手動(dòng)探針臺(tái)基本配置（包含探針臺(tái)主體、顯微鏡、針座、探針等），探針臺(tái)主體-可測(cè)試晶圓尺寸：4英寸weili-樣品臺(tái)行程：100mm*100mm-移動(dòng)分辨率：~：360度-低漏電底柵接口，標(biāo)準(zhǔn)Triax輸出-可選400度高溫樣品臺(tái)顯微鏡-三目連續(xù)變倍體鏡，LED環(huán)形照明-光學(xué)變倍總倍率45倍，物鏡，總放大倍率約700倍針座-磁性吸附底座，XYZ移動(dòng)范圍：12mm-移動(dòng)分辨率2um-標(biāo)配4個(gè)，可裝6個(gè)-漏電設(shè)計(jì)，漏電流探針低于100fA-Triax標(biāo)準(zhǔn)接口輸出，Keithley原裝低噪聲Triax線纜-低漏設(shè)計(jì)電探針，針尖探針探針直徑標(biāo)配10um，1um尺寸。 低溫探針臺(tái)集成系統(tǒng)。mini led探針臺(tái)供應(yīng)

桌面探針系統(tǒng)之射頻探針：把傳統(tǒng)探針臺(tái)的體積大、待測(cè)物規(guī)格限制等一系列缺點(diǎn)改進(jìn)。我們把探針臺(tái)的兩個(gè)探針臂直接分離出來，使用磁吸開關(guān)固定在配重塊上，裝配我們自行研發(fā)GS/SG/GSG/GSSG和差分間距可調(diào)射頻探針，高頻率40GHz和67GHz（質(zhì)量的阻抗控制50歐±2/100歐±2，探針的pitch可覆蓋150um~1250um的范圍）放在水平的桌面上進(jìn)行使用、測(cè)試。可在桌面上任意活動(dòng)，根據(jù)具體測(cè)試環(huán)境調(diào)節(jié)。各規(guī)格探針配合67GHz網(wǎng)絡(luò)分析儀進(jìn)行高頻高速的測(cè)試。光電流測(cè)試探針臺(tái)推薦廠家各鐘規(guī)格國(guó)產(chǎn)射頻探針。

    探針臺(tái)怎么選合適的配置，怎么確定精度？通常需要確定以下問題來確定探針臺(tái)的選型：1、比較大需要測(cè)幾英寸的晶圓或者器件？2、探針臺(tái)機(jī)械精度要求多高？3、點(diǎn)測(cè)樣品的尺寸規(guī)格為多少？100um*100um或60um*60um的pad，還是FIB制作的minipad，還是ic內(nèi)部的metal？4、Pad尺寸大于20um就都可以使用體式顯微鏡（體式顯微鏡比較大倍率200倍）5、需要幾根探針同時(shí)去點(diǎn)測(cè)？6、會(huì)測(cè)試到的比較大的電流、電壓值是多少（電壓越高探針的針尖就要越粗、對(duì)夾具的要求也會(huì)越高。5A以下推薦使用同軸夾具、5A以上推薦使用三軸夾具）7、漏電精度需要達(dá)到多高？是否有射頻的需求？三軸管狀?yuàn)A具：100FA，同軸彈簧夾具：10PA（漏電精度：要求能測(cè)到的電流的量級(jí)）。

桌面探針系統(tǒng)

眾所周知探針臺(tái)用于半導(dǎo)體測(cè)試，特別是6英寸或者12英寸的晶圓探針臺(tái)。因?yàn)槭艹叽缦拗?，?dǎo)致大尺寸等規(guī)格不符的待測(cè)物無(wú)法進(jìn)行測(cè)試，從而使得眾多產(chǎn)品無(wú)法得到驗(yàn)證。

對(duì)于除了半導(dǎo)體、晶圓、芯片需要測(cè)試以外，如同大尺寸電路板、高頻高速電路、射頻微波器件、高速連接器等所需測(cè)試的產(chǎn)品也是需要進(jìn)行阻抗、S參數(shù)的測(cè)試。特別是現(xiàn)在高頻高速已經(jīng)進(jìn)入了56G、112G，單波NRZ通道已經(jīng)到了56GHz的電信號(hào)的時(shí)代。所以高頻、高速等系列電路板各個(gè)通道以及載體都需要進(jìn)行產(chǎn)品的性能測(cè)試。

因此研發(fā)推出了桌面探針系統(tǒng)及各規(guī)格探針配合67GHz網(wǎng)絡(luò)分析儀進(jìn)行高頻高速的測(cè)試。 探針臺(tái)怎么選合適的配置？

提到探針臺(tái)，大家應(yīng)該會(huì)一頭霧水，不知道探針臺(tái)是干什么用的，下面就讓小編來給大家普及一下探針臺(tái)是干什么用的，供大家了解，希望能對(duì)大家有所幫助。探針臺(tái)可以將電探針、光學(xué)探針或射頻探針放置在硅晶片上，從而可以與測(cè)試儀器、半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)配合來測(cè)試芯片、半導(dǎo)體器件。這些測(cè)試可以很簡(jiǎn)單，例如連續(xù)性或隔離檢查。也可以很復(fù)雜，包括微電路的完整功能測(cè)試?？梢栽趯⒕A鋸成單個(gè)管芯之前或之后進(jìn)行測(cè)試。在晶圓級(jí)別的測(cè)試允許制造商在生產(chǎn)過程中多次測(cè)試芯片器件，這可以提供有關(guān)哪些工藝步驟將缺陷引入產(chǎn)品的信息。它還使制造商能夠在封裝之前測(cè)試管芯，這在封裝成本相對(duì)于器件成本高的應(yīng)用中很重要。探針臺(tái)還可以用于研發(fā)、產(chǎn)品開發(fā)和故障分析應(yīng)用。探針臺(tái)可以固定晶圓或芯片，并準(zhǔn)確定位待測(cè)物。手動(dòng)探針臺(tái)的使用者將探針臂和探針安裝到操縱器中，并使用顯微鏡將探針頂端放置到待測(cè)物上的正確位置。一旦所有探針頂端都被設(shè)置在正確的位置，就可以對(duì)待測(cè)物進(jìn)行測(cè)試。探針臺(tái)行業(yè)品牌排行榜！武漢探針臺(tái)商家

OTS，QPU和TTG相關(guān)技術(shù)，這種全新的高精度系統(tǒng)為下一代小型化的設(shè)計(jì)及多種測(cè)試條件提供保證。mini led探針臺(tái)供應(yīng)

探針臺(tái)可以將電探針、光學(xué)探針或射頻探針放置在硅晶片上，從而可以與測(cè)試儀器/半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)配合來測(cè)試芯片/半導(dǎo)體器件。這些測(cè)試可以很簡(jiǎn)單，例如連續(xù)性或隔離檢查，也可以很復(fù)雜，包括微電路的完整功能測(cè)試?？梢栽趯⒕A鋸成單個(gè)管芯之前或之后進(jìn)行測(cè)試。在晶圓級(jí)別的測(cè)試允許制造商在生產(chǎn)過程中多次測(cè)試芯片器件，這可以提供有關(guān)哪些工藝步驟將缺陷引入產(chǎn)品的信息。它還使制造商能夠在封裝之前測(cè)試管芯，這在封裝成本相對(duì)于器件成本高的應(yīng)用中很重要。探針臺(tái)還可以用于研發(fā)、產(chǎn)品開發(fā)和故障分析應(yīng)用。mini led探針臺(tái)供應(yīng)

上海波銘科學(xué)儀器有限公司是我國(guó)拉曼光譜儀，電動(dòng)位移臺(tái)，激光器，光電探測(cè)器專業(yè)化較早的有限責(zé)任公司（自然）之一，公司位于望園南路1288弄80號(hào)1904、1909室，成立于2013-06-03，迄今已經(jīng)成長(zhǎng)為儀器儀表行業(yè)內(nèi)同類型企業(yè)的佼佼者。波銘科儀致力于構(gòu)建儀器儀表自主創(chuàng)新的競(jìng)爭(zhēng)力，多年來，已經(jīng)為我國(guó)儀器儀表行業(yè)生產(chǎn)、經(jīng)濟(jì)等的發(fā)展做出了重要貢獻(xiàn)。