顯微鏡聚光鏡

在照明系統(tǒng)中，聚光鏡的作用是比較大限度地把光線聚集起來，投射到顯微鏡的成像系統(tǒng)中?；诰酃忡R的功能，對聚光鏡像質(zhì)的要求為球差和色差，以和顯微鏡物鏡的像差相適應(yīng)。

顯微鏡色差

一般在設(shè)計(jì)時，只在可能條件下取得最小值即可，故聚光鏡的選料很重要。聚光鏡的材料宜選用低色散的光學(xué)玻璃（如K9玻璃)。由于位置色差在視場中疊加的結(jié)果是在其邊緣出現(xiàn)彩色現(xiàn)象，只要使照明的區(qū)域大于標(biāo)本的尺寸就能避免色差的影響。但是，對柯勒照明來說，要求聚光鏡把它的光闌成像在物面上，避免色差影響以消色差聚光鏡的方案替代了。消色差聚光鏡的結(jié)構(gòu)類似于高倍顯微鏡物鏡，只是焦距比較長，以使光束能夠通過較厚的載物玻璃（約2mm)照亮標(biāo)本。

球差存在將影響聚光鏡對光線的聚集能力，降低照明的效果。

共聚焦顯微鏡為什么能比熒光顯微鏡拍的效果更好呢？FS70L顯微鏡型號

顯微鏡常見故障的排除：

一、顯微鏡燈泡不亮1、檢查電源線是否有松動，插座是否正常。2、檢查保險(xiǎn)絲是否燒斷（保險(xiǎn)絲多在機(jī)身電源接口處），如燒斷了則更換保險(xiǎn)絲。3、更換備用燈泡，注意在更換過程中不要手指直接接觸到燈泡。

二、顯微鏡無法對焦成像1、檢查調(diào)焦限位機(jī)構(gòu)是否沒調(diào)節(jié)好，導(dǎo)致工作距離不夠。2、檢查樣品是否放反。

三、低倍下成像清晰，高倍下成像較模糊1、高倍下對樣品厚度和平整度有更高要求，檢查樣品是否平整。2、蓋玻片位置是否放反，注意蓋玻片朝上。3、生物顯微鏡應(yīng)注意100X物鏡是否滴油，物鏡是否干凈。4、切換到高倍鏡時，聚光鏡上的孔徑光闌相應(yīng)調(diào)大。

湖南顯微鏡市場價體視顯微鏡的廣泛應(yīng)用；

激光共聚焦顯微鏡可以將水平分辨率提高40%以上，其優(yōu)勢可以達(dá)到120nm。激光共聚焦顯微鏡具有高度適應(yīng)性，并且是非接觸式檢測。為了改善場景的深度，必須在高度方向上進(jìn)行掃描以獲得一系列切片，然后重疊以獲得三維圖像。激光共聚焦顯微鏡不需要樣品制備和電導(dǎo)率處理，并且樣品沒有損壞(可以檢測粉末，軟樣品和透明樣品)。激光共聚焦顯微鏡具有豐富的測量結(jié)果，高分辨率的2D和3D攝影。各種2D和3D顯示結(jié)果的比較，大面積圖像樣條曲線，非接觸粗糙度測量，膜厚度測量，熒光分析等。操作和維護(hù)都很簡單。激光共聚焦顯微鏡不需要昂貴的材料，模塊設(shè)計(jì)，用戶友好的操作軟件以及自動校正程序。

激光共聚焦顯微鏡的機(jī)械運(yùn)動更少，特別是在光譜成像中，機(jī)械運(yùn)動更穩(wěn)定，可確保更快，間歇和令人信服的結(jié)果。通過將多個檢測器集成在一起，可以可靠地重現(xiàn)用戶的測量結(jié)果。并行光譜檢測允許在波長模式下同時讀取更多信號。另外，還有一種特殊的采集方法，可以有效提高光譜分辨率。

激光共聚焦顯微鏡可以顯示清晰的細(xì)節(jié)和高對比度的圖像，而不管表面形態(tài)和結(jié)構(gòu)分析或表面輪廓如何。提高靈敏度和減少背景噪聲是激光共聚焦顯微鏡應(yīng)用的先決條件。激光共聚焦顯微鏡具有出色的靈敏度，良好的降噪技術(shù)和激發(fā)激光技術(shù)，可確保良好的輸出功率。 透射電子顯微鏡和掃描電子顯微鏡；

顯微鏡的觀察方式，你知道幾種？

偏光顯微鏡具有很高的靈敏度，可用于針對各種各向異性樣品的定性和定量研究。定性偏振光顯微鏡在實(shí)踐中非常流行，然而偏振光顯微鏡的定量方面，主要應(yīng)用于晶體學(xué)，礦物學(xué)、地質(zhì)學(xué)和化學(xué)領(lǐng)域。偏振光顯微鏡是通過在聚光鏡之前和物鏡之后插入交叉偏振元件實(shí)現(xiàn)的。細(xì)胞內(nèi)具有雙折射特性的組分會旋轉(zhuǎn)光的偏振平面，在深色背景上顯得明亮。

微分干涉（DIC）是七種觀察方式中比較復(fù)雜的一種。光路中不僅包括偏光組件，還要包括一組特制棱鏡，以放大樣品厚度梯度和折射率的微小差異。例如，由于細(xì)胞的水相和脂質(zhì)相之間的折射率差異，脂質(zhì)雙層可以在DIC中產(chǎn)生出色的對比度。

顯微鏡常見故障的排除；重慶顯微鏡性價比

探針臺顯微鏡選用的是長工作距離物鏡；FS70L顯微鏡型號

顯微鏡的觀察方法

明視場觀察：垂直照射測量物表面，適用于金屬、印刷電路板、淺孔的表面觀察。

暗視場觀察：通過對從工件發(fā)出的散射光進(jìn)行觀察，可完成在明視場下觀察不到的劃痕、塵埃、凹凸，以及勝任低反射工件的觀察。

偏光觀察：觀察具有偏光特性的物質(zhì)，適用于半導(dǎo)體材料、液晶、結(jié)晶、金屬組織、礦物等表面觀察。

微分干涉（DIC）觀察：利用Nomarski棱鏡將光線分為兩束，形成明暗和對比度變化，可進(jìn)行立體觀察。適用于觀察硅片的結(jié)晶缺陷、磁頭研磨面的損傷檢查、涂裝面、金屬組織、礦石表面等。 FS70L顯微鏡型號

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