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服務(wù)優(yōu)SEM掃描電鏡天然石墨孔徑分布測(cè)試測(cè)定

來(lái)源: 發(fā)布時(shí)間:2024-05-13

正極材料的性能主要受其氫氧化物前驅(qū)體的結(jié)構(gòu)、形貌、粒徑等因素影響,另外,正極粉末的形態(tài)及結(jié)構(gòu)調(diào)控方式(納米化、包裹層、晶體取向、晶體種類(lèi)、團(tuán)聚、內(nèi)部元素梯度分布等)都將對(duì)正極的性能有直接的影響。因此,掃描電子顯微鏡在表征正極材料(前驅(qū)體、合成粉末、極片)方面發(fā)揮了重要作用。

場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡利用其獨(dú)特的電子光學(xué)和探測(cè)器設(shè)計(jì),在正極材料檢測(cè)中,有著優(yōu)異的表現(xiàn)。富鎳三元正極材料前驅(qū)體 Ni1-x- yCoxMny(OH)2共沉淀結(jié)晶過(guò)程的生長(zhǎng)機(jī)制主要是:堿液與金屬離子反應(yīng)瞬間成核,晶核周?chē)慕饘侔苯j(luò)合物以過(guò)渡金屬氫氧化物的形式沉淀在晶核外表面,長(zhǎng)大到一定尺寸的晶粒團(tuán)聚成團(tuán)聚物,團(tuán)聚物再生長(zhǎng)成致密球形的前驅(qū)體顆粒。前驅(qū)體顆粒的導(dǎo)電性非常差,但在不鍍金的情況下,可直接利用T1探測(cè)器成像,觀(guān)察整體的顆粒形貌和尺寸分布。在細(xì)節(jié)的呈現(xiàn)上,利用對(duì)細(xì)節(jié)敏感的T2探測(cè)器在800V,可清楚的看到二次球上片狀與層狀結(jié)構(gòu)無(wú)序堆疊的生長(zhǎng)特點(diǎn)。

SEM掃描電鏡檢測(cè)通過(guò)對(duì)材料微觀(guān)結(jié)構(gòu)和成分的分析,為材料質(zhì)量的評(píng)估提供了客觀(guān)的數(shù)據(jù)支持。我們的檢測(cè)服務(wù)嚴(yán)格按照國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行,我們采用先進(jìn)的儀器設(shè)備和實(shí)驗(yàn)室設(shè)施,確保測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。 我們的檢測(cè)技術(shù)利用SEM掃描電鏡,可以對(duì)電池材料中的細(xì)微元素進(jìn)行分析。服務(wù)優(yōu)SEM掃描電鏡天然石墨孔徑分布測(cè)試測(cè)定

在電池循環(huán)使用過(guò)程中,電極材料可能會(huì)發(fā)生磨損和失活現(xiàn)象,導(dǎo)致電池性能下降。SEM技術(shù)可以用于研究電池材料的磨損和失活機(jī)制,為電池壽命的延長(zhǎng)和性能的優(yōu)化提供有力支持。通過(guò)SEM技術(shù),可以觀(guān)察到電極材料在循環(huán)過(guò)程中的表面形貌變化和微觀(guān)損傷。通過(guò)分析這些信息,可以了解電極材料的磨損和失活機(jī)制,如界面失活、顆粒脫落以及結(jié)構(gòu)破壞等。這些信息有助于理解電池性能下降的原因,為優(yōu)化電池制備工藝、提高電池壽命提供有力支持。高清SEM掃描電鏡天然石墨微區(qū)元素分析組成測(cè)試ppmppb通過(guò)SEM掃描電鏡,我們能夠快速分析電池材料的晶體結(jié)構(gòu)、成分分布和缺陷情況,為客戶(hù)提供可靠的數(shù)據(jù)支持。

質(zhì)子交換膜形貌(厚度)觀(guān)察

客戶(hù)需求

在電池使用過(guò)程中,若出現(xiàn)電壓異常、阻抗異常、輸出功率大幅降低等問(wèn)題時(shí),則會(huì)使質(zhì)子交換膜的形貌出現(xiàn)厚度不均勻或涂層剝落等情況,進(jìn)而引發(fā)電池內(nèi)部化學(xué)反應(yīng)的不穩(wěn)定,影響電池的性能和壽命,因而對(duì)質(zhì)子交換膜形貌的觀(guān)察和分析是值得且必須要做的。

解決方案

為了確定問(wèn)題的根源,我們可以采用質(zhì)子交換膜形貌(厚度)觀(guān)察的方法。先用離子束研磨(CP)對(duì)極片、粉末和隔膜的截面切割,在原子層面上對(duì)樣品進(jìn)行表面剝離,從而獲得干凈整潔、組織清晰、沒(méi)有劃痕及雜質(zhì)干擾和應(yīng)力損傷層的截面樣品。后用掃描電子顯微鏡(SEM)觀(guān)察質(zhì)子交換膜的形貌、顆粒尺度、涂層、元素?fù)诫s情況等信息,兩種方法結(jié)合可以初步判斷電池的質(zhì)量和壽命。

檢測(cè)結(jié)果

形貌:氬離子束切割(CP)+SEM

在新能源電池材料的失效分析中,SEM技術(shù)同樣發(fā)揮著重要作用。通過(guò)SEM觀(guān)察失效電池的微觀(guān)形貌,可以深入了解電池失效的原因,如材料開(kāi)裂、活性物質(zhì)脫落、界面反應(yīng)等。這些失效機(jī)制的揭示有助于改進(jìn)電池設(shè)計(jì)、優(yōu)化生產(chǎn)工藝以及提高電池的安全性。同時(shí),SEM技術(shù)還可以用于評(píng)估電池材料的循環(huán)穩(wěn)定性、倍率性能等關(guān)鍵指標(biāo),為新能源電池的研發(fā)提供有力支持。SEM掃描電鏡技術(shù),即掃描電子顯微鏡技術(shù),是現(xiàn)代材料科學(xué)領(lǐng)域中不可或缺的一項(xiàng)關(guān)鍵技術(shù)。它通過(guò)發(fā)射電子束對(duì)樣品表面進(jìn)行逐點(diǎn)掃描,激發(fā)出多種物理信號(hào),如二次電子、背散射電子等,隨后這些信號(hào)被收集并轉(zhuǎn)換成圖像,從而在顯示屏上呈現(xiàn)出樣品的表面形貌和結(jié)構(gòu)特征。由于其高分辨率、大景深和立體感強(qiáng)等特點(diǎn),SEM掃描電鏡技術(shù)在新能源電池材料測(cè)試領(lǐng)域發(fā)揮著重要作用。我們的檢測(cè)服務(wù)不僅限于電池材料,還包括其他領(lǐng)域檢測(cè)。

負(fù)極孔徑是指多孔固體中孔道的形狀和大小。孔其實(shí)是極不規(guī)則的,通常常把它視作圓形而以其半徑來(lái)表示孔的大小。

電極材料的粒徑和形貌可通過(guò)SEM測(cè)試觀(guān)察,有助于系統(tǒng)研究顆粒位尺寸及電化學(xué)性能的關(guān)系;離子電池負(fù)極材料主要分為碳基負(fù)極材料(使用多)、合金型負(fù)極材料、金屬氧化物負(fù)極及材料。掃描電鏡通過(guò)電子束轟擊樣品原子核后,樣品可以吸收電子束能量到達(dá)激發(fā)態(tài),激發(fā)態(tài)原子可以產(chǎn)生二次電子、背散射電子等,信號(hào)探測(cè)器對(duì)這些電子接收再進(jìn)行處理成像,[因?yàn)楫a(chǎn)生這些電子的區(qū)域主要為材料表層,可以依此觀(guān)測(cè)樣品微觀(guān)表面的形貌,并測(cè)量其孔徑大小。通過(guò)CP法可以實(shí)現(xiàn)粉末材料截面制備,可針對(duì)原始材料、循環(huán)前后及片中顆粒進(jìn)行分析。結(jié)合SEM表征,能夠分析材料內(nèi)部的形貌如是否含有裂紋、氣孔、孔隙等。

我們的專(zhuān)業(yè)團(tuán)隊(duì)由經(jīng)驗(yàn)豐富的材料科學(xué)家和工程師組成,他們精通各種材料檢測(cè)技術(shù)和分析方法,能夠?yàn)榭蛻?hù)提供精細(xì)、高效的檢測(cè)服務(wù)。我們注重細(xì)節(jié),嚴(yán)格把控每一個(gè)檢測(cè)環(huán)節(jié),確保數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性和可靠性。我們每年都會(huì)投入5千萬(wàn)元以上購(gòu)買(mǎi)新的設(shè)備,以確保我們的技術(shù)始終保持準(zhǔn)確地位以便更好地服務(wù)每一位客戶(hù)。 我們使用的SEM掃描電鏡具備高度的自動(dòng)化和精確度,確保檢測(cè)結(jié)果的一致性。專(zhuān)注SEM掃描電鏡+CP硅酸鐵鋰晶界分布特征檢測(cè)

我們的SEM掃描電鏡技術(shù)可用于評(píng)估電池材料的腐蝕和氧化情況。服務(wù)優(yōu)SEM掃描電鏡天然石墨孔徑分布測(cè)試測(cè)定

SEM掃描電鏡技術(shù)能夠直接觀(guān)察電池材料的表面形貌,提供高分辨率的圖像,幫助研究人員了解材料表面的顆粒分布、顆粒形貌和表面粗糙度等特征。這些信息對(duì)于評(píng)估電池材料的微觀(guān)結(jié)構(gòu)和表面質(zhì)量至關(guān)重要,有助于優(yōu)化電池材料的活性物質(zhì)分布、電極材料的制備方法和表面涂層等方面。除了表面形貌觀(guān)察外,SEM掃描電鏡技術(shù)還可以配合能譜儀(EDS或EDX)進(jìn)行材料的成分和組成分析。通過(guò)分析樣品不同區(qū)域的元素分布,研究人員可以研究電池材料的化學(xué)成分、雜質(zhì)分布和界面反應(yīng)等問(wèn)題。這種分析技術(shù)對(duì)于評(píng)估電極材料中活性物質(zhì)的分布情況、鋰離子電池中電解質(zhì)與電極的界面反應(yīng)等具有重要意義。在電池材料測(cè)試中,SEM掃描電鏡技術(shù)還可以用于觀(guān)測(cè)電池粉體顆粒的完整性、裂紋以及異物混入等情況。例如,利用飛納臺(tái)式掃描電鏡可以清晰地觀(guān)察電池粉體顆粒的形態(tài)和結(jié)構(gòu),通過(guò)集成的能譜儀可以分析是否混入異物,并判斷異物成分。這些信息對(duì)于評(píng)估電池材料的性能和穩(wěn)定性至關(guān)重要。服務(wù)優(yōu)SEM掃描電鏡天然石墨孔徑分布測(cè)試測(cè)定