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遼寧分子熒光壽命成像批發(fā)

來源: 發(fā)布時間:2022-06-05

與熒光光譜一樣,熒光壽命也是熒光物質(zhì)的一種內(nèi)在特有性質(zhì),不受熒光物質(zhì)濃度、激發(fā)光強度等因素的影響。熒光壽命成像能在不受熒光強度影響因素影響的條件下,在納米分辨率水平對蛋白互作進行研究,或者通過 FRET 探針研究分子環(huán)境變化,更重要的是其測量數(shù)據(jù)準確性高、易重復(fù)。通過熒光壽命成像還可以對樣本所處的微環(huán)境進行檢測、對樣品組份進行分離等等。在傳統(tǒng)的熒光強度和熒光光譜兩個維度的基礎(chǔ)上,又增加了熒光壽命這一新的成像維度,大幅度拓展了該系統(tǒng)的應(yīng)用范圍。在種類繁多的顯微技術(shù)中,熒光壽命顯微成像技術(shù)被普遍地應(yīng)用于生物學研究及臨床診斷等領(lǐng)域。遼寧分子熒光壽命成像批發(fā)

熒光壽命成像分析:熒光壽命是用于幾種生物測定的穩(wěn)健參數(shù)。它有可能替代傳統(tǒng)的測量技術(shù),如吸收法、冷光法或熒光強度法3。熒光團物理化學環(huán)境的任何變化都會導(dǎo)致熒光壽命的改變??赏ㄟ^各種機制來研發(fā)基于壽命的分析,例如簡單的結(jié)合測定,涉及到兩個組分的結(jié)合(一個被熒光標記)而引起FLT的變化。另一種機制是猝滅釋放型測定,涉及大量過量存在的猝滅物質(zhì),其具有低而有限的熒光。一旦熒光化合物被釋放(通過酶促反應(yīng)或與互補DNA結(jié)合),系統(tǒng)的壽命就會改變。FLT可與FRET(熒光共振能量轉(zhuǎn)移)分析結(jié)合用于能量轉(zhuǎn)移效率測量。珠海三維熒光壽命成像價錢熒光壽命成像的發(fā)展很好地彌補了基于強度成像的問題,對生物醫(yī)學檢測有著重要的意義。

熒光壽命成像技術(shù)有兩種:時間域和頻率域。(1)時域FLIM:需要脈沖光源,所以一般在雙光子的系統(tǒng)上比較常見FLIM(熒光壽命成像Fluorescence Life-time imaging Microcopy簡稱FLIM),理由一是激光是脈沖的,二是買雙光子的老師一般也搭配一個FLIM。(2)頻域FLIM:需要一個相位調(diào)制的光源,有用LED調(diào)制的。熒光壽命成像FLIM的應(yīng)用:1)細胞體自身熒光壽命分析;2)自身熒光相對熒光標記的有效區(qū)分;3)具有相同頻譜性質(zhì)的不同熒光標記的區(qū)分;4)活細胞內(nèi)水介質(zhì)的PH值測量;5)局部氧氣濃度測量;6)活細胞內(nèi)鈣濃度測量;7)時間分辨Forster共振能量轉(zhuǎn)移(FRET):納米級尺度上的遠程測量,環(huán)境敏感的FRET探針定量測量。

熒光壽命成像是什么?如果分子環(huán)境刺激激發(fā)態(tài)衰變而不發(fā)射光子,則熒光強度會降低(淬滅)。熒光淬滅是一條單獨的發(fā)射路徑,因此在動力學上與熒光過程形成競爭關(guān)系。激發(fā)態(tài)存儲現(xiàn)在可以通過一個以上的過程衰變,從而縮短熒光壽命。這種壽命的改變可用于收集分子環(huán)境的信息。一種特殊類型的淬滅是將激發(fā)能量以非輻射的方式傳遞到相鄰的不同熒光染料中:“熒光共振能量轉(zhuǎn)移”,F(xiàn)RET。此時,不只第1個熒光染料(供體)變暗,壽命變短,而且第二個熒光染料(受體)在“錯誤的”激發(fā)顏色下開始發(fā)光。由于這種效果的產(chǎn)生需要兩種熒光染料(小于10 nm)的密切接觸,因此將其用作研究分子相互作用的“分子標尺”。它也是許多現(xiàn)代FRET生物傳感器的基礎(chǔ)。熒光壽命成像不受光漂白的影響。

熒光壽命成像在生物醫(yī)學研究和臨床診斷應(yīng)用中的許多場合都對多光譜分辨提出特殊要求,如在FRET測量中,要求能同時測量供體和受體的熒光強度隨時間的衰減,多光譜分辨的熒光壽命成像提供了一種新的定量研究手段.目前,基于門控像增強器的多光譜寬場FLIM 技術(shù)一次只能獲得至多兩個譜段的熒光壽命圖像,而基于TCSPC的多光譜分辨FLIM的成像速度又很低,這些都限制了其應(yīng)用范圍.目前的一個研究方向是,發(fā)展光譜分辨率高、成像速度快、價格低廉的多光譜分辨熒光壽命成像顯微技術(shù)。將熒光壽命成像與共聚焦成像技術(shù)結(jié)合起來,實現(xiàn)人體三維熒光壽命成像,實現(xiàn)人體三維功能成像奠定基礎(chǔ)。浙江單分子熒光壽命成像操作步驟

熒光壽命可以在頻域或者時間域測量。遼寧分子熒光壽命成像批發(fā)

熒光壽命成像中的熒光壽命及其含義:假定一個無限窄的脈沖光(δ函數(shù))激發(fā)n0個熒光分子到其激發(fā)態(tài),處于激發(fā)態(tài)的分子將通過輻射或非輻射躍遷返回基態(tài)。假定兩種衰減躍遷速率分別為Γ和knr,則激發(fā)態(tài)衰減速率可表示為:其中n(t)表示時間t時激發(fā)態(tài)分子的數(shù)目,由此可得到激發(fā)態(tài)物種的單指數(shù)衰減方程。熒光壽命定義為衰減總速率的倒數(shù):熒光強度正比于衰減的激發(fā)態(tài)分子數(shù),因此可將上式改寫為:其中I0是時間為零時的熒光強度,τ為熒光壽命。也就是說熒光強度衰減到初始強度的1/e時所需要的時間就是該熒光物種在測定條件下的熒光壽命。實際上用熒光強度的對數(shù)對時間作圖,直線斜率即為熒光壽命倒數(shù)的負值。熒光壽命也可以理解為熒光物種在激發(fā)態(tài)的統(tǒng)計平均停留時間。事實上當熒光物質(zhì)被激發(fā)后有些激發(fā)態(tài)分子立即返回基態(tài),有的甚至可以延遲到5倍于熒光壽命時才返回基態(tài),這樣就形成了實驗測定的熒光強度衰減曲線。遼寧分子熒光壽命成像批發(fā)

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