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上海MOS管探針臺

來源: 發(fā)布時間:2023-03-26

手動探針臺的維護和保養(yǎng)1.避免碰撞:在安裝,操作CS探針臺時應(yīng)避免碰撞,機體放置需平坦,不可傾斜或橫倒,避免機器發(fā)生故障或異常異音。2.儀器的運輸:儀器運輸時,請先拔掉電源線插頭。儀器運輸應(yīng)使用專門的包裝箱,避免碰到探針臺的任何運動部件。3.儀器的存放使用完后需要注意保持清潔,盡量把灰塵吹干盡,以免灰塵將機械精密部件,光學部件,電學接觸面污染,導致儀器精度降低。探針臺機體清潔時,避免直接潑水清理,以無塵布輕輕擦拭并吹干即可。不可用硬物接觸機器,以免發(fā)生故障或危險。探針臺光學部件清潔時,可用鏡頭紙蘸無水酒精從中間向外輕輕的擦拭。無水酒精時易燃物,注意使用安全。停電或長期不用、外出旅行時,請將電源線插頭拔掉以維護機器壽命。操作人員必須嚴格按要求操作,以保證數(shù)據(jù)的準確和儀器的正常使用。4.工作環(huán)境探針臺應(yīng)放在穩(wěn)定可靠的臺面上,比較好是具有防震裝置的工作臺上,避免在高溫,潮濕激烈震動,陽光直接照射和灰塵較多的環(huán)境下使用。使用比較好溫度范圍為5℃~40℃,比較好濕度是40%到85%,空氣中之濕度若低于30%以下,可靠濕度控制器予以控制,使維持50%~60%之范圍。使用時門窗盡可能關(guān)閉高低溫真空探針測試系統(tǒng)。上海MOS管探針臺

    RF/mmW超高頻測試探針臺系統(tǒng)可配合市場主流擴頻模塊進行超高頻測試l大行程高精度探針座,X-Y-Z-Theta四軸控制l顯微鏡可以在2英寸*2英寸*2英寸范圍內(nèi)移動,擴大了顯微鏡視場l兼容直流與高頻信號l可以定制,可升級性強lFA(失效分析)**激光探針臺系統(tǒng)失效分析實驗室**(芯片去層/線路或Pad切割與熔接電性能測試驗證)l激光鐳射波長1064/532/355nm可選擇性去除特定材料、而不損傷下層或基底l材料/器件(尤其是射頻特征芯片)的IV/PIV/CV電性測試和失效分析。l**小切割線寬:355nm1um;,行程25mm,升降精度1uml卡盤,采用中心吸附孔和多圈吸附環(huán)固定樣品l可調(diào)節(jié)顯微鏡快速傾仰,便于更換物鏡,帶自動鎖定功能。l高功率白色照明光源(亮度可以無級調(diào)節(jié))。 GaAs探針臺商家探針臺主要用于晶圓制造環(huán)節(jié)的晶圓檢測、芯片研發(fā)和故障分析等應(yīng)用。

雙面點針探針臺可用于晶圓和PCB板測試,用于需要正面和背面同時扎針,以實現(xiàn)各種光/電性能測試需求。該定制探針臺具有優(yōu)良的機械系統(tǒng),穩(wěn)定的結(jié)構(gòu),符合人體工程學,以及多項升級功能??蓮V泛應(yīng)用于集成電路、Wafer,LED、LCD、太陽能電。產(chǎn)品優(yōu)勢:可同時完成DC和RF測試大手柄雙驅(qū)動,省時,省力,省心雙光路系統(tǒng),上光路可升級加載光電流系統(tǒng)。芯片內(nèi)部線路/pad/電級的IV/CV測試l材料/器件的IV/CV性能測試及FAl芯片/面板內(nèi)部線路修改/去層(介質(zhì)絕緣層/鈍化層l可對金屬線路層激光斷線或開路進行熔接l激光可選擇性去除特定材料而不損傷下層或基底l激光**小加工精度1*1μml芯片研發(fā)流片驗證+失效分析**l激光打標LaserMarklLasercut、Laserweld、Laserrepaill超快短脈沖激光精細微加工修復系統(tǒng)

桌面探針系統(tǒng)之射頻探針:把傳統(tǒng)探針臺的體積大、待測物規(guī)格限制等一系列缺點改進。我們把探針臺的兩個探針臂直接分離出來,使用磁吸開關(guān)固定在配重塊上,裝配我們自行研發(fā)GS/SG/GSG/GSSG和差分間距可調(diào)射頻探針,高頻率40GHz和67GHz(質(zhì)量的阻抗控制50歐±2/100歐±2,探針的pitch可覆蓋150um~1250um的范圍)放在水平的桌面上進行使用、測試??稍谧烂嫔先我饣顒?,根據(jù)具體測試環(huán)境調(diào)節(jié)。各規(guī)格探針配合67GHz網(wǎng)絡(luò)分析儀進行高頻高速的測試。探針臺的維護和保養(yǎng)。

探針臺是一種輔助執(zhí)行機構(gòu),測試人員把需要量測的器件放到探針臺載物臺(chuck)上,在顯微鏡配合下,X-Y移動器件,找到需要探測的位置。接下來測試人員通過旋轉(zhuǎn)探針座上的X-Y-Z的三向旋鈕,控制前部探針(射頻或直流探針),精細扎到被測點,從而使其訊號線與外部測試機導通,通過測試機測試人員可以得到所需要的電性能參數(shù)。探針臺工作環(huán)境,探針臺應(yīng)放在堅固穩(wěn)定的臺面上,如地基有震動的情況,需要配置主動防震裝置,避免在高溫、潮濕、激烈震動、陽光直接照射和灰塵較多的環(huán)境下使用。使用比較好溫度范圍為5℃~40℃,比較好濕度是40%到85%,空氣中之濕度若低于30%以下,可靠濕度控制器予以控制,使維持50%~60%之范圍。使用時門窗盡可能關(guān)閉,使室內(nèi)達到除濕效果    。使用電源:220V,50Hz探針臺搭配源表或者半導體參數(shù)分析儀進行電參數(shù)測試。安徽FINFET探針臺

光電流測試探針臺系統(tǒng)。上海MOS管探針臺

手動探針臺的使用方式:1.將樣品載入真空卡盤,開啟真空閥門控制開關(guān),使樣品安全且牢固地吸附在卡盤上。2.使用卡盤X軸/Y軸控制旋鈕移動卡盤平臺,在顯微鏡低倍物鏡聚焦下看清楚樣品。3.使用卡盤X軸/Y軸控制旋鈕移動卡盤平臺將樣品待測試點移動至顯微鏡下。4.顯微鏡切換為高倍率物鏡,在大倍率下找到待測點,再微調(diào)顯微鏡聚焦和樣品x-y,將影像調(diào)節(jié)清晰,帶測點在顯微鏡視場中心。5.待測點位置確認好后,再調(diào)節(jié)探針座的位置,將探針裝上后可眼觀先將探針移到接近待測點的位置旁邊,再使用探針座X-Y-Z三個微調(diào)旋鈕,慢慢的將探針移至被測點,此時動作要小心且緩慢,以防動作過大誤傷芯片,當探針針尖懸空于被測點上空時,可先用Y軸旋鈕將探針退后少許,再使用Z軸旋鈕進行下針,***則使用X軸旋鈕左右滑動,觀察是否有少許劃痕,證明是否已經(jīng)接觸。6.確保針尖和被測點接觸良好后,則可以通過連接的測試設(shè)備開始測試。上海MOS管探針臺

上海波銘科學儀器有限公司是一家貿(mào)易型類企業(yè),積極探索行業(yè)發(fā)展,努力實現(xiàn)產(chǎn)品創(chuàng)新。公司是一家有限責任公司(自然)企業(yè),以誠信務(wù)實的創(chuàng)業(yè)精神、專業(yè)的管理團隊、踏實的職工隊伍,努力為廣大用戶提供***的產(chǎn)品。公司始終堅持客戶需求優(yōu)先的原則,致力于提供高質(zhì)量的拉曼光譜儀,電動位移臺,激光器,光電探測器。波銘科儀順應(yīng)時代發(fā)展和市場需求,通過**技術(shù),力圖保證高規(guī)格高質(zhì)量的拉曼光譜儀,電動位移臺,激光器,光電探測器。