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貴州PCI-E測(cè)試執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)

來(lái)源: 發(fā)布時(shí)間:2025-04-21

首先來(lái)看一下惡劣信號(hào)的定義,不是隨便一個(gè)信號(hào)就可以,且惡劣程度要有精確定義才 能保證測(cè)量的重復(fù)性。通常把用于接收端容限測(cè)試的這個(gè)惡劣信號(hào)叫作Stress Eye,即壓 力眼圖,實(shí)際上是借鑒了光通信的叫法。這個(gè)信號(hào)是用高性能的誤碼儀先產(chǎn)生一個(gè)純凈的 帶特定預(yù)加重的信號(hào),然后在這個(gè)信號(hào)上疊加精確控制的隨機(jī)抖動(dòng)(RJ)、周期抖動(dòng)(SJ)、差 模和共模噪聲以及碼間干擾(ISI)。為了確定每個(gè)成分的大小都符合規(guī)范的要求,測(cè)試之前需要先用示波器對(duì)誤碼儀輸出的信號(hào)進(jìn)行校準(zhǔn)。其中,ISI抖動(dòng)是由PCIe協(xié)會(huì)提供的測(cè)試 夾具產(chǎn)生,其夾具上會(huì)模擬典型的主板或者插卡的PCB走線對(duì)信號(hào)的影響。在PCIe3.0的 CBB夾具上,增加了專(zhuān)門(mén)的Riser板以模擬服務(wù)器等應(yīng)用場(chǎng)合的走線對(duì)信號(hào)的影響;而在 PCIe4.0和PCIe5.0的夾具上,更是增加了專(zhuān)門(mén)的可變ISI的測(cè)試板用于模擬和調(diào)整ISI的 影響。PCI-E4.0的發(fā)射機(jī)質(zhì)量測(cè)試?貴州PCI-E測(cè)試執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)

貴州PCI-E測(cè)試執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn),PCI-E測(cè)試

如前所述,在PCle4.0的主板和插卡測(cè)試中,PCB、接插件等傳輸通道的影響是通過(guò)測(cè) 試夾具進(jìn)行模擬并且需要慎重選擇ISI板上的測(cè)試通道,而對(duì)端接收芯片封裝對(duì)信號(hào)的影 響是通過(guò)軟件的S參數(shù)嵌入進(jìn)行模擬的。測(cè)試過(guò)程中需要用示波器軟件或者PCI-SIG提 供的測(cè)試軟件把這個(gè)S參數(shù)文件的影響加到被測(cè)波形上。

PCIe4.0信號(hào)質(zhì)量分析可以采用兩種方法: 一種是使用PCI-SIG提供的Sigtest軟件 做手動(dòng)分析,另一種是使用示波器廠商提供的軟件進(jìn)行自動(dòng)測(cè)試。 智能化多端口矩陣測(cè)試PCI-E測(cè)試系列pcie接口定義及知識(shí)解析;

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PCIe背景概述PCIExpress(PeripheralComponentInterconnectExpress,PCle)總線是PCI總線的串行版本,廣泛應(yīng)用于顯卡、GPU、SSD卡、以太網(wǎng)卡、加速卡等與CPU的互聯(lián)。PCle的標(biāo)準(zhǔn)由PCI-SIG(PCISpecialInterestGroup)組織制定和維護(hù),目前其董事會(huì)主要成員有Intel、AMD、nVidia、DellEMC、Keysight、Synopsys、ARM、Qualcomm、VTM等公司,全球會(huì)員單位超過(guò)700家。PCI-SIG發(fā)布的規(guī)范主要有Base規(guī)范(適用于芯片和協(xié)議)、CEM規(guī)范(適用于板卡機(jī)械和電氣設(shè)計(jì))、測(cè)試規(guī)范(適用于測(cè)試驗(yàn)證方法)等,目前產(chǎn)業(yè)界正在逐漸商用第5代版本,同時(shí)第6代標(biāo)準(zhǔn)也在制定完善中。由于組織良好的運(yùn)作、的芯片支持、成熟的產(chǎn)業(yè)鏈,PCIe已經(jīng)成為服務(wù)器和個(gè)人計(jì)算機(jī)上成功的高速串行互聯(lián)和I/O擴(kuò)展總線。圖4.1是PCIe總線的典型應(yīng)用場(chǎng)景。

關(guān)于各測(cè)試項(xiàng)目的具體描述如下:·項(xiàng)目2.1Add-inCardTransmitterSignalQuality:驗(yàn)證插卡發(fā)送信號(hào)質(zhì)量,針對(duì)2.5Gbps、5Gbps、8Gbps、16Gbps速率?!ろ?xiàng)目2.2Add-inCardTransmitterPulseWidthJitterTestat16GT/s:驗(yàn)證插卡發(fā)送信號(hào)中的脈沖寬度抖動(dòng),針對(duì)16Gbps速率。·項(xiàng)目2.3Add-inCardTransmitterPresetTest:驗(yàn)證插卡發(fā)送信號(hào)的Preset值是否正確,針對(duì)8Gbps和16Gbps速率?!ろ?xiàng)目2.4AddinCardTransmitterInitialTXEQTest:驗(yàn)證插卡能根據(jù)鏈路命令設(shè)置成正確的初始Prest值,針對(duì)8Gbps和16Gbps速率?!ろ?xiàng)目2.5Add-inCardTransmitterLinkEqualizationResponseTest:驗(yàn)證插卡對(duì)于鏈路協(xié)商的響應(yīng)時(shí)間,針對(duì)8Gbps和16Gbps速率。PCIE 系統(tǒng)架構(gòu)及物理層一致性測(cè)試;

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在物理層方面,PCIe總線采用多對(duì)高速串行的差分信號(hào)進(jìn)行雙向高速傳輸,每對(duì)差分  線上的信號(hào)速率可以是第1代的2 . 5Gbps、第2代的5Gbps、第3代的8Gbps、第4代的  16Gbps、第5代的32Gbps,其典型連接方式有金手指連接、背板連接、芯片直接互連以及電  纜連接等。根據(jù)不同的總線帶寬需求,其常用的連接位寬可以選擇x1、x4、x8、x16等。如  果采用×16連接以及第5代的32Gbps速率,理論上可以支持約128GBps的雙向總線帶寬。 另外,2019年P(guān)CI-SIG宣布采用PAM-4技術(shù),單Lane數(shù)據(jù)速率達(dá)到64Gbps的第6代標(biāo)  準(zhǔn)規(guī)范也在討論過(guò)程中。列出了PCIe每一代技術(shù)發(fā)展在物理層方面的主要變化。PCIE物理層鏈路一致性測(cè)試狀態(tài)設(shè)計(jì);寧夏PCI-E測(cè)試代理品牌

PCI-E 3.0測(cè)試發(fā)送端變化;貴州PCI-E測(cè)試執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)

隨著數(shù)據(jù)速率的提高,芯片中的預(yù)加重和均衡功能也越來(lái)越復(fù)雜。比如在PCle 的1代和2代中使用了簡(jiǎn)單的去加重(De-emphasis)技術(shù),即信號(hào)的發(fā)射端(TX)在發(fā)送信 號(hào)時(shí)對(duì)跳變比特(信號(hào)中的高頻成分)加大幅度發(fā)送,這樣可以部分補(bǔ)償傳輸線路對(duì)高 頻成分的衰減,從而得到比較好的眼圖。在1代中采用了-3.5dB的去加重,2代中采用了 -3.5dB和-6dB的去加重。對(duì)于3代和4代技術(shù)來(lái)說(shuō),由于信號(hào)速率更高,需要采用更加 復(fù)雜的去加重技術(shù),因此除了跳變比特比非跳變比特幅度增大發(fā)送以外,在跳變比特的前 1個(gè)比特也要增大幅度發(fā)送,這個(gè)增大的幅度通常叫作Preshoot。為了應(yīng)對(duì)復(fù)雜的鏈路環(huán)境,貴州PCI-E測(cè)試執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)