共聚焦顯微鏡是由顯微鏡光學系統(tǒng)、激光光源、掃描器及檢測及處理系統(tǒng)4部分組成，采用相干性較好的激光作為光源，在傳統(tǒng)光學顯微鏡基礎上采用共軛聚焦原理和裝置，并利用計算機對圖象進行處理的一套觀察、分析和輸出系統(tǒng)。激光掃描束通過光柵針（zhen）孔形成點光源，經(jīng)過分光鏡反射至物鏡，聚焦在在標本上并進行掃描。樣品受到激發(fā)后，發(fā)出的熒光回到分光鏡聚集到探測針（zhen）孔，之后經(jīng)過光電倍增管轉(zhuǎn)化為電信號傳輸?shù)接嬎銠C上顯示為清晰的焦平面圖像。激發(fā)光通過光柵針（zhen）孔聚焦在樣品上，熒光通過物鏡聚焦在針（zhen）孔上，此過程中形成兩次聚焦，故被稱為共聚焦顯微鏡。

主要應用于：生物學領域、高分子化學領域、表面粗糙度領域。 顯微鏡常見故障的排除；安徽顯微鏡型號

激光共聚焦顯微鏡不僅可以改善有效信號，而且可以降低噪聲信號并獲得高質(zhì)量的熒光圖像?；诠步乖淼男y量精度對正確讀取反射光的峰值的能力有很大影響。共焦光學系統(tǒng)有許多結(jié)構(gòu)方法。在幾種形狀測量激光顯微鏡系統(tǒng)中使用的“針（zhen）孔共聚焦模式”。針（zhen）孔共聚焦法在光接收元件之前設計一個針（zhen）孔。針（zhen）孔的直徑只有幾十微米，當反射光失去聚焦時，其作用是阻擋反射光。通常，光學系統(tǒng)和激光共焦光學系統(tǒng)的反射光進入光接收元件。在“非聚合”的情況下，光學系統(tǒng)的反射光(聚焦模糊光)通常進入光接收元件。并且激光共聚焦光學系統(tǒng)的反射光(聚焦模糊光)通過針（zhen）孔被切斷。也就是說，只有在聚焦之后，反射光才能進入光接收元件，這是形成共焦光學系統(tǒng)的基礎。體式顯微鏡升級光電流測試顯微鏡系統(tǒng)；

共聚焦顯微鏡為什么能比熒光顯微鏡拍的效果更好呢？因為共聚焦顯微鏡與熒光顯微鏡相比升級了激光光源、光電倍增管檢測器(PMT)或超靈敏度檢測器(HyD)，同時在檢測器前有針（）孔，在硬件上實現(xiàn)了物鏡觀察到的樣品焦點--針（zhen）孔--檢測器三點共軛避免了非焦平面雜散光的干擾，拍攝時還能再做光學放大（ZOOM）、平均降噪(Line average)、平均疊加（Frame Accu）等設置，所以能得到比熒光顯微鏡更為高清的圖片，看看共聚焦顯微鏡的光路對比示意圖。

顯微鏡透射照明的方式有兩種：(1)臨界照明這種照明要求聚光鏡所成的光源像與被觀察物體的物平面重合，如圖1所示，相當于物面上放置一個光源，燈絲的形狀同時出現(xiàn)在像面上，而造成不理想的觀察效果。臨界照明透射照明中，為使物鏡的孔徑角得以充分利用，聚光鏡應有與物鏡相同或稍大的數(shù)值孔徑。臨界照明聚光鏡的孔徑光闌常設在聚光鏡的物方焦平面上，如果顯微鏡用的是遠心物鏡，聚光鏡的出射光瞳與物鏡的入射光瞳重合。聚光鏡的光闌做成可變光闌，可任意改變射入聚光鏡的孔徑角，使之與物鏡的數(shù)值孔徑匹配。由于臨界照明聚光鏡的出射光瞳和像方視場分別與物鏡的入射光瞳和物方視場重合，所以形成“瞳對瞳，視場對視場”的光管。臨界照明的缺點在于當光源亮度不均勻或者呈現(xiàn)明顯的燈絲結(jié)構(gòu)時,將會反映在物面上，使物面照度不均勻，從而影響觀察效果。為了達到比較均勻的照明，這種照明方式對發(fā)光體本身的均勻性要求較高，同時要求被照明物體表面和光源像之間有足夠的離焦量。后續(xù)物鏡的孔徑角應該取大一些，如果物鏡的孔徑角過小，焦深會很大，容易反映出發(fā)光體本身的不均勻性。 掃描探針顯微鏡的特點。

光電流測試顯微鏡-探針臺系統(tǒng)：本顯微鏡是在金相顯微鏡基礎上導入另一路光源，用于輻照樣品以測試樣品在特定波長及能量下的電氣特性等測試目的。本顯微鏡設計為雙光路或3光路，其中一路為導入光通路，另一到兩路為成像光路導入光為平行的激光或其它線性光源，波長范圍200nm~20000nm，中間可加入多個波片過濾，起偏及偏振角度無級360度調(diào)節(jié)。光斑輻照直徑有650nm紅光指示。所有模塊均可拉出設計，對導入光性質(zhì)無影響。導入光光路可選擇一個光時間開關(guān)，精確控制導入光的輻照時間，精度1ms，范圍2ms~∞，在控制界面上可對各種參數(shù)進行詳細設置。成像光路為同軸照明金相成像，其中一路為1倍成像，可選擇第2路成像，為物鏡的0.25~10倍率，通常在高低溫測試系統(tǒng)里會用到，同一個物鏡不切換，得到兩個不同視野的成像。 掃描隧道顯微鏡(STM)和原子力顯微鏡(AFM)是比較常用的兩類掃描探針顯微鏡。多倍率顯微鏡銷售廠家

視頻顯微鏡和金像顯微鏡。安徽顯微鏡型號

掃描透射電子顯微鏡兼具掃描成像與透射分析的特點，其儀器結(jié)構(gòu)可看作SEM與TEM的結(jié)合。STEM主要由電子槍、電子光學系統(tǒng)、樣品室、環(huán)形探測器與成像設備等組成。STEM與TEM的主要區(qū)別在于添加了掃描附件；與SEM的不同在于電子信號探測器安置在樣品下方。

優(yōu)缺點：

優(yōu)點：（1）成像質(zhì)量高，受樣品厚度與儀器干涉?。?）可達到原子分辨率（3）結(jié)果分析簡單、直觀（4）能夠快速獲取樣品的綜合信息，成像效率高。

缺點：（1）制樣時間長，對樣品的要求高；（2）一些材料在高能電子束中不穩(wěn)定；（3）測試成本高，儀器分布稀少。 安徽顯微鏡型號

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