除去常見的對(duì)材料表面氧空位、碳原子或者氮原子缺陷位點(diǎn)的分析,XPS在缺陷分析中還有一個(gè)高大上的應(yīng)用,那就是利用光電子能譜測(cè)量功函數(shù),測(cè)量整個(gè)光譜范圍光電子能譜,在低結(jié)合能和高結(jié)合能下測(cè)量截?cái)嗄埽山財(cái)嗄芎凸庾幽芰靠梢源_定出功函數(shù)。使用50微米的X射線光斑收集信息,用PCA(Principal Component Analysis)算法就可以構(gòu)建太陽(yáng)能電池某損壞位置的實(shí)時(shí)光學(xué)視圖。該方法極大依賴于光譜儀和光子能量校準(zhǔn)的精確度,在K-Alpha XPS中,儀器會(huì)自動(dòng)校準(zhǔn)結(jié)合能,光子能量可以通過測(cè)量X射線誘導(dǎo)的俄歇峰的結(jié)合能位置來檢查,以上校準(zhǔn)過程儀器自動(dòng)完成,所以XPS是一種研究失效太陽(yáng)能電池脫出功面分布快捷直觀的手段??茖W(xué)指南針-中國(guó)大型科研服務(wù)機(jī)構(gòu),公司成立于 2014 年,以分析測(cè)試為重要,提供包含材料測(cè)試、行業(yè)解決方案 、云現(xiàn)場(chǎng)、環(huán)境檢測(cè)、模擬計(jì)算、數(shù)據(jù)分析、試劑耗材、指南針學(xué)院等在內(nèi)的研發(fā)服務(wù)矩陣。XPS測(cè)試就找科學(xué)指南針!在XPS檢測(cè)領(lǐng)域,我們擁有前沿的儀器設(shè)備,確保檢測(cè)結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。云南科學(xué)指南針X射線光電子能譜儀XPS實(shí)驗(yàn)上門取樣嗎
X射線光電子能譜分析(X-ray photoelectron spectroscopy, XPS)是用X射線去輻射樣品,使原子或分子的內(nèi)層電子或價(jià)電子受激發(fā)射出來。被光子激發(fā)出來的電子稱為光電子,可以測(cè)量光電子的能量,以光電子的動(dòng)能為橫坐標(biāo),相對(duì)強(qiáng)度(脈沖/s)為縱坐標(biāo)可做出光電子能譜圖,從而獲得待測(cè)物組成。XPS被大范圍地應(yīng)用于分析無機(jī)化合物、合金、半導(dǎo)體、聚合物、元素、催化劑、玻璃、陶瓷、染料、紙、墨水、木材、化妝品、牙齒、骨骼、移植物、生物材料、油脂、膠水等??茖W(xué)指南針常規(guī)類服務(wù)包括能譜類、電鏡類、熱分析類、吸附類、波譜類、光譜類、色譜質(zhì)譜類、電化學(xué)類、粒度/顆粒分析類、流變/粘度類、水分測(cè)試類、元素分析類、力學(xué)性能、電磁學(xué)性能測(cè)試、物性測(cè)試等,利用完善設(shè)備,結(jié)合現(xiàn)代分離分析技術(shù),能在多個(gè)技術(shù)領(lǐng)域解決當(dāng)下企業(yè)在產(chǎn)品研發(fā)和生產(chǎn)過程面臨的各種復(fù)雜問題。XPS測(cè)試就找科學(xué)指南針!安徽科學(xué)指南針X射線光電子能譜儀XPS測(cè)試便宜嗎我們的XPS檢測(cè)服務(wù)價(jià)格合理,為客戶提供高性價(jià)比的檢測(cè)方案。
為了研究電化學(xué)氧化對(duì)電極結(jié)構(gòu)和組成的影響,采用掃描電子顯微鏡(SEM)、傅立葉變換紅外光譜(FTIR)、元素分析和X射線光電子能譜(XPS)對(duì)電極進(jìn)行了表征。通過了XPS表征,以確定這些生成的氧物種的表面含量和價(jià)態(tài)的趨勢(shì)。XPS測(cè)量光譜在284.6、532.6和687.4 eV的結(jié)合能處顯示了三個(gè)特征峰,分別對(duì)應(yīng)于C1s、O1s和F1s,其中F的存在是由于在制備電極的過程中添加了PVDF粘合劑??茖W(xué)指南針已建立20個(gè)大型測(cè)試分析實(shí)驗(yàn)室(材料檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室、成分分析實(shí)驗(yàn)室、生物實(shí)驗(yàn)室、環(huán)境檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室等);現(xiàn)有80余臺(tái)大中型儀器設(shè)備,總價(jià)值超2億元;每年持續(xù)投入5千萬元以上購(gòu)買設(shè)備。XPS測(cè)試就找科學(xué)指南針!
XPS可用于定性分析以及半定量分析, 一般從XPS圖譜的峰位和峰形獲得樣品表面元素成分、化學(xué)態(tài)和分子結(jié)構(gòu)等信息,從峰強(qiáng)可獲得樣品表面元素含量或濃度。一般來說全譜掃描定性分析,窄譜進(jìn)行定量分析。XPS是一種典型的表面分析手段。其根本原因在于:盡管X射線可穿透樣品很深, 但只有樣品近表面一薄層發(fā)射出的光電子可逃逸出來。樣品的探測(cè)深度(d)由電子的逃逸深度(λ, 受X射線波長(zhǎng)和樣品狀態(tài)等因素影響)決定,通常,取樣深度d = 3λ。對(duì)于金屬而言λ為0.5-3 nm;無機(jī)非金屬材料為2-4 nm; 有機(jī)物和高分子為4-10 nm??茖W(xué)指南針各地實(shí)驗(yàn)室現(xiàn)分別擁有多種大型精密設(shè)備,如 TEM、FIB、XPS、核磁、AFM、SEM、EPR、穩(wěn)態(tài)瞬態(tài)熒光光譜儀、臺(tái)式同步輻射等,提供材料、環(huán)境、醫(yī)藥等多方位分析測(cè)試服務(wù)。XPS測(cè)試就找科學(xué)指南針!我們的技術(shù)團(tuán)隊(duì)具有快速響應(yīng)能力,能夠迅速處理客戶的問題和需求。
另外,因?yàn)槿肷涞綐悠繁砻娴腦射線束是一種光子束,所以對(duì)樣品的破壞性非常小,這一點(diǎn)對(duì)分析有機(jī)材料和高分子材料非常有利。通過測(cè)量材料表面吸收X射線后產(chǎn)生的光電子能譜,XPS能夠深入解析材料的元素組成、化學(xué)鍵信息和化學(xué)狀態(tài)。無論是金屬、半導(dǎo)體還是高分子材料,XPS都能提供關(guān)鍵的分析數(shù)據(jù),為材料性能的優(yōu)化和新材料的開發(fā)提供有力支持??茖W(xué)指南針致力于為高校、科研院所、醫(yī)院、研發(fā)型企業(yè)等科研工作者提供專業(yè)、快捷、多方位的檢測(cè)及科研服務(wù)。以分析測(cè)試為重要,提供包含材料測(cè)試、環(huán)境檢測(cè)、生物實(shí)驗(yàn)服務(wù)、行業(yè)解決方案、科研繪圖、模擬計(jì)算、數(shù)據(jù)分析、論文服務(wù)、試劑耗材、指南針學(xué)院等在內(nèi)的科研產(chǎn)品和服務(wù)矩陣。齊全的儀器設(shè)備,完善的分析圖譜數(shù)據(jù)庫(kù),團(tuán)隊(duì)重要成員均來自不同領(lǐng)域的資質(zhì)深厚技術(shù)老師,提供檢測(cè)分析研發(fā)一站式技術(shù)服務(wù)。XPS測(cè)試就找科學(xué)指南針!我們的XPS檢測(cè)設(shè)備具有很廣的元素檢測(cè)范圍,能夠滿足不同客戶的需求。上??茖W(xué)指南針X射線光電子能譜儀XPS實(shí)驗(yàn)上門取樣嗎
我們以高效的服務(wù)流程贏得客戶的多多贊譽(yù),確??蛻裟軌蚣皶r(shí)獲得檢測(cè)結(jié)果。云南科學(xué)指南針X射線光電子能譜儀XPS實(shí)驗(yàn)上門取樣嗎
XPS可以分析摻雜改性后電極材料與電解液之間的界面化學(xué)變化,了解界面處的電荷轉(zhuǎn)移和離子傳輸過程,為優(yōu)化摻雜改性方案提供指導(dǎo)。以某種鋰離子電池負(fù)極材料的摻雜改性為例,通過向材料中添加少量某種元素進(jìn)行摻雜改性。利用XPS技術(shù)對(duì)摻雜改性前后的材料進(jìn)行表面元素和化學(xué)狀態(tài)分析。結(jié)果表明,摻雜改性后材料表面的某種關(guān)鍵元素的價(jià)態(tài)發(fā)生了變化。科學(xué)指南針常規(guī)類服務(wù)包括能譜類、電鏡類、熱分析類、吸附類、波譜類、光譜類、色譜質(zhì)譜類、電化學(xué)類、粒度/顆粒分析類、流變/粘度類、水分測(cè)試類、元素分析類、力學(xué)性能、電磁學(xué)性能測(cè)試、物性測(cè)試等,利用完善設(shè)備,結(jié)合現(xiàn)代分離分析技術(shù),能在多個(gè)技術(shù)領(lǐng)域解決當(dāng)下企業(yè)在產(chǎn)品研發(fā)和生產(chǎn)過程面臨的各種復(fù)雜問題。XPS測(cè)試就找科學(xué)指南針!云南科學(xué)指南針X射線光電子能譜儀XPS實(shí)驗(yàn)上門取樣嗎