垂直位移變形監(jiān)測(cè)技術(shù)就是對(duì)建筑物進(jìn)行垂直方向上的變形監(jiān)測(cè)。一般情況下,由于不是很均勻的垂直方向上的位移,會(huì)讓建筑物產(chǎn)生裂縫。這種監(jiān)測(cè)異常,很可能就是建筑物基礎(chǔ)或局部破壞的前奏,因此,垂直位移的變形監(jiān)測(cè)是非常必要的。在進(jìn)行垂直位移變形監(jiān)測(cè)時(shí),要先監(jiān)測(cè)工作基點(diǎn)的穩(wěn)定程度,在此基礎(chǔ)上再進(jìn)行垂直位移的變形監(jiān)測(cè)?,F(xiàn)有的水利工程用的垂直位移變形監(jiān)測(cè)方法有三種,第1種是幾何水準(zhǔn)測(cè)量的方法,第2種是三角高程測(cè)量的方法,第3種為液體靜力水準(zhǔn)的測(cè)量方法。光學(xué)非接觸應(yīng)變測(cè)量具有高精度、高靈敏度且無(wú)損被測(cè)物體的優(yōu)點(diǎn),可實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)物體的應(yīng)變狀態(tài)。山東VIC-3D數(shù)字圖像相關(guān)技術(shù)測(cè)量裝置
與光學(xué)應(yīng)變測(cè)量相比,光學(xué)干涉測(cè)量在方法上有著本質(zhì)的不同。它是一種直接測(cè)量物體表面形變的技術(shù),主要利用光的干涉現(xiàn)象來(lái)實(shí)現(xiàn)。在光學(xué)干涉測(cè)量中,一束光源被分為兩束,分別沿不同路徑傳播,并在某一點(diǎn)重新匯合。當(dāng)物體表面發(fā)生形變時(shí),這兩束光的相位關(guān)系會(huì)發(fā)生相應(yīng)的變化。通過(guò)精確測(cè)量這種相位變化,我們可以獲取物體表面的形變信息??偟膩?lái)說(shuō),光學(xué)應(yīng)變測(cè)量和光學(xué)干涉測(cè)量雖然都是光學(xué)測(cè)量的重要分支,但在工作原理和應(yīng)用范圍上具有明顯的區(qū)別。光學(xué)應(yīng)變測(cè)量通過(guò)間接方式推斷物體內(nèi)部的應(yīng)力狀態(tài),而光學(xué)干涉測(cè)量則直接測(cè)量物體表面的形變。西安哪里有賣數(shù)字圖像相關(guān)非接觸式測(cè)量隨著科學(xué)技術(shù)的不斷發(fā)展,三維應(yīng)變測(cè)量技術(shù)也在不斷改進(jìn)和完善。
采用三維光學(xué)測(cè)量技術(shù),可以通過(guò)全場(chǎng)非接觸式測(cè)量方式,測(cè)試關(guān)鍵部位變形和損傷的起始位置,并實(shí)時(shí)記錄車橋結(jié)構(gòu)表面的全場(chǎng)變形。能直觀地看到測(cè)量區(qū)域內(nèi)全部的位移應(yīng)變數(shù)據(jù)色譜圖,獲取全場(chǎng)數(shù)百萬(wàn)個(gè)點(diǎn)的位移應(yīng)變數(shù)據(jù),而不是位移計(jì)或者應(yīng)變片單有的幾十個(gè)讀數(shù)。基于車橋制造商客戶的需求,三維技術(shù)工程師分別采用光學(xué)非接觸全場(chǎng)應(yīng)變測(cè)量系統(tǒng)、三維攝影測(cè)量系統(tǒng),測(cè)試車橋在兩端施加載荷的工況過(guò)程中,結(jié)構(gòu)表面位移變化以及部件材料的應(yīng)變變化。
可以采用相似材料結(jié)構(gòu)模型實(shí)驗(yàn)的手段,以鋼筋混凝土框架結(jié)構(gòu)為研究對(duì)象,通過(guò)數(shù)字散斑的光學(xué)非接觸應(yīng)變測(cè)量方式,獲取強(qiáng)烈地震作用下模型表面的三維全場(chǎng)位移及應(yīng)變數(shù)據(jù)。應(yīng)變計(jì)作為應(yīng)變測(cè)量的工具,存在著貼片過(guò)程繁瑣,測(cè)量精度嚴(yán)重依賴其貼片質(zhì)量,對(duì)環(huán)境溫度敏感等問(wèn)題。此外,應(yīng)變計(jì)無(wú)法進(jìn)行全場(chǎng)測(cè)量,難以捕捉到關(guān)鍵位置的變形出現(xiàn)的初始位置,當(dāng)框架結(jié)構(gòu)發(fā)生較大范圍變形或斷裂,應(yīng)變計(jì)在試件出現(xiàn)斷裂時(shí)容易損壞,影響測(cè)試數(shù)據(jù)的質(zhì)量。三維應(yīng)變測(cè)量技術(shù)用于研究新材料力學(xué)性能,如彈性模量、泊松比等,以及材料在受力或變形過(guò)程中的失效行為。
電子散斑干涉技術(shù)特點(diǎn):技術(shù)優(yōu)勢(shì)納米級(jí)位移靈敏度全場(chǎng)實(shí)時(shí)測(cè)量能力對(duì)振動(dòng)不敏感可測(cè)微小變形系統(tǒng)配置要點(diǎn)激光光源穩(wěn)定性<0.5%防振光學(xué)平臺(tái)相移裝置精度λ/100溫控環(huán)境建議±1℃典型應(yīng)用場(chǎng)景微電子器件熱變形MEMS器件測(cè)試薄膜殘余應(yīng)力分析微納尺度力學(xué)行為,系統(tǒng)集成解決方案與力學(xué)測(cè)試設(shè)備聯(lián)用原位加載系統(tǒng)同步控制多物理場(chǎng)數(shù)據(jù)融合實(shí)時(shí)應(yīng)變反饋系統(tǒng)異構(gòu)圖譜數(shù)據(jù)關(guān)聯(lián)特殊環(huán)境集成(1)高溫環(huán)境:耐高溫鏡頭保護(hù)熱輻射校正算法藍(lán)光照明方案(2)真空環(huán)境:光學(xué)窗口長(zhǎng)距顯微配置防污染設(shè)計(jì)(3)液體環(huán)境:防水觀測(cè)窗折射率補(bǔ)償懸浮粒子示蹤。光學(xué)非接觸應(yīng)變測(cè)量利用全息干涉術(shù)和激光散斑術(shù),通過(guò)光的干涉和散斑圖案分析物體表面應(yīng)變。山東VIC-3D數(shù)字圖像相關(guān)技術(shù)測(cè)量裝置
典型的DIC測(cè)量系統(tǒng)一般由CCD攝像機(jī)、照明光源、圖像采集卡及計(jì)算機(jī)組成。山東VIC-3D數(shù)字圖像相關(guān)技術(shù)測(cè)量裝置
光學(xué)非接觸應(yīng)變測(cè)量技術(shù)在結(jié)構(gòu)健康監(jiān)測(cè)中的應(yīng)用研究一直備受關(guān)注。這項(xiàng)技術(shù)通過(guò)利用光學(xué)傳感器對(duì)結(jié)構(gòu)物表面進(jìn)行測(cè)量,能夠?qū)崟r(shí)、準(zhǔn)確地獲取結(jié)構(gòu)物的應(yīng)變信息,從而實(shí)現(xiàn)對(duì)結(jié)構(gòu)物健康狀態(tài)進(jìn)行監(jiān)測(cè)和評(píng)估。光學(xué)非接觸應(yīng)變測(cè)量技術(shù)具有高精度和高靈敏度等特點(diǎn)。傳統(tǒng)的應(yīng)變測(cè)量方法往往需要接觸式傳感器,而光學(xué)非接觸測(cè)量技術(shù)可以避免對(duì)結(jié)構(gòu)物的破壞和干擾,提供更加準(zhǔn)確和可靠的應(yīng)變測(cè)量結(jié)果。同時(shí),光學(xué)傳感器的靈敏度高,可以檢測(cè)到微小的應(yīng)變變化,對(duì)結(jié)構(gòu)物的微小損傷和變形進(jìn)行監(jiān)測(cè)。 山東VIC-3D數(shù)字圖像相關(guān)技術(shù)測(cè)量裝置