手動探針臺基本配置（包含探針臺主體、顯微鏡、針座、探針等），探針臺主體-可測試晶圓尺寸：4英寸weili-樣品臺行程：100mm*100mm-移動分辨率：~：360度-低漏電底柵接口，標(biāo)準(zhǔn)Triax輸出-可選400度高溫樣品臺顯微鏡-三目連續(xù)變倍體鏡，LED環(huán)形照明-光學(xué)變倍總倍率45倍，物鏡，總放大倍率約700倍針座-磁性吸附底座，XYZ移動范圍：12mm-移動分辨率2um-標(biāo)配4個，可裝6個-漏電設(shè)計，漏電流探針低于100fA-Triax標(biāo)準(zhǔn)接口輸出，Keithley原裝低噪聲Triax線纜-低漏設(shè)計電探針，針尖探針探針直徑標(biāo)配10um，1um尺寸。 如何維護(hù)和保養(yǎng)高溫探針臺呢？SiC探針臺

提到探針臺，大家應(yīng)該會一頭霧水，不知道探針臺是干什么用的，下面就讓小編來給大家普及一下探針臺是干什么用的，供大家了解，希望能對大家有所幫助。探針臺可以將電探針、光學(xué)探針或射頻探針放置在硅晶片上，從而可以與測試儀器、半導(dǎo)體測試系統(tǒng)配合來測試芯片、半導(dǎo)體器件。這些測試可以很簡單，例如連續(xù)性或隔離檢查。也可以很復(fù)雜，包括微電路的完整功能測試?？梢栽趯⒕A鋸成單個管芯之前或之后進(jìn)行測試。在晶圓級別的測試允許制造商在生產(chǎn)過程中多次測試芯片器件，這可以提供有關(guān)哪些工藝步驟將缺陷引入產(chǎn)品的信息。它還使制造商能夠在封裝之前測試管芯，這在封裝成本相對于器件成本高的應(yīng)用中很重要。探針臺還可以用于研發(fā)、產(chǎn)品開發(fā)和故障分析應(yīng)用。探針臺可以固定晶圓或芯片，并準(zhǔn)確定位待測物。手動探針臺的使用者將探針臂和探針安裝到操縱器中，并使用顯微鏡將探針頂端放置到待測物上的正確位置。一旦所有探針頂端都被設(shè)置在正確的位置，就可以對待測物進(jìn)行測試。PCB探針臺規(guī)格光電流測試探針臺系統(tǒng)。

很多人都不了解探針臺，因為很少接觸到。但是，它在的作用是非常大的，它的使用步驟我們還是需要了解的。下面，小編就帶大家了解一下它的使用步驟。希望能對大家有所幫助。1、將樣品載入真空卡盤，開啟真空閥門控制開關(guān)，使樣品平安且牢固地吸附在卡盤上。2、運(yùn)用卡盤X軸、Y軸控制旋鈕挪動卡盤平臺，在顯微鏡低倍物鏡聚焦下看清楚樣品。3、顯微鏡切換為高倍率物鏡，在大倍率下找到待測點，再微調(diào)顯微鏡聚焦和樣品x-y，將影像調(diào)整明晰,帶測點在顯微鏡視場中間。4、待測點地位確認(rèn)好后,再調(diào)整探針座的地位,將探針臺探針裝上后可眼觀先將探針移到接近待測點的地位旁邊,再運(yùn)用探針座X-Y-Z三個微調(diào)旋鈕,漸漸的將探針移至被測點,此時舉措要小心且遲緩，以防舉措過大誤傷芯片，當(dāng)探針針尖懸空于被測點上空時，可先用Y軸旋鈕將探針行進(jìn)少許，再運(yùn)用Z軸旋鈕停止下針，剛開始則運(yùn)用X軸旋鈕左右滑動，察看能否有少許劃痕，證明能否曾經(jīng)接觸。5、確保針尖和被測點接觸良好后，則可以經(jīng)過銜接的測試設(shè)備開端測試。

探針臺是一種輔助執(zhí)行機(jī)構(gòu)，測試人員把需要量測的器件放到探針臺載物臺（chuck）上，在顯微鏡配合下，X-Y移動器件，找到需要探測的位置。接下來測試人員通過旋轉(zhuǎn)探針座上的X-Y-Z的三向旋鈕，控制前部探針（射頻或直流探針），精細(xì)扎到被測點，從而使其訊號線與外部測試機(jī)導(dǎo)通，通過測試機(jī)測試人員可以得到所需要的電性能參數(shù)。探針臺工作環(huán)境，探針臺應(yīng)放在堅固穩(wěn)定的臺面上，如地基有震動的情況，需要配置主動防震裝置，避免在高溫、潮濕、激烈震動、陽光直接照射和灰塵較多的環(huán)境下使用。使用比較好溫度范圍為5℃～40℃，比較好濕度是40%到85%，空氣中之濕度若低于30%以下，可靠濕度控制器予以控制，使維持50%～60%之范圍。使用時門窗盡可能關(guān)閉，使室內(nèi)達(dá)到除濕效果    。使用電源：220V，50Hz極端環(huán)境下給樣品加載電學(xué)信號的探針臺設(shè)備。

探針臺是半導(dǎo)體(包含集成電路、分立器材、光電器材、傳感器)行業(yè)重要的檢測配備之一，其廣泛應(yīng)用于雜亂、高速器材的ing密電氣測量，旨在保證質(zhì)量及可靠性，并縮減研發(fā)時刻和器材制作工藝的本錢。探計臺用于晶圓加工之后、封裝工藝之前的CP測驗環(huán)節(jié)，負(fù)責(zé)晶圓的輸送與定位，使晶圓上的晶粒依次與探針觸模并逐人測驗。在半導(dǎo)體器材與集成電路制作工藝中，從單晶硅棒的制取到ZU終器材制作的完結(jié)需經(jīng)過雜亂的工序，可分為前道工序與后道工序，探針臺是檢測半導(dǎo)體芯片的電參數(shù)、光參數(shù)的關(guān)鍵設(shè)備。探針臺廣泛應(yīng)用于科研單位研發(fā)測試、院校教學(xué)操作、企業(yè)實驗室芯片失效分析等領(lǐng)域。GaN 探針臺配件

經(jīng)濟(jì)實惠高性價比的手動探針臺。SiC探針臺

探針臺主要應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)、光電行業(yè)、集成電路以及封裝的測試。廣泛應(yīng)用于復(fù)雜、高速露件的精密電氣測量的研發(fā)，旨在確保質(zhì)量及可靠性，并縮減研發(fā)時間和器件制造工藝的成本。手動探針臺的主要用途是為半導(dǎo)體芯片的電參數(shù)測試提供一個測試平臺，探針臺可吸附多種規(guī)格芯片，并提供多個可調(diào)測試針以及探針座，配合測量儀器可完成集成電路的電壓，電流、電陽以及電容電壓特性線等參數(shù)檢測。適用于對芯片進(jìn)行科研分析，抽查測試等用途.激光探針臺主要檢測內(nèi)容:1、激光打標(biāo);2、表層修復(fù)線路(利用激光將兩層金屬線熔融連接);3、驅(qū)除短路點;4、激光斷線，5、干擾芯片測試;除了以幾項之外激光探針臺兼?zhèn)涑Ｒ?guī)探針臺功能:1.微小連接點信號引出2.失效分析失效確認(rèn)3.FIB電路修改后電學(xué)特性確認(rèn)4.晶圓可靠性驗證SiC探針臺

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