主要參數(shù)如下：（1）眼圖張開的寬度決定了接收波形可以不受串?dāng)_影響而抽樣再生的時(shí)間間隔。顯然，比較好抽樣時(shí)刻應(yīng)選在眼睛張開比較大的時(shí)刻。（2）眼圖斜邊的斜率，表示系統(tǒng)對定時(shí)抖動(dòng)（或誤差）的靈敏度，斜率越大，系統(tǒng)對定時(shí)抖動(dòng)越敏感。（3）眼圖左（右）角陰影部分的水平寬度表示信號(hào)零點(diǎn)的變化范圍，稱為零點(diǎn)失真量，在許多接收設(shè)備中，定時(shí)信息是由信號(hào)零點(diǎn)位置來提取的，對于這種設(shè)備零點(diǎn)失真量很重要。（4）在抽樣時(shí)刻，陰影區(qū)的垂直寬度表示比較大信號(hào)失真量。（5）在抽樣時(shí)刻上、下兩陰影區(qū)間隔的一半是小噪聲容限，噪聲瞬時(shí)值超過它就有可能發(fā)生錯(cuò)誤判決。（6）橫軸對應(yīng)判決門限電平。眼圖測試系統(tǒng)基礎(chǔ)知識(shí)？北京眼圖測試方案商

    圖測量中需要疊加的波形或比特的數(shù)量：在眼圖測量中，疊加的波形或比特的數(shù)量不一樣，可能得到的眼圖結(jié)果會(huì)有細(xì)微的差異。由于隨機(jī)噪聲和隨機(jī)抖動(dòng)的存在，疊加的波形或比特?cái)?shù)量越多，則眼的張開程度會(huì)越小，就越能測到惡劣的情況，但相應(yīng)的測試時(shí)間也會(huì)變長。為了在測量結(jié)果的可靠性以及測量時(shí)間上做一個(gè)折衷，有些標(biāo)準(zhǔn)會(huì)規(guī)定眼圖測量需要疊加的波形或比特?cái)?shù)量，比如需要疊加1000個(gè)波形或者疊加1M個(gè)比特等。眼圖位置的選擇：當(dāng)數(shù)字信號(hào)進(jìn)行波形或者比特疊加后，形成的不只是一個(gè)眼圖，而是一個(gè)個(gè)連續(xù)的眼圖。如果疊加的波形或者比特?cái)?shù)量足夠，這些眼圖都是很相似的，因此可以對其中任何一個(gè)眼圖進(jìn)行測量。下圖顯示的是疊加形成的多個(gè)連續(xù)的眼圖，可以看到每個(gè)眼圖都是很相似的。通常情況下，為了測量的方便，一般會(huì)調(diào)整時(shí)基刻度使得屏幕上只顯示一個(gè)完整的眼圖。 北京眼圖測試方案商眼圖測試的主要三個(gè)參數(shù)？

傳統(tǒng)眼圖測量方法的原理傳統(tǒng)方法的個(gè)缺點(diǎn)就是效率太低。對于現(xiàn)在的高速信號(hào)如PCI-ExpressGen2，PCI-SIG要求測量1百萬個(gè)UI的眼圖，用傳統(tǒng)方法就需要觸發(fā)1百萬次，這可能需要幾個(gè)小時(shí)才能測量完。第二個(gè)缺點(diǎn)是，由于每次觸發(fā)只能疊加一個(gè)UI,形成1百萬個(gè)UI的眼圖就需要觸發(fā)1百萬次，這樣不斷觸發(fā)的過程中必然將示波器本身的觸發(fā)抖動(dòng)也引入到了眼圖上。對于2.5GBbps以上的高速信號(hào)，這種觸發(fā)抖動(dòng)是不可忽略的。如何同步觸發(fā)，也就是說如何使每個(gè)UI的數(shù)據(jù)相對于觸發(fā)點(diǎn)排列？也有兩種方法，一種方法是在被測電路板上找到和串行數(shù)據(jù)同步的時(shí)鐘，將此時(shí)鐘引到示波器作為觸發(fā)源，時(shí)鐘的邊沿作為觸發(fā)的條件。另外一種方法是將被測的串行信號(hào)同時(shí)輸入到示波器的輸入通道和硬件時(shí)鐘恢復(fù)電路(CDR)通道，硬件CDR恢復(fù)出串行數(shù)據(jù)里內(nèi)嵌的時(shí)鐘作為觸發(fā)源。這種同步方法引入了CDR抖動(dòng)，這是傳統(tǒng)方法的第三個(gè)缺點(diǎn)。

    對于DDR源同步操作，必然要求DQS選通信號(hào)與DQ數(shù)據(jù)信號(hào)有一定建立時(shí)間tDS和保持時(shí)間tDH要求，否則會(huì)導(dǎo)致接收鎖存信號(hào)錯(cuò)誤，DDR4信號(hào)速率達(dá)到了，單一比特位寬為，時(shí)序裕度也變得越來越小，傳統(tǒng)的測量時(shí)序的方式在短時(shí)間內(nèi)的采集并找到tDS/tDH差值，無法大概率體現(xiàn)由于ISI等確定性抖動(dòng)帶來的對時(shí)序惡化的貢獻(xiàn)，也很難準(zhǔn)確反映隨機(jī)抖動(dòng)Rj的影響。在DDR4的眼圖分析中就要考慮這些抖動(dòng)因素，基于雙狄拉克模型分解抖動(dòng)和噪聲的隨機(jī)性和確定性成分，外推出基于一定誤碼率下的眼圖張度。JEDEC協(xié)會(huì)在規(guī)范中明確了在DDR4中測試誤碼率為1e-16的眼圖輪廓，確保滿足在Vcent周圍Tdivw時(shí)間窗口和Vdivw幅度窗口范圍內(nèi)模板內(nèi)禁入的要求。 眼圖測試(信號(hào)完整性測試)-HDMI 2.1。

DDR眼圖測試1-4

DDR4 做測試時(shí)，由于 BGA 信號(hào)難以探測，是德科技提供了 N2114A/N2115A 等DDR4 Interposer，將 BGA 下方的信號(hào)引到 Interposer ，方便探頭焊接，為了減少 Interposer 對信號(hào)帶來影響，在 interposer 內(nèi)專門有埋阻設(shè)計(jì)，減少由于分支和走線帶來的阻抗不連續(xù)和對信號(hào)的負(fù)載效應(yīng)；但為了精確測量，我們需要對 BGA Interposer 帶來的誤差進(jìn)行修正。可以通過 InfiniiSim 或在 DDR4 一致性測試軟件N6462A 內(nèi)進(jìn)行去嵌，在軟件內(nèi)使用多端口拓?fù)淠Ｐ?，載入 Interposer 的S 參數(shù)，生成從探頭測試點(diǎn)到 BGA 焊球位置的去嵌傳遞函數(shù)，在示波器中測得去嵌后的波形，下圖可以看到去嵌后信號(hào)眼圖的改善。 眼圖測試基本概念 原理 參數(shù) 操作步驟 測量方法 其他概念。北京眼圖測試方案商

基于誤碼率的眼圖測試？北京眼圖測試方案商

當(dāng)數(shù)字信號(hào)疊加形成眼圖以后，為了方便地區(qū)分信號(hào)在不同位置出現(xiàn)的概率大小，更多的時(shí)候會(huì)用彩色余暉的模式進(jìn)行信號(hào)的觀察。彩色余暉就是把信號(hào)在屏幕上不同位置出現(xiàn)的概率大小用相應(yīng)的顏色表示出來，這樣可以直觀地看出信號(hào)噪聲、抖動(dòng)等的分布情況。

對于眼圖的概念，有以下幾點(diǎn)比較重要：

（1）眼圖的波形的疊加：眼圖的測量方法不是對單一波形或特定比特位置的波形參數(shù)進(jìn)行測量，而是把盡可能多的波形或比特疊加在一起，這樣可以看到信號(hào)的統(tǒng)計(jì)分布情況。只有差的信號(hào)都滿足我們對于信號(hào)的基本要求，才說明信號(hào)質(zhì)量是可以接受的。 北京眼圖測試方案商