SKYSCAN2214研究地質(zhì)樣品——無論是地下深處的巖心樣品還是地面之上的巖石，能為探索我們所在世界的形成過程提供豐富的信息。分析時(shí)通常需要破壞原始樣品，消除內(nèi)部結(jié)構(gòu)的重要起源。XRM可在無需切片的情況下分析樣品，因而能夠更快地得到結(jié)果，也使樣品未來能夠繼續(xù)用于分析。SKYSCAN2214擁有3D.SUITE配套軟件。這個(gè)綜合性的軟件包涵蓋GPU加速重建、2D/3D形態(tài)分析，以及表面和體渲染可視化。1.根據(jù)密度對(duì)樣品內(nèi)部結(jié)構(gòu)進(jìn)行三維可視化。2.孔隙網(wǎng)絡(luò)的可視化。3.數(shù)字切片允許使用標(biāo)準(zhǔn)地質(zhì)分析方法。Bruker Micro-CT 可廣泛應(yīng)用于以下領(lǐng)域：原材料、合成材料、合成材料、其他。福建BRUKER顯微CT配件

主要特點(diǎn)及技術(shù)指標(biāo):§很大程度上保護(hù)樣品：無需制備樣品，無損三維重現(xiàn)§對(duì)樣品的細(xì)節(jié)檢測(cè)能力（分辨率）比較高可達(dá)：450nm§比較大掃描樣品直徑：75mm；比較大掃描樣品長(zhǎng)度：70mm§自動(dòng)可變掃描幾何系統(tǒng)：根據(jù)用戶設(shè)定的放大倍率，儀器可自動(dòng)優(yōu)化掃描幾何，找到快的測(cè)試方案，用短時(shí)間，得到高質(zhì)量數(shù)據(jù)§全新的100kV度微焦斑X射線光源，提供更高的光通量和更好的光束穩(wěn)定性，完全免維護(hù)§全新的1100萬(wàn)像素CCD探測(cè)器，4000x2670像素，大面積、高靈敏度，1：1偶合無束錐比§6位自動(dòng)濾片轉(zhuǎn)換器，針對(duì)不同樣品，可自由選擇不同能量，以得到比較好化的實(shí)驗(yàn)條件§集成的高精度微調(diào)樣品臺(tái)可方便系統(tǒng)獲得樣品，尤其是小樣品的比較好位置§樣品腔內(nèi)置500萬(wàn)像素彩色光學(xué)相機(jī)可更方便地實(shí)時(shí)觀察樣品位置，并隨時(shí)保存圖像§16位自動(dòng)進(jìn)樣器（可選），可連續(xù)測(cè)量16個(gè)樣品。樣品會(huì)自動(dòng)被轉(zhuǎn)移到樣品臺(tái)上進(jìn)行逐個(gè)掃描，每個(gè)樣品可以按照相同的或者特定的策略進(jìn)行掃描§二維/三維數(shù)據(jù)分析，面/體繪制軟件實(shí)現(xiàn)三維可視化，終結(jié)果可輸出到手機(jī)或者平板電腦上（iOSandAndroid），并導(dǎo)出STL文件用于3D打印廣東進(jìn)口顯微CT哪里好“擴(kuò)散”意味著強(qiáng)度沒有整體增加或減少，即沒有強(qiáng)度信號(hào)的產(chǎn)生或破壞：對(duì)密度測(cè)量有利。

桌面型高能量X射線顯微CT（XRM）Skyscan1273是Bruker全新的基于微型計(jì)算機(jī)斷層掃描（Micro-CT）技術(shù)的臺(tái)式3DX射線顯微成像系統(tǒng)?？扇菁{長(zhǎng)度不超過500mm、直徑不超過300mm、重量為20kg的樣品，這是臺(tái)式顯微成像設(shè)備進(jìn)行無損檢測(cè)（NDT）的新標(biāo)準(zhǔn)。精密的硬件讓Skyscan1273成為強(qiáng)有力的工具。高能量的X射線源和具有高靈敏度和速度的大幅面平板探測(cè)器的結(jié)合，在短短幾秒鐘內(nèi)就能提供出色的高質(zhì)量圖像。的軟件，直接進(jìn)行數(shù)據(jù)收集，先進(jìn)的圖像分析，強(qiáng)大的可視化使Skyscan1273成為一個(gè)簡(jiǎn)單易用的3DX射線顯微成像系統(tǒng)。Skyscan1273臺(tái)式3DX射線顯微成像系統(tǒng)占地面積小，簡(jiǎn)單易操作，幾乎無需維護(hù)。因此，Skyscan1273運(yùn)行穩(wěn)定，性價(jià)比極高。

特點(diǎn)：X射線源：涵蓋各領(lǐng)域應(yīng)用，從有機(jī)物到金屬樣品標(biāo)稱分辨率（放大倍數(shù)下的像素尺寸）：檢測(cè)樣品極小的細(xì)節(jié)X射線探測(cè)器：3MP（1,944x1,536）有效像素的CMOS平板探測(cè)器，高讀取速度，高信噪比樣品尺寸：適用于小-中等尺寸樣品輻射安全：滿足國(guó)際安全要求供電要求：標(biāo)準(zhǔn)插座，即插即用布魯克三維X射線顯微鏡microCT信息由布魯克衍射熒光事業(yè)部(BrukerAXS)為您提供，如您想了解更多關(guān)于布魯克三維X射線顯微鏡microCT報(bào)價(jià)、型號(hào)、參數(shù)等信息，歡迎來電或留言咨詢。CTAn提供了一個(gè)新的插件來執(zhí)行局部取向分析，以一定半徑內(nèi)的灰度梯度的計(jì)算為基礎(chǔ)，可進(jìn)行2D或3D的分析。

高分辨三維X射線顯微成像系統(tǒng)━內(nèi)部結(jié)構(gòu)非破壞性的成像技術(shù)眼見為實(shí)!這是我們常常將顯微鏡應(yīng)用于材料表征的原因。傳統(tǒng)的顯微鏡利用光或電子束，對(duì)樣品直接進(jìn)行成像。其他的，如原子力顯微鏡（AFM），則利用傳感器來檢測(cè)樣品表面。這些方法都能夠提供樣品表面/近表面結(jié)構(gòu)或特性的局部二維圖像。但是，是否存在一種技術(shù)能實(shí)現(xiàn)以下幾點(diǎn)功能？☉內(nèi)部結(jié)構(gòu)三維成像？⊙一次性測(cè)量整個(gè)樣品？⊙直接檢測(cè)？⊙無需進(jìn)行大量樣品制備，如更換或破壞樣品，就能實(shí)現(xiàn)上述目標(biāo)？選配自動(dòng)進(jìn)樣器,SKYSCAN 1275可以全天候工作。黑龍江自動(dòng)化顯微CT調(diào)試

先進(jìn)的 16 兆像素 CMOS X 射線探測(cè)器可提供具有 分辨率的高對(duì)比度圖像。福建BRUKER顯微CT配件

無損顯微CT3D-XRM不需要進(jìn)行切片，染色或噴金等樣品處理。顯微CT3D-XRM的樣品可重復(fù)測(cè)試，進(jìn)行縱向比對(duì)。高襯度圖像聚丙烯這類主要由C,H等輕元素組成的物質(zhì)，對(duì)Ｘ射線吸收非常弱，想獲得足夠高的對(duì)比度，①要求X射線探測(cè)器的靈敏程度高，可以識(shí)別出微小的信號(hào)差異，獲取吸收襯度信息。②設(shè)備整體精度高，探測(cè)器靈敏度高，在吸收襯度之外，還可以利用X射線相位的變化，獲得包含相位襯度的圖像。大工作距離條件下的高分辨率模式大工作距離條件下的高分辨率掃描，一般是通過透鏡或光錐對(duì)閃爍體產(chǎn)生的信號(hào)進(jìn)行二次放大，布魯克SkyScan采用高分辨率CCD探測(cè)器（1100萬(wàn)像素,普通探測(cè)器一般為400萬(wàn)像素）+具有放大功能的光纖實(shí)現(xiàn)幾何放大和光錐二次放大，并且在進(jìn)行二次放大的同時(shí)，可以保證成像速度，在合理的時(shí)間內(nèi)完成大工作距離下的高分辨率掃描。福建BRUKER顯微CT配件