M系列探針臺是我司一款基于高校教育與實(shí)驗(yàn)室而研發(fā)的基礎(chǔ)型晶圓測試探針臺。其結(jié)構(gòu)緊湊，設(shè)計精密，價格實(shí)惠，在高等院校教學(xué)和小型實(shí)驗(yàn)室科研過程中得到運(yùn)用。配合對應(yīng)的儀器儀表，可以用于測試各類器件的IV/CV,PIV,光電信號等。也可以放置于手套箱內(nèi)，配合特殊氣氛使用。一般適用于學(xué)校和工廠小型實(shí)驗(yàn)室。產(chǎn)品優(yōu)勢：探針臺與顯示器一體化設(shè)計，大大減小了設(shè)備的占地空間具備自適應(yīng)減震系統(tǒng)，一定程度上可防止外界震動的干擾U型平臺鍍鎳設(shè)計，不僅增大了針座的加載空間，還提高了針座平臺和針座之間的吸附力 了解探針臺的使用步驟。湖南FINFET探針臺

自動探針臺是一款適合6寸、8寸、12寸晶圓的量產(chǎn)型全自動晶圓探針臺，通過使探針卡與晶圓Pad點(diǎn)之間精細(xì)接觸，實(shí)現(xiàn)完成晶圓WAT/CP測試，該設(shè)備操作簡單并具有良好的機(jī)械穩(wěn)定性，能為客戶提供一個具有成本優(yōu)勢且高產(chǎn)量的晶圓測試解決方案，滿足晶圓廠、封測廠、測試廠等不同客戶的測試需求。經(jīng)過不斷的技術(shù)迭代更新，A系列全自動探針臺已擁有同步國外的先進(jìn)技術(shù)：低噪聲、快速移動、高產(chǎn)能、采用缺口和晶圓ID同步識別，減少了晶圓的加載時間；低重心設(shè)計，支持高針數(shù)探針卡，非標(biāo)探針臺探針臺的探針的清洗。

高低溫探針臺優(yōu)勢1.滿足各種溫度的需求：可以滿足非常高的溫度或非常低的溫度的需求，因?yàn)榫A在低溫大氣環(huán)境測試時，空氣中的水汽會凝結(jié)在晶圓上，會導(dǎo)致漏電過大而使測試失敗。避免這些需要把真空腔內(nèi)的水汽在測試前用泵抽走，并且保持整個測試過程泵的運(yùn)轉(zhuǎn)。當(dāng)晶圓加熱至300℃,400℃,500℃甚至更高溫度時，氧化現(xiàn)象會越來越明顯，并且溫度越高氧化越嚴(yán)重。過度氧化會導(dǎo)致晶圓電性誤差，物理和機(jī)械形變。避免這些需要把真空腔內(nèi)的氧氣在測試前用泵抽走，并且保持整個測試過程泵的運(yùn)轉(zhuǎn)。晶圓測試過程中溫度在低溫和高溫中變換，因?yàn)闊崦浝淇s現(xiàn)象，定位好的探針與器件間會有相對位移，這時需要針座的重新定位，我們針座位于腔體外部。我們也可以選擇使用操作桿控制的自動化針座來調(diào)整探針的位置。2、體積小，穩(wěn)定性高：與傳統(tǒng)探針臺相比，高低溫真空探針臺的穩(wěn)定性更高，采用先進(jìn)的技術(shù)工藝，讓探針臺在工作過程中流暢性更高，平穩(wěn)性更高，從而保證每次實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)的穩(wěn)定性，這樣實(shí)驗(yàn)得出的結(jié)果就會更加準(zhǔn)確。3、成本更低，可兼容直流跟射頻測試的運(yùn)用：與傳統(tǒng)探針臺相比，這種探針臺采用先進(jìn)的合成材料，成本方面比傳統(tǒng)探針臺更低，但是功能性都更加強(qiáng)大。

探針臺應(yīng)用手動探針臺廣泛應(yīng)用于，科研單位研發(fā)測試、院校教學(xué)操作、企業(yè)實(shí)驗(yàn)室芯片失效分析等領(lǐng)域。一般使用于研發(fā)測試階段 ，批量不是很大的情況，大批量的重復(fù)測試推薦使用探卡。主要功能：搭配外接測試測半導(dǎo)體參數(shù)測試儀、示波器、網(wǎng)分等測試源表，量測半導(dǎo)體器件IV CV脈沖/動態(tài)IV等參數(shù)。用途：以往如果需要測試電子元器件或系統(tǒng)的基本電性能（如電流、電壓、阻抗等）或工作狀態(tài)，測試人員一般會采用表筆去點(diǎn)測。隨著電子技術(shù)的不斷發(fā)展，對于精密微?。{米級）的微電子器件（如IC、晶圓、芯片、LCD Array、CMOS Camera Module、Pitch微小的Connector），表筆點(diǎn)到被測位置就顯得無能為力了。于是一種高精度探針座應(yīng)運(yùn)而生,利用高精度微探針將被測原件的內(nèi)部訊號引導(dǎo)出來，便于其電性測試設(shè)備（不屬于本機(jī)器）對此測試、分析。半導(dǎo)體測驗(yàn)設(shè)備首要包含測機(jī)、探針臺和分選機(jī)。

探針臺是半導(dǎo)體行業(yè)重要的檢測裝備之一，其廣泛應(yīng)用于復(fù)雜、高速器件的精密電氣測量，旨在確保質(zhì)量及可靠性，并縮減研發(fā)時間和器件制造工藝的成本。半導(dǎo)體測試可以按生產(chǎn)流程可以分為三類：驗(yàn)證測試、晶圓測試測試、封裝檢測。探針臺主要用于晶圓制造環(huán)節(jié)的晶圓檢測、芯片研發(fā)和故障分析等應(yīng)用。除探針臺外，晶圓檢測環(huán)節(jié)還需要使用測試儀/機(jī)，測試儀/機(jī)用于檢測芯片功能和性能，探針臺實(shí)現(xiàn)被測芯片與測試機(jī)的連接，通過探針臺和測試機(jī)的配合使用，可以對晶圓上的裸芯片進(jìn)行功能和電參數(shù)測試或射頻測試，可以對芯片的良品、不良品的進(jìn)行篩選。經(jīng)濟(jì)實(shí)惠高性價比的手動探針臺。探針臺廠家供應(yīng)

探針測試臺x-y工作臺。湖南FINFET探針臺

探針臺怎么選合適的配置，怎么確定精度？通常需要確定以下問題來確定探針臺的選型：8、是否會用到探針卡？9、光學(xué)顯微鏡的**小分辨率需要用到多少？10、顯微鏡方面，是否需要添加偏光片做LC液晶熱點(diǎn)偵測？11、接駁的測試儀器接口有哪些？12、測試環(huán)境時是否會需要加熱或者降溫？13、對chuck的漏電要求怎樣？是否需要添加低阻抗chuck？14、是否需要防震桌？15、若添置防震桌，是否有壓縮空氣？16、您的預(yù)算多少？項目計劃什么時候落實(shí)采購？湖南FINFET探針臺

上海波銘科學(xué)儀器有限公司主要經(jīng)營范圍是儀器儀表，擁有一支專業(yè)技術(shù)團(tuán)隊和良好的市場口碑。公司業(yè)務(wù)分為拉曼光譜儀，電動位移臺，激光器，光電探測器等，目前不斷進(jìn)行創(chuàng)新和服務(wù)改進(jìn)，為客戶提供良好的產(chǎn)品和服務(wù)。公司將不斷增強(qiáng)企業(yè)重點(diǎn)競爭力，努力學(xué)習(xí)行業(yè)知識，遵守行業(yè)規(guī)范，植根于儀器儀表行業(yè)的發(fā)展。波銘科儀立足于全國市場，依托強(qiáng)大的研發(fā)實(shí)力，融合前沿的技術(shù)理念，及時響應(yīng)客戶的需求。