探針測(cè)試臺(tái)x-y工作臺(tái)滾珠絲杠副和導(dǎo)軌結(jié)構(gòu)x-y工作臺(tái)的維護(hù)與保養(yǎng)相對(duì)于平面電機(jī)工作臺(tái)，絲杠導(dǎo)軌結(jié)構(gòu)的工作臺(tái)結(jié)構(gòu)組成較復(fù)雜，工作臺(tái)由上層（x向）及下層（y向）兩部分組成。工作臺(tái)由兩個(gè)步進(jìn)電機(jī)分別驅(qū)動(dòng)x、y向精密滾珠絲杠副帶動(dòng)工作臺(tái)運(yùn)動(dòng)，導(dǎo)向部分采用精密直線滾動(dòng)導(dǎo)軌。由于運(yùn)動(dòng)部分全部采用滾動(dòng)功能部件，所以具有傳動(dòng)效率高、摩擦力矩小，使用壽命長(zhǎng)等特點(diǎn)。這種結(jié)構(gòu)的工作臺(tái)應(yīng)放置在溫度23±3 ℃，濕度≤70%，無(wú)有害氣體的環(huán)境中，滾珠絲杠、直線導(dǎo)軌應(yīng)定期加精密儀表油，但不可過(guò)多，值得指出的是，這種結(jié)構(gòu)的工作臺(tái)在裝配過(guò)程中，從直線導(dǎo)軌的直線性，上下層工作臺(tái)之間的垂直度以及工作臺(tái)的重復(fù)性，定位精度等都是用專(zhuān)業(yè)的儀器儀表調(diào)整，用戶一般情況不能輕易改變，一旦盲目調(diào)整后很難恢復(fù)到原來(lái)的狀態(tài)，所以對(duì)需要調(diào)整的工作臺(tái)應(yīng)有專(zhuān)業(yè)生產(chǎn)廠家或經(jīng)過(guò)培訓(xùn)的專(zhuān)業(yè)人員完成。半導(dǎo)體測(cè)驗(yàn)設(shè)備首要包含測(cè)機(jī)、探針臺(tái)和分選機(jī)。山東探針臺(tái)加裝

很多人都不了解探針臺(tái)，因?yàn)楹苌俳佑|到。但是，它在的作用是非常大的，它的使用步驟我們還是需要了解的。下面，小編就帶大家了解一下它的使用步驟。希望能對(duì)大家有所幫助。1、將樣品載入真空卡盤(pán)，開(kāi)啟真空閥門(mén)控制開(kāi)關(guān)，使樣品平安且牢固地吸附在卡盤(pán)上。2、運(yùn)用卡盤(pán)X軸、Y軸控制旋鈕挪動(dòng)卡盤(pán)平臺(tái)，在顯微鏡低倍物鏡聚焦下看清楚樣品。3、顯微鏡切換為高倍率物鏡，在大倍率下找到待測(cè)點(diǎn)，再微調(diào)顯微鏡聚焦和樣品x-y，將影像調(diào)整明晰,帶測(cè)點(diǎn)在顯微鏡視場(chǎng)中間。4、待測(cè)點(diǎn)地位確認(rèn)好后,再調(diào)整探針座的地位,將探針臺(tái)探針裝上后可眼觀先將探針移到接近待測(cè)點(diǎn)的地位旁邊,再運(yùn)用探針座X-Y-Z三個(gè)微調(diào)旋鈕,漸漸的將探針移至被測(cè)點(diǎn),此時(shí)舉措要小心且遲緩，以防舉措過(guò)大誤傷芯片，當(dāng)探針針尖懸空于被測(cè)點(diǎn)上空時(shí)，可先用Y軸旋鈕將探針行進(jìn)少許，再運(yùn)用Z軸旋鈕停止下針，剛開(kāi)始則運(yùn)用X軸旋鈕左右滑動(dòng)，察看能否有少許劃痕，證明能否曾經(jīng)接觸。5、確保針尖和被測(cè)點(diǎn)接觸良好后，則可以經(jīng)過(guò)銜接的測(cè)試設(shè)備開(kāi)端測(cè)試。山東探針臺(tái)加裝給大家普及一下探針臺(tái)是干什么用的。

探針臺(tái)是半導(dǎo)體行業(yè)重要的檢測(cè)裝備之一，其廣泛應(yīng)用于復(fù)雜、高速器件的精密電氣測(cè)量，旨在確保質(zhì)量及可靠性，并縮減研發(fā)時(shí)間和器件制造工藝的成本。半導(dǎo)體測(cè)試可以按生產(chǎn)流程可以分為三類(lèi)：驗(yàn)證測(cè)試、晶圓測(cè)試測(cè)試、封裝檢測(cè)。探針臺(tái)主要用于晶圓制造環(huán)節(jié)的晶圓檢測(cè)、芯片研發(fā)和故障分析等應(yīng)用。除探針臺(tái)外，晶圓檢測(cè)環(huán)節(jié)還需要使用測(cè)試儀/機(jī)，測(cè)試儀/機(jī)用于檢測(cè)芯片功能和性能，探針臺(tái)實(shí)現(xiàn)被測(cè)芯片與測(cè)試機(jī)的連接，通過(guò)探針臺(tái)和測(cè)試機(jī)的配合使用，可以對(duì)晶圓上的裸芯片進(jìn)行功能和電參數(shù)測(cè)試或射頻測(cè)試，可以對(duì)芯片的良品、不良品的進(jìn)行篩選。

可提供單維磁場(chǎng)，多維磁場(chǎng)探針臺(tái)，磁場(chǎng)強(qiáng)度，精度和間隙均可客制化l高剛性結(jié)構(gòu)，所有零配件均采用無(wú)磁化材料可加載高低溫，可同時(shí)進(jìn)行DC和RF測(cè)試，可配合市場(chǎng)主流擴(kuò)頻模塊進(jìn)行超高頻測(cè)試；大行程高精度探針座，X-Y-Z-Theta四軸控制l顯微鏡可以在2英寸*2英寸*2英寸范圍內(nèi)移動(dòng)，擴(kuò)大了顯微鏡視場(chǎng)；兼容直流與高頻信號(hào)；可以定制，可升級(jí)性強(qiáng)l比較大可以測(cè)試12英寸樣品，探針臺(tái)chuck具備升降功能，便于樣品和探針的快速分離。可配合等離子發(fā)生器使用，可以給樣品提供超高溫和等離子氣體。探針臺(tái)廣泛應(yīng)用于產(chǎn)品開(kāi)發(fā)和故障失效分析。

M系列探針臺(tái)是我司一款基于高校教育與實(shí)驗(yàn)室而研發(fā)的基礎(chǔ)型晶圓測(cè)試探針臺(tái)。其結(jié)構(gòu)緊湊，設(shè)計(jì)精密，價(jià)格實(shí)惠，在高等院校教學(xué)和小型實(shí)驗(yàn)室科研過(guò)程中得到運(yùn)用。配合對(duì)應(yīng)的儀器儀表，可以用于測(cè)試各類(lèi)器件的IV/CV,PIV,光電信號(hào)等。也可以放置于手套箱內(nèi)，配合特殊氣氛使用。一般適用于學(xué)校和工廠小型實(shí)驗(yàn)室。產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)：探針臺(tái)與顯示器一體化設(shè)計(jì)，大大減小了設(shè)備的占地空間具備自適應(yīng)減震系統(tǒng)，一定程度上可防止外界震動(dòng)的干擾U型平臺(tái)鍍鎳設(shè)計(jì)，不僅增大了針座的加載空間，還提高了針座平臺(tái)和針座之間的吸附力 探針臺(tái)的維護(hù)和保養(yǎng)。山東探針臺(tái)加裝

如何維護(hù)和保養(yǎng)高溫探針臺(tái)呢？山東探針臺(tái)加裝

探針臺(tái)的各種應(yīng)用，例如器件表征和建模，RF /微波，晶片級(jí)可靠性，故障分析，設(shè)計(jì)驗(yàn)證，和大功率。滿足先進(jìn)半導(dǎo)體測(cè)試市場(chǎng)的要求，主要用于解決故障分析，設(shè)計(jì)驗(yàn)證，IC工程，晶圓級(jí)可靠性以及MEMS，高功率，RF和mmW器件測(cè)試的特殊要求。系統(tǒng)噪聲，非常精確和高度可靠的DC / CV,RF和高功率測(cè)量。用于在寬溫度范圍內(nèi)實(shí)現(xiàn)功率半導(dǎo)體的低接觸電阻測(cè)量。帶互鎖功能的安全光幕可通過(guò)互鎖系統(tǒng)關(guān)閉儀器，從而保護(hù)用戶免受意外高壓沖擊。該系統(tǒng)具有后門(mén)，并由互鎖保護(hù)，以提供簡(jiǎn)便的初始測(cè)量設(shè)置。山東探針臺(tái)加裝

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