熒光壽命成像技術(shù)能夠?qū)崟r(shí)監(jiān)控納米顆粒在細(xì)胞內(nèi)的穩(wěn)定性。FLIM不但具有其它熒光顯微鏡所具有的高靈敏度、可檢測(cè)生物生物樣品等優(yōu)點(diǎn)，它在監(jiān)控?zé)晒饧{米材料的穩(wěn)定性上還具有以下幾個(gè)優(yōu)勢(shì)：（1）熒光壽命不受熒光探針的濃度的影響，可排除納米材料的胞吐及細(xì)胞分化導(dǎo)致的納米顆粒的稀釋等對(duì)測(cè)量的影響；（2）很多常見的發(fā)光材料的熒光壽命都遠(yuǎn)遠(yuǎn)大于細(xì)胞的自熒光的壽命，很易去除生物自熒光對(duì)熒光成像的干擾；（3）發(fā)光材料的熒光壽命和其材料的穩(wěn)定性密切相關(guān)，熒光壽命的改變可以靈敏地反映相應(yīng)材料的化學(xué)穩(wěn)定性。基于上述原理，他們利用FLIM技術(shù)系統(tǒng)考察了半導(dǎo)體量子點(diǎn)和金納米簇在活的細(xì)胞（HeLa）里72小時(shí)內(nèi)的穩(wěn)定性，以及不同的表面配體對(duì)這一過(guò)程的影響。影響熒光壽命成像測(cè)量的因素：高濃度樣品，高濃度的分子之間相互作用而發(fā)生活性阻礙現(xiàn)象。北京動(dòng)物熒光壽命成像費(fèi)用

為什么說(shuō)熒光壽命成像FLIM相比于熒光強(qiáng)度成像更有優(yōu)勢(shì)？通過(guò)熒光強(qiáng)度成像可以獲得熒光分子的空間分布，較為直接和簡(jiǎn)便，但是當(dāng)熒光分子具有相似的頻譜特性，或是同樣的熒光分子在不同環(huán)境下時(shí)，依賴強(qiáng)度進(jìn)行成像的方案便無(wú)法準(zhǔn)確反映信息。與基于光強(qiáng)的成像方式不同，熒光壽命成像FLIM適用于測(cè)量熒光分子環(huán)境的變化，或是測(cè)量分子的運(yùn)動(dòng)情況。其結(jié)果與熒光分子濃度無(wú)關(guān)，且不受影響光強(qiáng)的光散射或是光吸收影響，可以精確測(cè)量熒光淬滅過(guò)程，對(duì)生物分子微環(huán)境進(jìn)行定量測(cè)量。熒光壽命成像可以用于無(wú)法控制局部探針濃度的熒光顯微鏡中。遼寧顯微熒光壽命成像好不好熒光壽命成像特別適用于新材料、光子學(xué)、光伏、光催化、生物材料的原理探究和設(shè)計(jì)優(yōu)化。

分子的熒光壽命在幾納秒至幾百納秒之間，因此，測(cè)量熒光壽命成像需要極快響應(yīng)時(shí)間的探測(cè)器。如今主要存在兩類方案：一是時(shí)域測(cè)量，由一束窄脈沖將熒光分子激發(fā)至較高能態(tài)S1，接著測(cè)量熒光的發(fā)射幾率隨時(shí)間的變化。典型的時(shí)域測(cè)量方法有TCSPC和時(shí)間門（TG）兩種。TCSPC利用快速秒表測(cè)量激發(fā)脈沖與探測(cè)熒光之間的時(shí)間差。使用高重復(fù)脈沖激發(fā)光激發(fā)樣品，在每一個(gè)脈沖周期內(nèi)，較多激發(fā)熒光分子發(fā)出一個(gè)光子，然后記錄光子出現(xiàn)的時(shí)刻，并在該時(shí)刻記錄一個(gè)光子，再下一個(gè)脈沖周期內(nèi)也是相同的情況，經(jīng)過(guò)多次計(jì)數(shù)可以得到熒光光子隨時(shí)間的分布曲線。相似的，TG則探測(cè)不同時(shí)間窗口內(nèi)的熒光強(qiáng)度，通過(guò)曲線擬合得到熒光壽命。二是頻域測(cè)量，對(duì)連續(xù)激發(fā)光進(jìn)行振幅調(diào)制后，分子發(fā)出的熒光強(qiáng)度也會(huì)受到振幅調(diào)制，兩個(gè)調(diào)制信號(hào)之間存在與熒光壽命相關(guān)的相位差，因此可以測(cè)量該相位差計(jì)算熒光壽命。

影響熒光壽命成像測(cè)量的因素有哪些？溫度影響：一般說(shuō)來(lái)，熒光隨溫度升高而強(qiáng)度減弱，溫度升高1℃，熒光強(qiáng)度下降1～10%不等。測(cè)定時(shí)，溫度必須保持恒定。PH值影響：PH 值影響物質(zhì)的熒光，應(yīng)選擇較佳PH制備樣品。光分解對(duì)熒光測(cè)定的影響： 熒光物質(zhì)吸收紫外可見光后，發(fā)生光化學(xué)反應(yīng)，導(dǎo)致熒光強(qiáng)度下降。因此，熒光分析要采用高靈敏度的檢測(cè)器，而不是用增強(qiáng)光源來(lái)提高靈敏度。測(cè)定時(shí)，用較窄的激發(fā)光部分的狹縫，以減弱激發(fā)光。同時(shí)，用較寬的發(fā)射狹縫引導(dǎo)熒光。熒光分析應(yīng)盡量在暗環(huán)境中進(jìn)行。熒光壽命成像這種技術(shù)相對(duì)較新，涉及到同時(shí)在圖像的每個(gè)像素處確定熒光衰減時(shí)間的空間分布。熒光壽命可以在頻域或者時(shí)間域測(cè)量。

熒光壽命成像可以干什么？熒光壽命成像圖像中每一個(gè)像素點(diǎn)在phasor圖上都有一個(gè)對(duì)應(yīng)的點(diǎn)。因此我們可以獲取每個(gè)像素點(diǎn)的壽命信息，也可以獲知每一壽命所對(duì)應(yīng)的圖像區(qū)域。熒光壽命成像可以提供熒光強(qiáng)度（光子數(shù)）和光子壽命的空間分布，具有200 nm的空間分辨率和皮秒量級(jí)的時(shí)間分辨率。通過(guò)雙光子激發(fā)（結(jié)合飛秒脈沖和共焦顯微鏡）可以直接檢測(cè)熒光和時(shí)間分辨的熒光壽命。這種無(wú)損檢測(cè)技術(shù)，無(wú)需解剖或?qū)ｉT制造分層樣品，不但可在樣品表面，還可在樣品表面以下實(shí)現(xiàn)深度解析測(cè)量。特別適用于新材料、光子學(xué)、光伏、光催化、生物材料、納米材料和納米復(fù)合材料以及其相關(guān)的原理探究和設(shè)計(jì)優(yōu)化。熒光壽命對(duì)依賴于熒光團(tuán)結(jié)構(gòu)的內(nèi)部因素敏感。北京動(dòng)物熒光壽命成像費(fèi)用

熒光壽命不受熒光探針的濃度的影響，可排除納米材料的胞吐分化導(dǎo)致的納米顆粒的稀釋等對(duì)測(cè)量的影響。北京動(dòng)物熒光壽命成像費(fèi)用

熒光壽命是指分子受到光脈沖激發(fā)后返回基態(tài)之前在激發(fā)平均停留的時(shí)間，處于激發(fā)態(tài)的熒光分子在從激發(fā)到基態(tài)的過(guò)程中發(fā)射熒光釋放能量。熒光壽命取決于熒光分子所處的微環(huán)境，通過(guò)對(duì)樣品熒光壽命的測(cè)量和成像可以定量獲取樣品的功能信息。熒光壽命成像技術(shù)有兩種：時(shí)間域和頻率域。（1）時(shí)域FLIM：需要脈沖光源，所以一般在雙光子的系統(tǒng)上比較常見FLIM（熒光壽命成像Fluorescence Life-time imaging Microcopy簡(jiǎn)稱FLIM）。（2）頻域FLIM：需要一個(gè)相位調(diào)制的光源，有用LED調(diào)制的， FLIM對(duì)很多研究都有幫助，以下為熒光壽命成像FLIM的應(yīng)用：1）細(xì)胞體自身熒光壽命分析；2）自身熒光相對(duì)熒光標(biāo)記的有效區(qū)分；3）具有相同頻譜性質(zhì)的不同熒光標(biāo)記的區(qū)分；4）活細(xì)胞內(nèi)水介質(zhì)的PH值測(cè)量；5）局部氧氣濃度測(cè)量；6）活細(xì)胞內(nèi)鈣濃度測(cè)量；7）時(shí)間分辨Forster共振能量轉(zhuǎn)移（FRET）：納米級(jí)尺度上的遠(yuǎn)程測(cè)量，環(huán)境敏感的FRET探針定量測(cè)量。北京動(dòng)物熒光壽命成像費(fèi)用

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