掃描透射電子顯微鏡 (STEM) 是什么？

掃描透射電子顯微鏡（Scanning Transmission Electron Microscopy， STEM）由透射電子顯微鏡（TEM）發(fā)展而來，指透射電子顯微鏡中有掃描附件者，尤其是指采用場發(fā)射電子槍作成的掃描透射電子顯微鏡。掃描透射電子顯微分析是綜合了掃描和普通透射電子分析的原理和特點而出現(xiàn)的一種新型分析方式，其空間分辨率可達(dá)亞埃米級，可在納米和原子尺度上對材料微結(jié)構(gòu)與精細(xì)化學(xué)組分的表征與分析。在冶金、材料、環(huán)境科學(xué)、生物科學(xué)等領(lǐng)域具有巨大應(yīng)用潛力。 共聚焦顯微鏡主要的觀察對象是熒光。70XL顯微鏡按需定制

體視顯微鏡又可稱為立體顯微鏡或解剖顯微鏡，是一種具有正象立體感顯微鏡。常常用于切片操作和顯微外科手術(shù)等生物、醫(yī)學(xué)領(lǐng)域和微小零件和集成電路的觀測、裝配、檢查等工業(yè)檢測。金相顯微鏡主要是用來鑒定和分析金屬內(nèi)部結(jié)構(gòu)組織，是金屬學(xué)研究金相的重要儀器，是工業(yè)部門鑒定產(chǎn)品質(zhì)量的關(guān)鍵設(shè)備，專門用于觀察金屬和礦物等不透明物體金相組織的顯微鏡。性能優(yōu)越的光學(xué)系統(tǒng)，實現(xiàn)了大視野高分辨率成像；消色差設(shè)計有效實現(xiàn)色差校正。mitutoyo顯微鏡答疑解惑體視顯微鏡的性能特點；

探針應(yīng)用的顯微鏡STM和AFM的原理其實就是利用探針與樣品間的距離進(jìn)行測繪得到的樣子，也可以說是根據(jù)樣品與探針間測量得到的距離，將圖像畫下來的樣子。當(dāng)然，具體原理還是有點不一樣的。為什么會有兩種“探針型”的顯微鏡，STM顯微鏡因為需要測定電流，因此必須要求所測樣品需要具有導(dǎo)電性，而AFM顯微鏡因為只需要測定相互作用力，因此不需要考慮測定電流，所以相比STM顯微鏡可以測定更多類型樣品。而AFM的缺點則是其分辨率比STM要低，主要原因也是測量時候的原理及目前技術(shù)上的問題。首先測定形變是利用激光，在形變后激光的方向會發(fā)生偏折，因此測定的其實是激光的信息從而繪制的圖像。

透射電子顯微鏡、掃描電子顯微鏡、掃描隧道顯微鏡和原子力顯微鏡是各個高科技領(lǐng)域經(jīng)常運(yùn)用的四種顯微鏡。英文名分別是Transmission Electron Microscope（TEM），Scanning Electron Mcroscope(SEM)、Scanning Tunneling Microscope（STM）和Atomic Force Microscope(AFM)。從名字中很容易知道四個顯微鏡的特點，其中TEM和SEM用的是電子來替代光，從而確定觀測樣品結(jié)構(gòu)，而STM和AFM其實用的都是探針。所以可以認(rèn)為亞顯微級顯微鏡（這個名字主要是區(qū)別開光學(xué)顯微鏡，用來說明其分辨率遠(yuǎn)高于用可見光觀測）可以分為兩大類，即電子顯微鏡類別和探針顯微鏡類別。體視顯微鏡和視頻顯微鏡。

掃描探針顯微鏡根據(jù)所利用的探針與樣品之間相互作用物理場的不同，被分為不同系列的顯微鏡。其中掃描隧道顯微鏡(STM)和原子力顯微鏡(AFM)是比較常用的兩類掃描探針顯微鏡。掃描隧道顯微鏡是通過檢測探針與被測樣品之間的隧道電流的大小來檢測樣品表面結(jié)構(gòu)。原子力顯微鏡是通過光電位移傳感器檢測針尖一樣品間的相互作用力(既有可能足吸引力，也有可能是排斥力)所引起的微懸臂形變來檢測樣品表面?？筛鶕?jù)不同需求來進(jìn)行定制，滿足不同應(yīng)用場合探針臺顯微鏡的選型；上海顯微鏡原理

共聚焦顯微鏡是由顯微鏡光學(xué)系統(tǒng)、激光光源、掃描器及檢測及處理系統(tǒng)4部分組成；70XL顯微鏡按需定制

透射電鏡的工作過程與光學(xué)顯微鏡類似。在光學(xué)顯微鏡中聚焦后的可見光射向樣品，穿過樣品的光經(jīng)過物鏡、目鏡等光學(xué)系統(tǒng)聚焦后被眼睛接收。在電子顯微鏡中，可見光由電子槍發(fā)射出來的電子束所代替,在陽極加速電壓的作用下，電子經(jīng)過2、3個電磁透鏡會聚為電子束，用來照明樣品薄片 (電子的穿透能力很弱，因此樣品必須很薄)，穿過樣品薄片的電子攜帶了樣品本身的結(jié)構(gòu)信息，經(jīng)物鏡、中間鏡和投影鏡所組成的成像系統(tǒng)的接力聚焦放大以圖像或衍射譜的形式顯示于熒光屏或感光材料上。70XL顯微鏡按需定制

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