顯微鏡聚光鏡

在照明系統(tǒng)中，聚光鏡的作用是比較大限度地把光線聚集起來，投射到顯微鏡的成像系統(tǒng)中?；诰酃忡R的功能，對聚光鏡像質(zhì)的要求為球差和色差，以和顯微鏡物鏡的像差相適應(yīng)。

顯微鏡色差

一般在設(shè)計時，只在可能條件下取得最小值即可，故聚光鏡的選料很重要。聚光鏡的材料宜選用低色散的光學(xué)玻璃（如K9玻璃)。由于位置色差在視場中疊加的結(jié)果是在其邊緣出現(xiàn)彩色現(xiàn)象，只要使照明的區(qū)域大于標(biāo)本的尺寸就能避免色差的影響。但是，對柯勒照明來說，要求聚光鏡把它的光闌成像在物面上，避免色差影響以消色差聚光鏡的方案替代了。消色差聚光鏡的結(jié)構(gòu)類似于高倍顯微鏡物鏡，只是焦距比較長，以使光束能夠通過較厚的載物玻璃（約2mm)照亮標(biāo)本。

球差存在將影響聚光鏡對光線的聚集能力，降低照明的效果。

共聚焦顯微鏡為什么能比熒光顯微鏡拍的效果更好呢？FS70L顯微鏡型號

顯微鏡常見故障的排除：

一、顯微鏡燈泡不亮1、檢查電源線是否有松動，插座是否正常。2、檢查保險絲是否燒斷（保險絲多在機身電源接口處），如燒斷了則更換保險絲。3、更換備用燈泡，注意在更換過程中不要手指直接接觸到燈泡。

二、顯微鏡無法對焦成像1、檢查調(diào)焦限位機構(gòu)是否沒調(diào)節(jié)好，導(dǎo)致工作距離不夠。2、檢查樣品是否放反。

三、低倍下成像清晰，高倍下成像較模糊1、高倍下對樣品厚度和平整度有更高要求，檢查樣品是否平整。2、蓋玻片位置是否放反，注意蓋玻片朝上。3、生物顯微鏡應(yīng)注意100X物鏡是否滴油，物鏡是否干凈。4、切換到高倍鏡時，聚光鏡上的孔徑光闌相應(yīng)調(diào)大。

湖南顯微鏡市場價體視顯微鏡的廣泛應(yīng)用；

激光共聚焦顯微鏡可以將水平分辨率提高40%以上，其優(yōu)勢可以達到120nm。激光共聚焦顯微鏡具有高度適應(yīng)性，并且是非接觸式檢測。為了改善場景的深度，必須在高度方向上進行掃描以獲得一系列切片，然后重疊以獲得三維圖像。激光共聚焦顯微鏡不需要樣品制備和電導(dǎo)率處理，并且樣品沒有損壞(可以檢測粉末，軟樣品和透明樣品)。激光共聚焦顯微鏡具有豐富的測量結(jié)果，高分辨率的2D和3D攝影。各種2D和3D顯示結(jié)果的比較，大面積圖像樣條曲線，非接觸粗糙度測量，膜厚度測量，熒光分析等。操作和維護都很簡單。激光共聚焦顯微鏡不需要昂貴的材料，模塊設(shè)計，用戶友好的操作軟件以及自動校正程序。

激光共聚焦顯微鏡的機械運動更少，特別是在光譜成像中，機械運動更穩(wěn)定，可確保更快，間歇和令人信服的結(jié)果。通過將多個檢測器集成在一起，可以可靠地重現(xiàn)用戶的測量結(jié)果。并行光譜檢測允許在波長模式下同時讀取更多信號。另外，還有一種特殊的采集方法，可以有效提高光譜分辨率。

激光共聚焦顯微鏡可以顯示清晰的細(xì)節(jié)和高對比度的圖像，而不管表面形態(tài)和結(jié)構(gòu)分析或表面輪廓如何。提高靈敏度和減少背景噪聲是激光共聚焦顯微鏡應(yīng)用的先決條件。激光共聚焦顯微鏡具有出色的靈敏度，良好的降噪技術(shù)和激發(fā)激光技術(shù)，可確保良好的輸出功率。 透射電子顯微鏡和掃描電子顯微鏡；

顯微鏡的觀察方式，你知道幾種？

偏光顯微鏡具有很高的靈敏度，可用于針對各種各向異性樣品的定性和定量研究。定性偏振光顯微鏡在實踐中非常流行，然而偏振光顯微鏡的定量方面，主要應(yīng)用于晶體學(xué)，礦物學(xué)、地質(zhì)學(xué)和化學(xué)領(lǐng)域。偏振光顯微鏡是通過在聚光鏡之前和物鏡之后插入交叉偏振元件實現(xiàn)的。細(xì)胞內(nèi)具有雙折射特性的組分會旋轉(zhuǎn)光的偏振平面，在深色背景上顯得明亮。

微分干涉（DIC）是七種觀察方式中比較復(fù)雜的一種。光路中不僅包括偏光組件，還要包括一組特制棱鏡，以放大樣品厚度梯度和折射率的微小差異。例如，由于細(xì)胞的水相和脂質(zhì)相之間的折射率差異，脂質(zhì)雙層可以在DIC中產(chǎn)生出色的對比度。

顯微鏡常見故障的排除；重慶顯微鏡性價比

探針臺顯微鏡選用的是長工作距離物鏡；FS70L顯微鏡型號

顯微鏡的觀察方法

明視場觀察：垂直照射測量物表面，適用于金屬、印刷電路板、淺孔的表面觀察。

暗視場觀察：通過對從工件發(fā)出的散射光進行觀察，可完成在明視場下觀察不到的劃痕、塵埃、凹凸，以及勝任低反射工件的觀察。

偏光觀察：觀察具有偏光特性的物質(zhì)，適用于半導(dǎo)體材料、液晶、結(jié)晶、金屬組織、礦物等表面觀察。

微分干涉（DIC）觀察：利用Nomarski棱鏡將光線分為兩束，形成明暗和對比度變化，可進行立體觀察。適用于觀察硅片的結(jié)晶缺陷、磁頭研磨面的損傷檢查、涂裝面、金屬組織、礦石表面等。 FS70L顯微鏡型號

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