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安徽全球半導(dǎo)體晶圓

來源: 發(fā)布時(shí)間:2022-07-23

    聲波能量不能有效地傳遞到通孔或槽中,到達(dá)它們的底部和側(cè)壁,而微粒、殘留物和其他雜質(zhì)18048則被困在通孔或槽中。當(dāng)臨界尺寸w1變小時(shí),這種情況很容易發(fā)生在先進(jìn)的半導(dǎo)體工藝中。參考圖18i至圖18j所示,氣泡18012的尺寸增大控制在一定范圍內(nèi),氣泡總體積vb與通孔或槽或其他凹進(jìn)區(qū)域的總體積vvtr的比值r遠(yuǎn)低于飽和點(diǎn)rs。因?yàn)樵谔卣鲀?nèi)有小氣泡氣穴振蕩,新鮮的清洗液18047在通孔或槽中自由交換,使得殘留物和顆粒等雜質(zhì)18048可以輕易地排出,從而獲得良好的清洗性能。由于通孔或槽中氣泡的總體積由氣泡的數(shù)量和大小決定,因此控制氣穴振蕩引起的氣泡尺寸膨脹對(duì)于具有高深寬比特征的晶圓的清洗性能至關(guān)重要。圖19a至圖19d揭示了對(duì)應(yīng)于聲能的氣泡體積變化。在氣穴振蕩的***個(gè)周期,當(dāng)聲波正壓作用于氣泡后,氣泡體積從v0壓縮至v1;當(dāng)聲波負(fù)壓作用于氣泡后,氣泡體積膨脹至v2。然而,對(duì)應(yīng)v2的氣泡的溫度t2要高于對(duì)應(yīng)v0的氣泡的溫度t0,因此如圖19b所示v2要大于v0。這種體積增加是由氣泡周圍的液體分子在較高溫度下蒸發(fā)引起的。類似的,如圖19b所示,氣泡第二次壓縮后的體積v3在v1與v2之間。v1、v2與v3可表示為:v1=v0-△v(12)v2=v1+δv。什么才可以稱為半導(dǎo)體晶圓?安徽全球半導(dǎo)體晶圓

    就能更快的解決流程中的問題,從而減少停機(jī)時(shí)間同時(shí)提高產(chǎn)量。因此,檢測(cè)行業(yè)**科磊不太可能被后來者趕上?,F(xiàn)在主流的檢測(cè)方法有兩種,一種是科磊選用的光學(xué)檢測(cè)(占市場(chǎng)90%),還有一種是阿斯麥的電子束檢測(cè)。兩種技術(shù)的主要差別在于速度。電子檢測(cè)較為直觀,但電子束檢測(cè)比光學(xué)檢測(cè)慢100-1000倍以上,現(xiàn)階段檢測(cè)效率決定了光學(xué)檢測(cè)方法的***使用。考察一個(gè)行業(yè)的發(fā)展,對(duì)其**企業(yè)的研究是必不可少的。晶圓檢測(cè)設(shè)備領(lǐng)域,科磊是當(dāng)之無愧的**,其生產(chǎn)的半導(dǎo)體前道晶圓檢測(cè)設(shè)備,市場(chǎng)占有率52%,遠(yuǎn)高于第二、三名的應(yīng)用材料(12%)、日立(11%),形成壟斷局面。國(guó)內(nèi)國(guó)產(chǎn)替代率*有2%,替代率之低*次于光刻機(jī)。那么是什么導(dǎo)致了這樣的壟斷局面呢?綜合分析,行業(yè)**企業(yè)(科磊)的壁壘主要有以下三個(gè):行業(yè)研發(fā)費(fèi)用大,研發(fā)壁壘高,跨賽道之間的技術(shù)難突破,**終形成了技術(shù)壟斷大幅**的市場(chǎng)占有率市場(chǎng)占有率高的企業(yè)憑借龐大的客戶群體得到了大量的缺陷數(shù)據(jù)庫,隨著數(shù)據(jù)庫中的數(shù)據(jù)越多,其檢測(cè)設(shè)備的檢測(cè)準(zhǔn)確率就越高,后來者就越不可能撼動(dòng)其市場(chǎng)地位。進(jìn)而對(duì)于晶圓檢測(cè)領(lǐng)域的非**企業(yè),在現(xiàn)有賽道上難以超車之時(shí),技術(shù)**才是***的出路。成都半導(dǎo)體晶圓價(jià)格信息半導(dǎo)體晶圓價(jià)格信息。

    圖18b是圖18a所示通孔的頂視圖。圖18c揭示了形成在晶圓18010上的多個(gè)槽18036的剖視圖。同樣的,槽18036中由聲波能量產(chǎn)生的氣泡18012增強(qiáng)了對(duì)雜質(zhì)的去除,如殘留物和顆粒。圖18d是圖18c所示槽18036的頂視圖。飽和點(diǎn)rs被定義為通孔18034、槽18036或其他凹進(jìn)區(qū)域內(nèi)可容納的**大氣泡量。當(dāng)氣泡的數(shù)量超過飽和點(diǎn)rs時(shí),清洗液將受圖案結(jié)構(gòu)內(nèi)的氣泡阻擋且很難到達(dá)通孔18034或槽18036側(cè)壁的底部,因此,清洗液的清洗效果會(huì)受到影響。當(dāng)氣泡的數(shù)量低于飽和點(diǎn)時(shí),清洗液在通孔18034或槽18036內(nèi)有足夠的活動(dòng)路徑,從而獲得良好的清洗效果。低于飽和點(diǎn)時(shí),氣泡總體積vb與通孔或槽或其他凹進(jìn)區(qū)域的總體積vvtr的比值r為:r=vb/vvtr當(dāng)處于飽和點(diǎn)rs時(shí),比值r為:r=vb/vvtr=rs通孔18034,槽18036或其他凹進(jìn)區(qū)域內(nèi)氣泡總體積為:vb=n*vb其中,n為通孔、槽或凹進(jìn)區(qū)域內(nèi)的氣泡總數(shù),vb為單個(gè)氣泡的平均體積。如圖18e至圖18h所示,當(dāng)超聲波或兆聲波能量被應(yīng)用于清洗液中時(shí),氣泡18012的尺寸逐漸膨脹到一定體積,從而導(dǎo)致氣泡總體積vb和通孔、槽或其他凹進(jìn)區(qū)域的體積vvtr的比值r接近或超過飽和點(diǎn)rs。膨脹的氣泡18012堵塞了清洗液體交換和***通孔或槽中雜質(zhì)的路徑。在這種情況下。

    因?yàn)榍逑匆旱臏囟冗h(yuǎn)低于氣體和/或蒸汽溫度。在一些實(shí)施例中,直流輸出的振幅,可以是正的也可以是負(fù)的,可以大于(圖片中未顯示),等于(如圖16a和16b所示)或小于(如圖16c所示)在τ1時(shí)間段內(nèi)用于在清洗液中制造氣穴振蕩的電源輸出功率p1。圖17揭示了根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例的晶圓清洗工藝。該晶圓清洗工藝也與圖7a-7e所示的相類似,除了圖7d所示的步驟7050。該晶圓清洗工藝使電源輸出的相位反相,同時(shí)保持在時(shí)間段τ1內(nèi)施加的相同頻率f1,因此,氣泡氣穴振蕩能夠迅速停止。結(jié)果,氣泡內(nèi)氣體和/或蒸汽的溫度開始降低,因?yàn)榍逑匆旱臏囟冗h(yuǎn)低于氣體和/或蒸汽溫度。參考圖17所示,在τ2時(shí)間段內(nèi)電源輸出功率水平為p2,在不同的實(shí)施例中,p2可以大于、等于或小于在τ1時(shí)間段內(nèi)電源輸出功率水平p1。在一個(gè)實(shí)施例中,只要相位相反,時(shí)間段τ2內(nèi)的電源頻率可以不同于f1。在一些實(shí)施例中,超聲波或兆聲波的電源輸出頻率f1在。圖18a-18j揭示了氣泡氣穴振蕩控制增強(qiáng)晶圓上通孔或槽內(nèi)的新鮮清洗液的循環(huán)。圖18a揭示了形成在晶圓18010上的多個(gè)通孔18034的剖視圖。通孔的開孔直徑表示為w1。通孔18034中由聲波能量產(chǎn)生的氣泡18012增強(qiáng)了對(duì)雜質(zhì)的去除,如殘留物和顆粒。半導(dǎo)體晶圓價(jià)格走勢(shì)..

    vi-v0-△v)/(δv-△v)+1)=ni/f1=((vi-v0-△t)/(δv-△v)+1)/f1(20)其中,t1是循環(huán)周期,f1是超聲波或兆聲波的頻率。因此,為了防止氣泡尺寸達(dá)到阻塞特征結(jié)構(gòu)的水平,通過公式(19)及(20)可以計(jì)算出所需的周期數(shù)ni及時(shí)間τi。需要注意的是,當(dāng)氣穴振蕩的周期數(shù)n增加時(shí),氣泡內(nèi)的氣體和/或蒸汽的溫度增加,因此,氣泡表面更多的分子將蒸發(fā)到氣泡內(nèi)部,氣泡19082的尺寸將進(jìn)一步增加且大于由方程式(18)計(jì)算出的值。在實(shí)際操作中,由于氣泡尺寸將由后續(xù)揭示的實(shí)驗(yàn)方法決定,由于溫度升高,液體或水蒸發(fā)到氣泡內(nèi)表面,對(duì)氣泡尺寸的影響在這里不作詳細(xì)的理論討論。由于單個(gè)氣泡的平均體積持續(xù)增大,氣泡總體積vb和通孔、槽或其他凹進(jìn)區(qū)域的體積vvtr的比值r從r0不斷增大,如圖19d所示。由于氣泡體積增大,氣泡的直徑**終達(dá)到與如圖18a及18b所示的通孔18034或如圖18c或18d所示槽18036的特征尺寸w1的相同尺寸或同一數(shù)量級(jí)尺寸。通孔18034和槽18036內(nèi)的氣泡將阻擋超/兆聲波能量進(jìn)一步到達(dá)通孔18034和槽18036的底部,尤其當(dāng)深寬比(深度/寬度)大于3倍或更多時(shí)。因此,如此深的通孔或槽底部的污染物或顆粒無法有效去除或清理干凈。因此,提出了一種新的清洗工藝。半導(dǎo)體晶圓推薦咨詢??半導(dǎo)體晶圓價(jià)格優(yōu)惠

進(jìn)口半導(dǎo)體晶圓的優(yōu)勢(shì)?安徽全球半導(dǎo)體晶圓

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