不同的方法，從而判斷元器件的正常與...

專門用的材料： 電容器**極板材料/導(dǎo)電材料電極材料/光學(xué)材料/測溫材料半導(dǎo)體材料/屏蔽材料真空電子材料/覆銅板材料壓電晶體材料/電工陶瓷材料光電子功能材料|強(qiáng)電、 弱電用接點(diǎn)材料激光工質(zhì)/電子元器件**薄膜材料電子玻璃/類金剛石膜膨脹合金與熱雙金屬...

晶圓測試經(jīng)過上面的幾道工藝之后，晶圓上就形成了一個(gè)個(gè)格狀的晶粒。通過針測的方式對每個(gè)晶粒進(jìn)行電氣特性檢測。一般每個(gè)芯片的擁有的晶粒數(shù)量是龐大的，組織一次針測試模式是非常復(fù)雜的過程，這要求了在生產(chǎn)的時(shí)候盡量是同等芯片規(guī)格構(gòu)造的型號的大批量的生產(chǎn)。數(shù)量越大相對成本...

用電子測量儀器是利用電子技術(shù)來進(jìn)行測量的儀器。電子測量儀器是指以電子技術(shù)為基礎(chǔ)，結(jié)合電子測量、數(shù)字信號處理、微電子、射頻微波設(shè)計(jì)等多領(lǐng)域技術(shù)，組成單機(jī)或自動(dòng)測試系統(tǒng)，并用于監(jiān)測、測量、計(jì)算各類物理參數(shù)和成分的儀器。其具有檢測測量、信號傳遞和數(shù)據(jù)處理等功能，...

分類： 基礎(chǔ)儀器和通用儀器：數(shù)字多用表、電源、函數(shù)發(fā)生器、計(jì)數(shù)器...射頻和微波儀器及系統(tǒng)：頻譜分析儀、網(wǎng)絡(luò)分析儀、信號發(fā)生器、功率計(jì)、噪聲系數(shù)分析儀示波器、邏輯分析儀和數(shù)字測試：示波器、邏輯分析儀、仿真跡線端口分析儀、BERT…EDA 軟件：電子設(shè)...