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EMI診斷一般使用通用儀器設(shè)備加上一些專屬附件，根據(jù)測(cè)試需要自行組成測(cè)試系統(tǒng)，它簡(jiǎn)單、方便、經(jīng)濟(jì)、實(shí)惠，是對(duì)規(guī)范測(cè)量的一種補(bǔ)充。如果有條件和標(biāo)準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室測(cè)試系統(tǒng)進(jìn)行對(duì)比，則能夠得到定量測(cè)試結(jié)果。因此，EMI診斷成為產(chǎn)品設(shè)計(jì)師在整個(gè)研制過程中不可缺少的輔助手段，它...

輻射近場(chǎng)測(cè)量方法都需要測(cè)量出近場(chǎng)的相位和幅度，才能利用近場(chǎng)理論計(jì)算出天線的遠(yuǎn)場(chǎng)電特性，為了簡(jiǎn)化計(jì)算公式和測(cè)量系統(tǒng)以及降低測(cè)量時(shí)間與測(cè)量的相位誤差（在頻率f很高的情況下，即f＞80GHz，相位的測(cè)量誤差是很大的），于是，有學(xué)者提出只用近場(chǎng)測(cè)量值的幅度來(lái)重建天線遠(yuǎn)...

IC高頻近場(chǎng)掃描儀的日常使用和保養(yǎng)都包括哪些內(nèi)容：1.一旦IC高頻近場(chǎng)掃描儀通電后，千萬(wàn)不要熱插拔SCSI、EPP接口的電纜，這樣會(huì)損壞掃描儀或計(jì)算機(jī)，當(dāng)然USB接口除外，因?yàn)樗旧砭椭С譄岵灏巍?.掃描儀在工作時(shí)請(qǐng)不要中途切斷電源，一般要等到掃描儀的鏡組完全...

培訓(xùn)針對(duì)研發(fā)相關(guān)工程師在產(chǎn)品測(cè)試與認(rèn)證過程中，輻射發(fā)射以及傳導(dǎo)發(fā)射問題的測(cè)試原理，解決思路，各類整改的方法與對(duì)策、EMI診斷工具的使用進(jìn)行講解，整個(gè)課程與工程師研發(fā)實(shí)際工作緊密聯(lián)系；整個(gè)教學(xué)過程，輻射發(fā)射以及傳導(dǎo)發(fā)射問題的定位與整改，結(jié)合技術(shù)已經(jīng)成功解決項(xiàng)目案...

20-30MHZ，（整改建議）1、對(duì)于一類產(chǎn)品可以采用調(diào)整對(duì)地Y2電容量或改變Y2電容位置；2、調(diào)整一二次側(cè)間的Y1電容位置及參數(shù)值；3、在變壓器外面包銅箔；變壓器里層加屏蔽層；調(diào)整變壓器的各繞組的排布。200MHZ以上，開關(guān)電源已基本輻射量很小，一般均可過E...

對(duì)于EMI實(shí)際測(cè)試，整改，有經(jīng)驗(yàn)都可以拿來(lái)大家分享，先不管理論對(duì)不對(duì)，實(shí)際結(jié)果是怎樣就怎樣，繼續(xù)分享我的經(jīng)驗(yàn)如下：+12V田字體輸出線材上繞CoRe（常用規(guī)格為KN-RN250080），對(duì)輻射60MHz-70MHz，有改善.在次級(jí)整流管上串磁珠（常用規(guī)格為MD...

IC高頻近場(chǎng)掃描儀的日常使用和保養(yǎng)都包括哪些內(nèi)容：1.一旦IC高頻近場(chǎng)掃描儀通電后，千萬(wàn)不要熱插拔SCSI、EPP接口的電纜，這樣會(huì)損壞掃描儀或計(jì)算機(jī)，當(dāng)然USB接口除外，因?yàn)樗旧砭椭С譄岵灏巍?.掃描儀在工作時(shí)請(qǐng)不要中途切斷電源，一般要等到掃描儀的鏡組完全...

EMI，電磁干擾度，描述電子、電氣產(chǎn)品在正常工作狀態(tài)下對(duì)外界的干擾；EMI又包括傳導(dǎo)干擾CE（conductionemission）和輻射干擾RE(radiationemission)以及諧波harmonic。EMC包括EMI(interference)和EM...

射頻抗干擾(Desense)近場(chǎng)電磁掃描診斷分析：可視化EMC(電磁兼容)近場(chǎng)掃描診斷分析系統(tǒng)使用電場(chǎng)近場(chǎng)探頭(H-Probe)、高低頻磁場(chǎng)近場(chǎng)探頭(H-Probe)套裝，支持0.01mm分辨率步進(jìn)電磁掃描，能快速有效的預(yù)防、解決接收感度惡化（Degradat...

改變帶寬法：通過改變頻譜分析儀分辨帶寬，信號(hào)的幅值可能也可能不發(fā)生變化。一個(gè)真正的窄帶或連續(xù)波信號(hào)的幅值將不發(fā)生變化。由持續(xù)時(shí)間為零、幅值無(wú)限大的脈沖產(chǎn)生的純寬帶發(fā)射，將產(chǎn)生量值為20log（BW1/BW2）的變化。然而在確定發(fā)射是寬帶還是窄帶的過程中，實(shí)際上...

EMC測(cè)試伴隨著產(chǎn)品研制的全過程，眾所周知，一個(gè)產(chǎn)品的電磁兼容性能是否達(dá)標(biāo)靠什么證明呢？無(wú)疑是試驗(yàn)，試驗(yàn)是檢驗(yàn)產(chǎn)品性能好壞的單獨(dú)手段。然而，EMC試驗(yàn)不單單承擔(dān)對(duì)產(chǎn)品性能終檢驗(yàn)的任務(wù)，在產(chǎn)品設(shè)計(jì)階段也需要有輔助試驗(yàn)手段檢驗(yàn)每一個(gè)設(shè)計(jì)思想及每一項(xiàng)設(shè)計(jì)措施是否正確...

整改方案，如下：從傳導(dǎo)的曲線上1MHz前超標(biāo)的情況可以看出差模電容X太小了，所以修改了X電容變成0。22uF。而1-5MHz之間也超標(biāo)，所以增加共模電感到50mH，這項(xiàng)頻率超標(biāo)一般主要是有變壓器的漏感造成的。在變壓器的外面增加了一個(gè)屏蔽銅箔，并接入熱地。（同時(shí)...

從我做EMC的整改經(jīng)驗(yàn)來(lái)看我不能認(rèn)同這些朋友的意見。對(duì)于EMI實(shí)際測(cè)試，整改，有經(jīng)驗(yàn)都可以拿來(lái)大家分享，先不管理論對(duì)不對(duì)，實(shí)際結(jié)果是怎樣就怎樣，繼續(xù)分享我的經(jīng)驗(yàn)如下：+12V田字體輸出線材上繞CoRe（常用規(guī)格為KN-RN250080），對(duì)輻射60MHz-70...

EMI測(cè)試場(chǎng)的衰減測(cè)試可以由頻譜分析儀、適當(dāng)?shù)奶炀€和射頻發(fā)射裝置來(lái)完成。按照FCC和VDE發(fā)射說明進(jìn)行測(cè)試的裝置必須滿足FCC或VDE中指定的相應(yīng)場(chǎng)地衰減要求。頻譜分析儀能用來(lái)測(cè)試材料、設(shè)備屏蔽箱體、甚至較大屏蔽測(cè)試室的屏蔽效能。材料樣品可以通過橫電磁波（TE...

散射近場(chǎng)測(cè)量：1.天線口徑場(chǎng)分布診斷：天線口徑場(chǎng)分布診斷是通過測(cè)量天線近區(qū)場(chǎng)的分布逆推出天線口徑場(chǎng)分布，從而判斷出口徑場(chǎng)畸變處所對(duì)應(yīng)的輻射單元，這就是天線口徑分布診斷的基本原理。該方法對(duì)具有一維圓對(duì)稱天線口徑分布的分析是可靠的，尤其對(duì)相控陣天線的分析與測(cè)量已有...

整改一個(gè)二十幾瓦的電源。這個(gè)產(chǎn)品發(fā)現(xiàn)MOS管和雙向二極管所帶的散熱片都是沒有接入熱地的。（也就是電源初級(jí)邊的電解電容的負(fù)極。變壓器內(nèi)有一層線圈繞制的屏蔽并接入熱地。我就結(jié)合測(cè)試的曲線說一下我的整改經(jīng)過吧。先上一個(gè)測(cè)試不通過的曲線：空間輻射的H方向的曲線這個(gè)電源...

各種接頭如Keyboard及Powersupply常常由于接頭的插頭與機(jī)器上的插座間的密合度不好﹐影響了干擾噪聲的輻射。檢查的方式可將接頭拔掉看噪聲是否減小﹐減小表示兩種冊(cè)可﹐一為線上本身輻射干擾﹐另一為接頭間接觸不好﹐此時(shí)插上接頭﹐用手銷微將接頭端左右搖動(dòng)﹐...

電路板上的組件成為輻射來(lái)源，由于所使用的IC或CPU本身在運(yùn)作時(shí)產(chǎn)生很大的輻射﹐使得EMI測(cè)試無(wú)法通過﹐卵石種情往往在經(jīng)過（1）﹑（2）﹑（3）的分析后噪聲依然存在﹐通常解決的方法不外換一個(gè)類似的組件﹐看EMI特性是否會(huì)好一些。另外就是電路板重新布線時(shí)﹐將其擺...

近場(chǎng)掃描儀的特點(diǎn)：1.不需要消聲室：可以使用場(chǎng)分離技術(shù)將輻射聲從房間反射聲中分離出來(lái)。2.比消聲室測(cè)量精度更高100Hz以下，不需要房間校正曲線。3.快速測(cè)量：標(biāo)準(zhǔn)3D聲學(xué)測(cè)量，可在不到20分鐘內(nèi)完成典型兩分頻系統(tǒng)的聲功率測(cè)量。4.高信噪比：近場(chǎng)中聲壓級(jí)高，對(duì)...

輻射區(qū)內(nèi)，電磁場(chǎng)開始輻射，標(biāo)志著遠(yuǎn)場(chǎng)的開始。場(chǎng)的強(qiáng)度和天線的距離成反比(1/r3)。輻射出的正弦波和近場(chǎng)、遠(yuǎn)場(chǎng)。近場(chǎng)通常分為兩個(gè)區(qū)域，反應(yīng)區(qū)和輻射區(qū)。在反應(yīng)區(qū)里，電場(chǎng)和磁場(chǎng)是很強(qiáng)的，并且可以單獨(dú)測(cè)量。根據(jù)天線的種類，某一種場(chǎng)會(huì)成為主導(dǎo)。例如環(huán)形天線主要是磁場(chǎng)，...

故在EMI的問題上﹐常常看到一個(gè)EMI有問題的產(chǎn)品﹐由于未能找到造成EMI問題的關(guān)鍵﹐花了許多時(shí)間﹐下了許多對(duì)策﹐卻始終無(wú)法解決﹐其中亦不乏專業(yè)的EMI工程師。以往談到EMI往往強(qiáng)調(diào)對(duì)策方法﹐甚而視許多對(duì)策秘決或絕招﹐然而沒有正確的診斷﹐而在產(chǎn)品上加了一大堆E...

在開關(guān)電源中壓制噪聲是非常有商業(yè)技巧的，理想的EMI及RFI會(huì)用一點(diǎn)點(diǎn)電路，加一點(diǎn)成本，重量，減一點(diǎn)點(diǎn)效率即可達(dá)到，理想的是一個(gè)方框或旁路掉干擾噪聲即可，這只對(duì)系統(tǒng)地和機(jī)框地距離很近時(shí)比較有效。對(duì)于AC線路，用一個(gè)有非常小的雜散電容的耦合電感，兩個(gè)安全的經(jīng)認(rèn)證...

有效降低電路EMI的技巧：當(dāng)存在一個(gè)磁場(chǎng)時(shí)，一個(gè)由導(dǎo)電材料形成的環(huán)路充當(dāng)了天線，并且把磁場(chǎng)轉(zhuǎn)換為圍繞環(huán)路流動(dòng)的電流。電流的強(qiáng)度與閉合環(huán)路的面積成正比。有效降低電路EMI的技巧：出現(xiàn)在板級(jí)連接的場(chǎng)合。如智慧機(jī)上盒(STB)產(chǎn)品，在STB主機(jī)板和EOC主機(jī)板或者W...

為了規(guī)范電子產(chǎn)品的電磁兼容性，所有的發(fā)達(dá)國(guó)家和部分發(fā)展中國(guó)家都制定了電磁兼容標(biāo)準(zhǔn)。電磁兼容標(biāo)準(zhǔn)是使產(chǎn)品在實(shí)際電磁環(huán)境中能夠正常工作的基本要求。之所以稱為基本要求，也就是說，產(chǎn)品即使?jié)M足了電磁兼容標(biāo)準(zhǔn)，在實(shí)際使用中也可能會(huì)發(fā)生干擾問題。大部分國(guó)家的標(biāo)準(zhǔn)都是基于國(guó)...

實(shí)際測(cè)量時(shí)，用一個(gè)輻射單元（探頭）進(jìn)行一維掃描（等效的看，相當(dāng)于同時(shí)激勵(lì)的狀態(tài)）并在計(jì)算機(jī)上用軟件完成各個(gè)方向上的平面波的綜合，因此，稱其為數(shù)字緊縮場(chǎng)。這種測(cè)量方法的優(yōu)點(diǎn)是很大降低了為實(shí)現(xiàn)平面波對(duì)測(cè)量系統(tǒng)硬件的要求。該方法不只能測(cè)量典型導(dǎo)體目標(biāo)的RCS，而且能...

極近場(chǎng)EMI掃描技術(shù)：掃描系統(tǒng)由一個(gè)掃描儀、小型適配器、一個(gè)客戶提供的頻譜分析儀和運(yùn)行掃描系統(tǒng)軟件的PC組成。臺(tái)式掃描儀包括2，436條回路，可產(chǎn)生1，218個(gè)間隔為7.5mm的磁場(chǎng)探針，形成一個(gè)電子開關(guān)陣列并提供高達(dá)3.75mm的分辨率。系統(tǒng)工作頻率范圍為5...

射頻抗干擾(Desense)近場(chǎng)電磁掃描診斷分析：可視化EMC(電磁兼容)近場(chǎng)掃描診斷分析系統(tǒng)使用電場(chǎng)近場(chǎng)探頭(H-Probe)、高低頻磁場(chǎng)近場(chǎng)探頭(H-Probe)套裝，支持0.01mm分辨率步進(jìn)電磁掃描，能快速有效的預(yù)防、解決接收感度惡化（Degradat...

20-30MHZ，（整改建議）1、對(duì)于一類產(chǎn)品可以采用調(diào)整對(duì)地Y2電容量或改變Y2電容位置；2、調(diào)整一二次側(cè)間的Y1電容位置及參數(shù)值；3、在變壓器外面包銅箔；變壓器里層加屏蔽層；調(diào)整變壓器的各繞組的排布。因?yàn)樗鼈兊墓逃械碾娏骷半妷翰ㄐ危苑浅？焖俚拈_關(guān)時(shí)間變化...

理解EMI報(bào)告在討論排查技術(shù)之前，介紹一下EMI測(cè)試報(bào)告是很有必要的。乍一看，EMI報(bào)告似乎直接提供了有關(guān)特定頻率點(diǎn)故障的信息，因此事情看起來(lái)很簡(jiǎn)單，就是使用報(bào)告中的數(shù)據(jù)確定設(shè)計(jì)中的哪個(gè)元件包含問題源頻率，并特別加以注意，以便通過下一輪測(cè)試。然而，雖然許多測(cè)試...

若是用軍標(biāo)測(cè)試，相應(yīng)的會(huì)嚴(yán)格一些，所以EUT測(cè)試超標(biāo)很正常。對(duì)電源適配器的EMI和EMC主要影響的幾個(gè)因素在于電源適配器的開關(guān)電路,電路板設(shè)計(jì)和接地電路以及開關(guān)電路等各個(gè)功能電路等方面.消除就是用將干擾源通過熱能的方式損耗掉，這種是制本的方式。切除干擾傳導(dǎo)的途...